作為半導體材料“霸主“的Si,其性能似乎已經發展到了一個極限,而此時以SiC和GaN為主的寬禁帶半導體經過一段時間的積累也正在變得很普及。
2020-09-11 10:51:1010918 本文作為系列文章的第三篇,會從SiC MOS寄生電容損耗與傳統Si MOS作比較,給出分析和計算過程,供設計工程師在選擇功率開關器件時參考!
2022-07-06 18:10:021885 碳化硅 (SiC) MOSFET 和氮化鎵 (GaN) HEMT 等寬帶隙 (WBG) 功率器件的采??用目前正在廣泛的細分市場中全面推進。在許多情況下,WBG 功率器件正在取代它們的硅對應物,并在
2022-07-29 14:09:53807 SiC(碳化硅)是一種由硅(Si)和碳(C)組成的化合物半導體材料。表1-1顯示了每種半導體材料的電氣特性。SiC具有優異的介電擊穿場強(擊穿場)和帶隙(能隙),分別是Si的10倍和3倍。此外,可以
2022-11-22 09:59:261373 超結(SJ)硅MOSFET自1990年代后期首次商業化用于功率器件應用領域以來,在400–900V功率轉換電壓范圍內取得了巨大成功。參考寬帶隙(WBG)、碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)功率器件,我們將在本文中重點介紹其一些性能特性和應用空間。
2023-06-08 09:33:241389 Teledyne e2v HiRel為其基于GaN Systems技術的650伏行業領先高功率產品系列新增兩款耐用型GaN功率HEMT(高電子遷移率晶體管)。 這兩款全新大功率HEMT
2021-01-09 11:14:212799 GaN 和 SiC 器件在某些方面相似,但有顯著差異。
2021-11-17 09:06:184236 電子發燒友網報道(文/梁浩斌)在我們談論第三代半導體的時候,常說的碳化硅功率器件一般是指代SiC MOSFET(金屬-氧化物半導體場效應晶體管),而氮化鎵功率器件最普遍的則是GaN HEMT(高電子
2023-12-27 09:11:361220 開關速度比硅功率晶體管快。此功能與GaN HEMT的小尺寸相結合,使該器件具有更高的能源效率,同時為外部組件創造了更多空間。這些設備還可以在更高的電壓下運行。簡化的GaN HEMT結構。屏幕截圖由
2020-09-23 10:46:20
電機設計中對于GaN HEMT的使用GaN HEMT的電氣特性使得工程師們選擇它來設計更加緊湊、承受高壓和高頻的電動機,綜上所述這類器件有如下優點:較高的擊穿電壓,允許使用更高(大于1000V
2019-07-16 00:27:49
半導體材料可實現比硅基表親更小,更快,更可靠的器件,并具有更高的效率,這些功能使得在各種電源應用中減少重量,體積和生命周期成本成為可能。 Si,SiC和GaN器件的擊穿電壓和導通電阻。 Si,SiC
2022-08-12 09:42:07
材料在制作耐高溫的微波大功率器件方面也極具優勢。筆者從材料的角度分析了GaN 適用于微波器件制造的原因,介紹了幾種GaN 基微波器件最新研究動態,對GaN 調制摻雜場效應晶體管(MODFETs)的工作原理以及特性進行了具體分析,并同其他微波器件進行了比較,展示了其在微波高功率應用方面的巨大潛力。
2019-06-25 07:41:00
半導體相比,損耗更低,高溫環境條件下工作特性優異,有望成為新一代低損耗元件的“碳化硅(SiC)功率元器件”。提及功率元器件,人們當然關注SiC之類的新材料,但是,目前占有極大市場份額和應用領域的Si功率
2018-11-28 14:34:33
基于碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等寬帶隙(WBG)半導體的新型高效率、超快速功率轉換器已經開始在各種創新市場和應用領域攻城略地——這類應用包括太陽能光伏逆變器、能源存儲、車輛電氣化(如充電器
2019-07-31 06:16:52
1. 器件結構和特征SiC能夠以高頻器件結構的SBD(肖特基勢壘二極管)結構得到600V以上的高耐壓二極管(Si的SBD最高耐壓為200V左右)。因此,如果用SiC-SBD替換現在主流產品快速PN結
2019-03-14 06:20:14
1. 器件結構和特征SiC能夠以高頻器件結構的SBD(肖特基勢壘二極管)結構得到600V以上的高耐壓二極管(Si的SBD最高耐壓為200V左右)。因此,如果用SiC-SBD替換現在主流產品快速PN結
2019-04-22 06:20:22
另一方面,按照現在的技術水平,SiC-MOSFET的MOS溝道部分的遷移率比較低,所以溝道部的阻抗比Si器件要高。 因此,越高的門極電壓,可以得到越低的導通電阻(VCS=20V以上則逐漸飽和)。 如果
2023-02-07 16:40:49
從本文開始,將逐一進行SiC-MOSFET與其他功率晶體管的比較。本文將介紹與Si-MOSFET的區別。尚未使用過SiC-MOSFET的人,與其詳細研究每個參數,不如先弄清楚驅動方法等
2018-11-30 11:34:24
”)應用越來越廣泛。關于SiC-MOSFET,這里給出了DMOS結構,不過目前ROHM已經開始量產特性更優異的溝槽式結構的SiC-MOSFET。具體情況計劃后續進行介紹。在特征方面,Si-DMOS存在
2018-11-30 11:35:30
另一方面,按照現在的技術水平,SiC-MOSFET的MOS溝道部分的遷移率比較低,所以溝道部的阻抗比Si器件要高。因此,越高的門極電壓,可以得到越低的導通電阻(VCS=20V以上則逐漸飽和)。如果
2019-04-09 04:58:00
面對SiC-SBD和Si-PND的特征進行了比較。接下來比較SiC-SBD和Si-PND的反向恢復特性。反向恢復特性是二極管、特別是高速型二極管的基本且重要的參數,所以不僅要比較trr的數值,還要
2018-11-29 14:34:32
前面對SiC-SBD和Si-PND的反向恢復特性進行了比較。下面對二極管最基本的特性–正向電壓VF特性的區別進行說明。SiC-SBD和Si-PND正向電壓特性的區別二極管的正向電壓VF無限接近零
2018-11-30 11:52:08
繼SiC功率元器件的概述之后,將針對具體的元器件進行介紹。首先從SiC肖特基勢壘二極管開始。SiC肖特基勢壘二極管和Si肖特基勢壘二極管下面從SiC肖特基勢壘二極管(以下簡稱“SBD”)的結構開始
2018-11-29 14:35:50
基于SiC/GaN的新一代高密度功率轉換器SiC/GaN具有的優勢
2021-03-10 08:26:03
Gallinaro驅動 SiC/GaN 功率開關需要設計一個完整的 IC 生態系統,這些 IC經過精密調整,彼此配合。設計重點不再只是以開關為中心,必須 加以擴大。應用的工作頻率、效率要求和拓撲結構的復雜性
2018-10-30 11:48:08
另一方面,按照現在的技術水平,SiC-MOSFET的MOS溝道部分的遷移率比較低,所以溝道部的阻抗比Si器件要高。因此,越高的門極電壓,可以得到越低的導通電阻(VCS=20V以上則逐漸飽和)。如果
2019-05-07 06:21:55
1. SiC材料的物性和特征SiC(碳化硅)是一種由Si(硅)和C(碳)構成的化合物半導體材料。不僅絕緣擊穿場強是Si的10倍,帶隙是Si的3倍,而且在器件制作時可以在較寬范圍內控制必要的p型、n型
2019-07-23 04:20:21
1. SiC模塊的特征大電流功率模塊中廣泛采用的主要是由Si材料的IGBT和FRD組成的IGBT模塊。ROHM在世界上首次開始出售搭載了SiC-MOSFET和SiC-SBD的功率模塊。由IGBT的尾
2019-05-06 09:15:52
前面對SiC的物理特性和SiC功率元器件的特征進行了介紹。SiC功率元器件具有優于Si功率元器件的更高耐壓、更低導通電阻、可更高速工作,且可在更高溫條件下工作。接下來將針對SiC的開發背景和具體優點
2018-11-29 14:35:23
勢壘接觸結構基本相同,電流通過多數載流子的移動而流動。之所以SiC-SBD的厚度看起來較薄,是因為如前所述,確保耐壓所需的膜厚較薄,因此可實現更低阻值。Si-PND由p型硅和n型硅的結結構組成,多數
2018-12-03 15:12:02
`Cree的CGHV96100F2是氮化鎵(GaN)高電子遷移率晶體管(HEMT)在碳化硅(SiC)基板上。 該GaN內部匹配(IM)FET與其他技術相比,具有出色的功率附加效率。 氮化鎵與硅或砷化
2020-12-03 11:49:15
Qorvo 的 T2G6001528-Q3 是 15 W (P3dB) 寬帶無與倫比的分立式 GaN on SiC HEMT,可在直流至 6 GHz 和 28V 電源軌范圍內運行。該器件采用行業標準
2021-08-04 11:50:58
失效模式等。項目計劃①根據文檔,快速認識評估板的電路結構和功能;②準備元器件,相同耐壓的Si-MOSFET和業內3家SiC-MOSFET③項目開展,按時間計劃實施,④項目調試,優化,比較,分享。預計成果分享項目的開展,實施,結果過程,展示項目結果
2020-04-24 18:09:12
方形,通過兩個晶格常數(圖中標記為a 和c)來表征。GaN 晶體結構在半導體領域,GaN 通常是高溫下(約為1,100°C)在異質基板(射頻應用中為碳化硅[SiC],電源電子應用中為硅[Si])上通過
2019-08-01 07:24:28
元件來適應略微增加的開關頻率,但由于無功能量循環而增加傳導損耗[2]。因此,開關模式電源一直是向更高效率和高功率密度設計演進的關鍵驅動力。 基于 SiC 和 GaN 的功率半導體器件 碳化硅
2023-02-21 16:01:16
傳統的硅組件、碳化硅(Sic)和氮化鎵(GaN)伴隨著第三代半導體電力電子器件的誕生,以碳化硅(Sic)和氮化鎵(GaN)為代表的新型半導體材料走入了我們的視野。SiC和GaN電力電子器件由于本身
2021-09-23 15:02:11
關于SiC-SBD,前面介紹了其特性、與Si二極管的比較、及當前可供應的產品。本篇將匯總之前的內容,并探討SiC-SBD的優勢。SiC-SBD、Si?SBD、Si-PND的特征SiC-SBD為形成
2018-11-29 14:33:47
目前傳統硅半導體器件的性能已逐漸接近其理論極限, 即使采用最新的硅器件和軟開關拓撲,效率在開關頻率超過 250 kHz 時也會受到影響。 而增強型氮化鎵晶體管 GaN HEMT(gallium
2023-09-18 07:27:50
在過去的十多年里,行業專家和分析人士一直在預測,基于氮化鎵(GaN)功率開關器件的黃金時期即將到來。與應用廣泛的MOSFET硅功率器件相比,基于GaN的功率器件具有更高的效率和更強的功耗處理能力
2019-06-21 08:27:30
上海瞻芯該項專利中所提供的半導體結構和制備方法,相較于同種器件而言,其電場強度能夠大幅降低,提高了半導體器件柵氧化層的可靠性。同時柵漏之間的電容也被大幅降低,從而極大的減少了開關功率的損耗
2020-07-07 11:42:42
)③ SiC、GaN寬禁帶電力電子技術的機遇和挑戰 ④ 針對寬禁帶電力電子技術特性的封裝技術 ⑤ SiC、GaN器件與Si器件的對比(優勢、驅動上的區別、結構和成本的影響)五、活動報名電話:***微信:CampusXiaomeng`
2017-07-11 14:06:55
”是條必經之路。高效率、高性能的功率元器件的更新換代已經迫在眉睫。“功率元器件”廣泛分以下兩大類:一是以傳統的硅半導體為基礎的“硅(Si)功率元器件”。二是“碳化硅(SiC)功率元器件”,與Si半導體相比
2017-07-22 14:12:43
的選擇和比較進行了分析。考慮了晶體管參數,如與時間相關的輸出有效電容(Co(tr))和關斷能量(Eoff)等,這會影響LLC轉換器的高性能成就。還分析了基于GaN、Si和SiC MOS的3KW 48V
2023-02-27 09:37:29
結構SiC-MOSFET的量產。這就是ROHM的第三代SiC-MOSFET。溝槽結構在Si-MOSFET中已被廣為采用,在SiC-MOSFET中由于溝槽結構有利于降低導通電阻也備受關注。然而,普通的單
2018-12-05 10:04:41
SiC-MOSFET 是碳化硅電力電子器件研究中最受關注的器件。成果比較突出的就是美國的Cree公司和日本的ROHM公司。在國內雖有幾家在持續投入,但還處于開發階段, 且技術尚不完全成熟。從國內
2019-09-17 09:05:05
1. 器件結構和特征SiC能夠以高頻器件結構的SBD(肖特基勢壘二極管)結構得到600V以上的高耐壓二極管(Si的SBD最高耐壓為200V左右)。因此,如果用SiC-SBD替換現在主流產品快速PN結
2019-05-07 06:21:51
穩定的化合物,具有強的原子鍵、高的熱導率、在Ⅲ-Ⅴ族化合物中電離度是最高的、化學穩定性好,使得GaN 器件比Si 和GaAs 有更強抗輻照能力,同時GaN又是高熔點材料,熱傳導率高,GaN功率器件通常
2019-04-13 22:28:48
(SiC)、氮鎵(GaN)為代表的寬禁帶功率管過渡。SiC、GaN材料,由于具有寬帶隙、高飽和漂移速度、高臨界擊穿電場等突出優點,與剛石等半導體材料一起,被譽為是繼第一代Ge、Si半導體材料、第二代GaAs
2017-06-16 10:37:22
本文描述了ROHM推出的SiC-SBD其特性、與Si二極管的比較、及當前可供應的產品,并探討SiC-SBD的優勢。ROHM的SiC-SBD已經發展到第3代。第3代產品的抗浪涌電流特性與漏電流特性得到
2019-07-10 04:20:13
30 GHz由GaN PA和其他GaAs功能器件塑封形成的2W集成前端模塊。 通過使用包括陷阱和熱效應以及測量結果的精確非線性FET模型,保證了電路設計的成功。將負載牽引測量與仿真結果進行比較驗證了
2020-12-21 07:09:34
100 kW的1500 VDC電站級串式逆變器將占有90%以上的市場份額。它們代表了采用創新多電平拓撲結構的新型高密度SiC/GaN功率開關的測試基準。電動汽車 (EV) 和儲能系統 (ESS) 等顛覆性
2018-10-22 17:01:41
SIC是什么呢?相比于Si器件,SiC功率器件的優勢體現在哪些方面?電子發燒友網根據SIC器件和SI器件的比較向大家講述了兩者在性能上的不同。
2012-12-04 10:23:4411979 據權威媒體分析,SiC和GaN器件將大舉進入電力電子市場,預計到2020年,SiC和GaN功率器件將分別獲得14%和8%市場份額。未來電力電子元器件市場發展將更多地集中到SiC和GaN的技術創新上。
2013-09-18 10:13:112464 這篇文章的目的是提供一個指南,高功率SiC MESFET和GaN HEMT晶體管的熱性能的克里寬禁帶半導體設備的用戶。
2017-06-27 08:54:1123 1.GaN 功率管的發展微波功率器件近年來已經從硅雙極型晶體管、場效應管以及在移動通信領域被廣泛應用的LDMOS 管向以碳化硅(SiC)、氮鎵(GaN) 為代表的寬禁帶功率管過渡。SiC、GaN材料
2017-11-09 11:54:529 SiC(碳化硅)是一種由Si(硅)和C(碳)構成的化合物半導體材料。SiC臨界擊穿場強是Si的10倍,帶隙是Si的3倍,熱導率是Si的3倍,所以被認為是一種超越Si極限的功率器件材料。SiC中存在
2018-07-15 11:05:419257 SiC(碳化硅)是一種由Si(硅)和C(碳)構成的化合物半導體材料。SiC臨界擊穿場強是Si的10倍,帶隙是Si的3倍,熱導率是Si的3倍,所以被認為是一種超越Si極限的功率器件材料。SiC中存在
2018-09-29 09:08:008115 直到最近,功率模塊市場仍被硅(Si)絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)把持。需求的轉移和對更高性能的關注,使得這些傳統模塊不太適合大功率應用,這就帶來了 SiC 基功率器件的應運而生。
2019-11-08 11:41:5317040 碳化硅(SiC)是最成熟的WBG寬帶隙半導體材料, 它已經廣泛用于制造開關器件,例如MOSFET和晶閘管。氮化鎵(GaN)具有作為功率器件半導體的潛力,并且在射頻應用中是對硅的重大改進。
2020-04-30 14:35:3111724 作為半導體材料“霸主“的Si,其性能似乎已經發展到了一個極限,而此時以SiC和GaN為主的寬禁帶半導體經過一段時間的積累也正在變得很普及。所以,出現了以Si基器件為主導,SiC和GaN為"游擊"形式存在的局面。
2020-08-27 16:26:0010157 的AlGaN/GaN HEMT器件,沿Ga面方向外延生長的結構存在較強的極化效應,導致在AlGaN/GaN異質結界面處產生大量的二維電子氣(2DEG),且在零偏壓下肖特基柵極無法耗盡溝道中高濃度的二維電子氣。 當柵極電壓VGS=0時,HEMT溝道中仍有電流通過,需要在柵極施加負偏置耗盡柵極下二維電
2020-09-21 09:53:013557 在實際應用中,為實現失效安全的增強模式(E-mode)操作,科研人員廣泛研究了基于凹槽柵結構的MIS柵、p-GaN regrowth柵增強型GaN HEMT器件。在實際的器件制備過程中,精確控制柵極凹槽刻蝕深度、減小凹槽界面態密度直接影響器件閾值電壓均勻性
2020-10-09 14:18:508850 工程師于是感到非常困惑,GaN HEMT可以反向導通,那到底有還是沒有體二極管?
2021-03-15 09:41:078331 氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導體器件的代表,器件在高頻功率應用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場,如圖1所示。
2022-02-10 15:27:4318442 雖然乍一看似乎比較簡單,但這些器件的柵極驅動器電路需要仔細設計。首先,通常關閉的基于 GaN 的 HEMT 需要負電壓來將其關閉并將其保持在關閉狀態,從而避免意外開啟。
2022-07-29 09:27:171367 在基本半導體特性(帶隙、臨界電場和電子遷移率)的材料比較中,GaN 被證明是一種優異的材料。“Si 的帶隙略高于一個電子伏特,臨界電子場為 0.23 MV/cm,而 GaN 的電子遷移率和帶隙更寬
2022-08-03 08:04:292748 ,達 2,000 cm2/V·s 的 1.3 倍電子遷移率,這意味著與 RDS(ON) 和擊穿電壓相同的硅基器件相比,GaN RF 高電子遷移率晶體管(HEMT)的尺寸要小得多。因此,GaN RF HEMT 的應用超出了蜂窩基站和國防雷達范疇,在所有 RF 細分市場中獲得應用。
2022-09-19 09:33:211670 氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導體器件的代表,器件在高頻功率應用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場,如圖1所示。
2022-09-27 10:30:173330 Wolfspeed的CG2H80060D是種氮化鎵(GaN)高電子遷移率晶體管(HEMT)。與硅或砷化鎵相比較,GaN具備優異的性能指標;CG2H80060D包含更高的擊穿場強;更高的飽和電子漂移
2022-11-01 09:29:51593 GaN功率HEMT設計+GaN寬帶功率放大器設計
2023-01-30 14:17:44556 1. 器件結構和特征 SiC能夠以高頻器件結構的SBD(肖特基勢壘二極管)結構得到600V以上的高耐壓二極管(Si的SBD最高耐壓為200V左右)。 因此,如果用SiC-SBD替換現在主流產品快速
2023-02-07 16:46:27501 繼SiC功率元器件的概述之后,將針對具體的元器件進行介紹。首先從SiC肖特基勢壘二極管開始。SiC肖特基勢壘二極管和Si肖特基勢壘二極管:下面從SiC肖特基勢壘二極管(以下簡稱“SBD”)的結構開始介紹。
2023-02-08 13:43:17612 二極管的正向電壓VF無限接近零、對溫度穩定是比較理想的,但事實是不是零、并會受溫度影響而變動。為了使大家了解SiC-SBD的VF特性,下面與Si-PND的FRD(快速恢復二極管)進行比較。
2023-02-08 13:43:18378 關于SiC-SBD,前面介紹了其特性、與Si二極管的比較、及當前可供應的產品。本篇將匯總之前的內容,并探討SiC-SBD的優勢。
2023-02-08 13:43:18705 第三代半導體器件CaN高電子遷移率晶體管(HEMT)具備較高的功率密度,同時具有較強的自熱效應,在大功率工作條件下會產生較高的結溫。根據半導體器件可靠性理論,器件的工作溫度、性能及可靠性有著極為密切的聯系,因此準確檢測GaN HEMT的溫度就顯得極為重要。
2023-02-13 09:27:521084 關態漏電是制約HEMT器件性能提升的重要因素之一,采用絕緣柵HEMT器件結構可以有效減小器件關態漏電。圖1給出了S-HEMT、MIS-HEMT、MOS-HEMT三種器件結構的關態柵漏電曲線,漏極電壓Vd設定在0V,反向柵極電壓從0V掃描至-10V,正向柵電壓掃描至5V。
2023-02-14 09:18:541887 絕緣柵和肖特基柵HEMT器件結構如圖1所示, AlGaN/GaN異質結采用MOCVD技術在2英寸c面藍寶石襯底上外延得到,由下往上依次為180nm高溫AlN成核層、13μm非摻雜GaN緩沖層、1nm AlN界面插入層、22nm AlGaN勢壘層、及2nm GaN帽層,勢壘層鋁組分設定為30%。
2023-02-14 09:31:161496 晶體管 ( HEMT) 的性能,不同材料特征的表征需要不同的測量工具和 技術,進而呈現器件性能的優劣。綜述了 GaN HEMT 外延材料的表征技術,詳細介紹了幾種表 征技術的應用場景和近年來國內外的相關
2023-02-20 11:47:22876 二極管的正向電壓VF無限接近零、對溫度穩定是比較理想的,但事實是不是零、并會受溫度影響而變動。為了使大家了解SiC-SBD的VF特性,下面與Si-PND的FRD(快速恢復二極管)進行比較。
2023-02-22 09:18:59140 碳化硅(SiC)器件是一種新興的技術,具有傳統硅所缺乏的多種特性。SiC具有比Si更寬的帶隙,允許更高的電壓阻斷,并使其適用于高功率和高電壓應用。此外,SiC還具有比Si更低的熱阻,這意味著它可以更有效地散熱,具有更高的可靠性。
2023-04-13 11:01:161469 由于 GaN 具有更小的晶體管、更短的電流路徑、超低的電阻和電容等優勢,GaN 充電器的運行速度,比傳統硅器件要快 100 倍。GaN 在電力電子領域主要優勢在于高效率、低損耗與高頻率,GaN 材料的這一特性令其在充電器行業大放異彩。
2023-04-25 15:08:212338 傳統GaN-on-Si功率器件歐姆接觸主要采用Ti/Al/X/Au多層金屬體系,其中X金屬可為Ni,Mo,PT,Ti等。這種傳統有Au歐姆接觸通常采用高溫退火工藝(>800℃),第1層Ti在常溫下
2023-04-29 16:46:00735 GaN基功率開關器件能實現優異的電能轉換效率和工作頻率,得益于平面型AlGaN/GaN異質結構中高濃度、高遷移率的二維電子氣(2DEG)。圖1示出絕緣柵GaN基平面功率開關的核心器件增強型AlGaN/GaN MIS/MOS-HEMT的基本結構。
2023-04-29 16:50:00793 GaN HEMT 為功率放大器設計者提供了對 LDMOS、GaAs 和 SiC 技術的許多改進。更有利的特性包括高電壓操作、高擊穿電壓、功率密度高達 8W/mm、fT 高達 25 GHz 和低靜態
2023-05-24 09:40:011375 GaN HEMT(高電子遷移率晶體管:High Electron Mobility Transistor)是新一代功率半導體,具有低工作電阻和高抗損性,有望應用于大功率和高頻電子設備。
2023-05-25 15:14:061222 最重要的器件之一,在功率器件和射頻器件領域擁有廣泛的應用前景。HEMT器件通常是在硅(Si)、藍寶石(Al2O3)、碳化硅(SiC)等異質襯底上通過金屬有機氣象外延(MOCVD)進行外延制備。由于異質
2023-06-14 14:00:551654 我們從SiC肖特基勢壘二極管(以下簡稱“SBD”)的結構開始介紹。如下圖所示,為了形成肖特基勢壘,將半導體SiC與金屬相接合(肖特基結)。結構與Si肖特基勢壘二極管基本相同,其重要特征也是具備高速特性。
2023-07-18 09:47:30236 SiC和GaN被稱為“寬帶隙半導體”(WBG),因為將這些材料的電子從價帶炸毀到導帶所需的能量:而在硅的情況下,該能量為1.1eV,SiC(碳化硅)為3.3eV,GaN(氮化鎵)為3.4eV。這導致了更高的適用擊穿電壓,在某些應用中可以達到1200-1700V。
2023-08-09 10:23:39431 一、什么是SiC半導體?1.SiC材料的物性和特征SiC(碳化硅)是一種由Si(硅)和C(碳)構成的化合物半導體材料。不僅絕緣擊穿場強是Si的10倍,帶隙是Si的3倍,而且在器件制作時可以在較寬
2023-08-21 17:14:581145 寬帶隙GaN基高電子遷移率晶體管(HEMTs)和場效應晶體管(fet)能夠提供比傳統Si基高功率器件更高的擊穿電壓和電子遷移率。常關GaN非常需要HEMT來降低功率并簡化電路和系統架構,這是GaN HEMT技術的主要挑戰之一。凹進的AlGaN/GaN結構是實現常關操作的有用選擇之一。
2023-10-10 16:21:11293 了很多關注,由寬禁帶半導體所制備的功率器件可作為具有低導通電阻的高壓開關,可以取代硅功率器件。此外,寬禁帶異質結場效應晶體管具有較高的載流子密度和二維電子氣通道,以及較大的臨界電場強度等物理特性,其中的氮化鎵 (Gallium Nitride, GaN)已被認為可制備極佳的功率開關。
2023-11-09 11:26:43439 GaN HEMT為什么不能做成低壓器件? GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)是一種迅速嶄露頭角的高頻功率器件,具有很高的電子遷移率、大的電子飽和漂移速度、高的飽和電子流動速度以及較低的電阻
2023-12-07 17:27:20337 報告內容包含:
微帶WBG MMIC工藝
GaN HEMT 結構的生長
GaN HEMT 技術面臨的挑戰
2023-12-14 11:06:58178 功率等級的功率轉換、更快的開關速度、傳熱效率上也優于硅材料。 本篇博客探討了SiC材料如何提升產品性能以超越基于硅材料的領域,從而為我們全新的數字世界創造下一代解決方案。 硅基MOSFET、碳化硅(SiC)MOSFET、氮化鎵(GaN)HEMT或
2023-12-21 10:55:02182 晶體管)結構。GaN HEMT由以下主要部分組成: 襯底:氮化鎵功率器件的襯底采用高熱導率的材料,如氮化硅(Si3N4),以提高器件的熱擴散率和散熱能力。 二維電子氣層:氮化鎵襯底上生長一層氮化鎵,形成二維電子氣層。GaN材料的禁帶寬度大,由于
2024-01-09 18:06:41667
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