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電子發燒友網>模擬技術>Al2O3/AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件結構與特性

Al2O3/AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件結構與特性

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2023-01-30 14:17:44556

氮化鎵E-HEMT器件在反激快充應用中的測試對比

,而特性更具有優勢,因此電源廠商均計劃導入GaN器件來實現下一代電源系統的迭代,在30W-100W的適配器應用中,QR反激因成本優勢,占據了國內市場的半壁江山。基于GaN器件的QR反激,有助于減小開關損耗,可用于提高開關頻率,增加功率密度。
2023-02-02 17:20:25836

用熱反射測溫技術測量GaN HEMT的瞬態溫度

第三代半導體器件CaN高電子遷移率晶體管(HEMT)具備較高的功率密度,同時具有較強的自熱效應,在大功率工作條件下會產生較高的結溫。根據半導體器件可靠性理論,器件的工作溫度、性能及可靠性有著極為密切的聯系,因此準確檢測GaN HEMT的溫度就顯得極為重要。
2023-02-13 09:27:521084

絕緣柵HEMT器件界面固定電荷分析

的平帶電壓解析模型,然后考慮柵絕緣層和勢壘層界面電荷對兩個模型進行對比,提取出了MIS-HEMT和MOS-HEMT兩種器件的有效界面電荷密度。
2023-02-13 09:33:581173

AIN/AIGaN/GaN MIS異質結構C-V分析

C-V測試是研究絕緣柵HEMT器件性能的重要方法,采用Keithley 4200半導體表征系統的CVU模塊測量了肖特基柵和絕緣柵異質結構的C-V特性
2023-02-14 09:17:15943

AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件直流特性

關態漏電是制約HEMT器件性能提升的重要因素之一,采用絕緣柵HEMT器件結構可以有效減小器件關態漏電。圖1給出了S-HEMTMIS-HEMT、MOS-HEMT三種器件結構的關態柵漏電曲線,漏極電壓Vd設定在0V,反向柵極電壓從0V掃描至-10V,正向柵電壓掃描至5V。
2023-02-14 09:18:541887

AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

絕緣柵和肖特基柵HEMT器件結構如圖1所示, AlGaN/GaN異質結采用MOCVD技術在2英寸c面藍寶石襯底上外延得到,由下往上依次為180nm高溫AlN成核層、13μm非摻雜GaN緩沖層、1nm AlN界面插入層、22nm AlGaN勢壘層、及2nm GaN帽層,勢壘層鋁組分設定為30%。
2023-02-14 09:31:161496

氮化鋁AIN導熱界面填料和陶瓷電路板性能

配對;Beo盡管具備出色的綜合型能,但是其具有很高的產品成本和有毒的缺陷限制它項目研究。因此不論是特性、成本費、環保規定方面來講AL2O3和Beo陶瓷早已無法滿足電子器件電力電子器件發展和要求了,取代
2023-02-16 14:44:57924

一款GaN HEMT內匹配功率放大器設計過程詳解

一款GaN HEMT內匹配功率放大器設計過程詳解 張書源,鐘世昌 發表于 2020-01-22 16:55:00 模擬技術 +關注 0 引言 近年來,寬禁帶材料與微波功率器件發展非常迅猛。GaN材料
2023-02-17 09:52:430

GaN HEMT外延材料表征技術研究進展

氮化鎵 ( GaN) 作為第三代半導體材料的典型代表,具有高擊穿電場強度和高熱導率 等優異的物理特性,是制作高頻微波器件和大功率電力電子器件的理想材料。GaN 外延材料的 質量決定了高電子遷移率
2023-02-20 11:47:22876

氧化鋁陶瓷基板的晶體結構、分類及性能

氧化鋁有許多同質異晶體,例如α-Al2o3、β-Al2o3、γ-Al2o3等,其中以α-Al2o3的穩定性較高,其晶體結構緊密、物理性能與化學性能穩定,具有密度與機械強度較高的優勢,在工業中的應用也較多。
2023-03-30 14:10:221079

絕緣柵Si基GaN平面器件關鍵工藝

傳統GaN-on-Si功率器件歐姆接觸主要采用Ti/Al/X/Au多層金屬體系,其中X金屬可為Ni,Mo,PT,Ti等。這種傳統有Au歐姆接觸通常采用高溫退火工藝(>800℃),第1層Ti在常溫下
2023-04-29 16:46:00735

絕緣柵GaN基平面功率開關器件技術

GaN基功率開關器件能實現優異的電能轉換效率和工作頻率,得益于平面型AlGaN/GaN異質結構中高濃度、高遷移率的二維電子氣(2DEG)。圖1示出絕緣柵GaN基平面功率開關的核心器件增強型AlGaN/GaN MIS/MOS-HEMT的基本結構
2023-04-29 16:50:00793

GaN HEMT大信號模型

GaN HEMT 為功率放大器設計者提供了對 LDMOS、GaAs 和 SiC 技術的許多改進。更有利的特性包括高電壓操作、高擊穿電壓、功率密度高達 8W/mm、fT 高達 25 GHz 和低靜態
2023-05-24 09:40:011375

GaN HEMT工藝全流程

GaN HEMT(高電子遷移率晶體管:High Electron Mobility Transistor)是新一代功率半導體,具有低工作電阻和高抗損性,有望應用于大功率和高頻電子設備。
2023-05-25 15:14:061222

GaN單晶襯底顯著改善HEMT器件電流崩塌效應

最重要的器件之一,在功率器件和射頻器件領域擁有廣泛的應用前景。HEMT器件通常是在硅(Si)、藍寶石(Al2O3)、碳化硅(SiC)等異質襯底上通過金屬有機氣象外延(MOCVD)進行外延制備。由于異質
2023-06-14 14:00:551654

實測干貨分享!1200V GaN HEMT功率器件動態特性測試

速度,能夠顯著提升功率變換器的性能,受到電源工程師的青睞。同時,極快的開關速度又對其動態特性的測試提出了更高的要求,稍有不慎就會得到錯誤結果。 為了能夠實現對GaN HEMT功率器件動態特性進行精準測試,對應的測試系統往往需要 注意以下幾
2023-07-17 18:45:02711

基于AIGaN/GaN結構的氣敏傳感器對于CO的傳感性

摘要:研究了基于AlGaN/GaN結構的氣敏傳感器對于CO的傳感性.制備出AlGaN/GaN型氣敏傳感器器件,并測試得到了器件在50℃時對于不同濃度(1%,9000,8000,5000
2023-09-01 16:22:490

氮化鎵功率器件的工藝技術說明

氮化鎵功率器件與硅基功率器件特性不同本質是外延結構的不同,本文通過深入對比氮化鎵HEMT與硅基MOS管的外延結構
2023-09-19 14:50:342704

AlGaN/GaN結構的氧基數字蝕刻

寬帶隙GaN基高電子遷移率晶體管(HEMTs)和場效應晶體管(fet)能夠提供比傳統Si基高功率器件更高的擊穿電壓和電子遷移率。常關GaN非常需要HEMT來降低功率并簡化電路和系統架構,這是GaN HEMT技術的主要挑戰之一。凹進的AlGaN/GaN結構是實現常關操作的有用選擇之一。
2023-10-10 16:21:11293

GaN HEMT器件結構解析

了很多關注,由寬禁帶半導體所制備的功率器件可作為具有低導通電阻的高壓開關,可以取代硅功率器件。此外,寬禁帶異質結場效應晶體管具有較高的載流子密度和二維電子氣通道,以及較大的臨界電場強度等物理特性,其中的氮化鎵 (Gallium Nitride, GaN)已被認為可制備極佳的功率開關。
2023-11-09 11:26:43439

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件? GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)是一種迅速嶄露頭角的高頻功率器件,具有很高的電子遷移率、大的電子飽和漂移速度、高的飽和電子流動速度以及較低的電阻
2023-12-07 17:27:20337

微波GaN HEMT 技術面臨的挑戰

報告內容包含: 微帶WBG MMIC工藝 GaN HEMT 結構的生長 GaN HEMT 技術面臨的挑戰
2023-12-14 11:06:58178

氮化鎵功率器件結構和原理

氮化鎵功率器件是一種新型的高頻高功率微波器件,具有廣闊的應用前景。本文將詳細介紹氮化鎵功率器件結構和原理。 一、氮化鎵功率器件結構 氮化鎵功率器件的主要結構GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率
2024-01-09 18:06:41667

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