本文定位光纖纖芯所使用的是方法是先找到光纖的整個(gè)包層，由于光纖包層的形狀是一個(gè)圓，而這個(gè)圓的圓心就是纖芯的中心了。光纖端面存在較大程度的污染的話，如果只是設(shè)置一定的閾值將圖像二值化，得到的二值圖像除了光纖包層外還可能會(huì)有很多臟污，這樣就會(huì)對(duì)光纖包層的定位產(chǎn)生很大的影響。所以二值化圖像后還需要使用視覺(jué)助手里的一些子函數(shù)模塊對(duì)圖像進(jìn)行一些形態(tài)學(xué)的處理，使用移除小顆粒(RemoveSmall Objeets)和移除大顆粒(Remove Large Objects)這兩種函數(shù)子模塊，調(diào)整迭代次數(shù)的大小，把比光纖包層小和比光纖包層大的顆粒都濾掉，從而除去對(duì)光纖包層定位的干擾，使得到的二值圖像里只有光纖包層的圖像，如圖3所示。

　　得到光纖包層的二值圖像后，利用VBAI中尋找圓邊緣(Find Circular Edge)以及建立坐標(biāo)系(Set Coordinate System)的函數(shù)模塊，即能準(zhǔn)確地定位光纖纖芯的位置。尋找圓邊緣是為了尋找光纖包層圓的邊緣，從而尋找到光纖包層圓的圓心，這個(gè)圓心也是纖芯圓的圓心，然后以這個(gè)圓心為坐標(biāo)系原點(diǎn)建立坐標(biāo)系。在VBAI中，建立坐標(biāo)系這個(gè)函數(shù)的功能是定位特征，它能根據(jù)尋找到的包層圓自動(dòng)定位圓心，即使包層在圖像中的位置改變，坐標(biāo)系原點(diǎn)也能準(zhǔn)確地定位在包層圓的圓心上，而包層圓的圓心就是纖芯圓的圓心。由圖4可見(jiàn)，坐標(biāo)系的原點(diǎn)可以很精確地定位在位置不同的纖芯圓的圓心上，即使是在不規(guī)則的包層面上。

　　2.2 檢測(cè)區(qū)域的劃分

　　在定位了光纖纖芯之后，由于在光纖端面上不同圓環(huán)范圍內(nèi)所用的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)也不同，所以要以纖芯中心為圓心作不同區(qū)域的圓環(huán)，再在每個(gè)圓環(huán)內(nèi)按規(guī)定的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)。如果有任意一個(gè)圓環(huán)內(nèi)的檢測(cè)不能通過(guò)，則這個(gè)光纖就是有缺陷的，不能通過(guò)。在劃分區(qū)域的時(shí)候，由于通過(guò)光纖端面檢測(cè)儀采集得到的圖像在VBAI環(huán)境下是以像素(pix)為計(jì)量單位的，而一般檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)中給出的光纖端面檢測(cè)要求是以微米(μm)為計(jì)量單位的，所以要通過(guò)公式(2)進(jìn)行轉(zhuǎn)換將微米(μm)轉(zhuǎn)換成像素(pix)。轉(zhuǎn)換的時(shí)候需要知道一個(gè)參數(shù)：dpi(每英寸多少點(diǎn))，知道了dpi就可以從公式(2)得到像素與微米的轉(zhuǎn)換關(guān)系。設(shè)P為像素，D為dpi，I為英尺，M為微米，則：

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　　一張圖片的dpi可以通過(guò)一些常用的看圖軟件得到(如Acdsee，Photoshop等)，平時(shí)所用的640×480或800×600等標(biāo)準(zhǔn)的分辨率的dpi是一個(gè)常數(shù)：96。這樣在對(duì)光纖端面進(jìn)行區(qū)域劃分的時(shí)候，就能準(zhǔn)確地算出每個(gè)圓環(huán)的直徑，從而對(duì)整個(gè)光纖端面可以進(jìn)行細(xì)致并且精確的檢測(cè)。

　　2.3 缺陷的檢測(cè)

　　2.3.1 不同的閾值

　　光纖端面缺陷包括白點(diǎn)(崩缺)、黑點(diǎn)(臟污)、陰影(內(nèi)裂)以及劃痕。其中崩缺和劃痕是顏色亮于光纖端面的部分，而臟污和陰影是顏色暗于光纖端面的部分。要檢測(cè)出這些缺陷，對(duì)每個(gè)區(qū)域的每個(gè)亮部檢測(cè)前都要重新對(duì)原始圖像進(jìn)行一次圖像處理，同時(shí)對(duì)每個(gè)區(qū)域的每個(gè)暗部檢測(cè)前也要重新對(duì)原始圖像進(jìn)行一次圖像處理，以便設(shè)置不同的閾值以區(qū)分出比光纖端面亮的部分和比光纖端面暗的部分。這樣在檢測(cè)過(guò)程中就先后對(duì)暗部和亮部進(jìn)行了檢測(cè)，如果兩者中任何一種檢測(cè)不能通過(guò)，則這個(gè)區(qū)域的檢測(cè)就是不能通過(guò)的。

　　光纖端面需要進(jìn)行檢測(cè)的區(qū)域包含了光纖包層和光纖包層以外的陶瓷部分，所以亮色缺陷和暗色缺陷除了分布在光纖包層上外還有可能會(huì)分布在陶瓷面上。由于光纖包層在采集的圖像中是暗色的，與暗色的缺陷色度比較接近，而包層外的陶瓷部分色度則更接近于亮色的缺陷。所以檢測(cè)光纖包層上和包層外陶瓷面上的缺陷時(shí)，針對(duì)暗色缺陷和亮色缺陷都需要分別設(shè)定不同的閾值，才能準(zhǔn)確地檢測(cè)出整個(gè)端面的缺陷。因此利用VBAI檢測(cè)光纖包層外的陶瓷面區(qū)域時(shí)，需要重新根據(jù)雙峰法設(shè)定閾值，如圖5所示。

　　由圖5可見(jiàn)，在檢測(cè)的過(guò)程中，必須要針對(duì)暗色缺陷和亮色缺陷在光纖端面包層內(nèi)外的不同分布，分別設(shè)定不同的閾值，否則會(huì)極大的影響檢測(cè)的精確度。需要注意的是，纖芯本身就是亮色的，所以亮色缺陷檢測(cè)過(guò)程中需要把纖芯忽略掉。