3 測試方案

　　圖3所示為本文提出的測試解決方案。要解決波控電路輸入信號多且輸入信號之間有著嚴(yán)格的時序關(guān)系這一問題，可選用可編程器件（如FPGA，CPLD）來產(chǎn)生需要的信號。由于在測試波控電路時需要嚴(yán)格控制輸入高、低電平電壓，因此，在測試篩選時，去掉那些因工藝制造過程造成的輸入翻轉(zhuǎn)電平有缺陷的電路，可編程器件輸出不能直接傳輸給被測器件，需要加一級電平轉(zhuǎn)換驅(qū)動電路，才能滿足波控電路輸入測試要求。

　　圖3 波束控制電路測試方案

　　波束控制電路中最重要的參數(shù)就是功能測試的結(jié)果。由于輸出通道較多，邏輯關(guān)系比較復(fù)雜，測試向量較多，測試時無法窮舉所有邏輯關(guān)系，在實際測試時，常常選用部分真值表作為功能判斷依據(jù)。表1為一個常見的波控電路真值表，這種表格形式便于測試判斷。

　　表1 波束控制電路真值表

　　顯然，對于這種邏輯關(guān)系的判斷，最好的方式是采用現(xiàn)場可編程器件。可編程器件具有較多的IO資源，而且內(nèi)部有一定的儲存空間，還可以進(jìn)行邏輯運算，提高測試效率。

　　一般來說，波束控制電路輸出與可編程器件之間不兼容，不能直接連接，因此需要選擇一種方式解決電平不兼容的問題。有兩種比較簡單的方式：一種是采用電阻網(wǎng)絡(luò)，另一種是采用電平轉(zhuǎn)換接口芯片。這兩種方式各有優(yōu)缺點：電阻網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)簡單，成本低，但是靈活性差；電平轉(zhuǎn)換接口芯片相對復(fù)雜一些，成本也相應(yīng)較高，但是設(shè)計靈活。

　　本文推薦采用第二種方法，因為波束控制芯片輸出模式很可能會有很多種，比如0~-5V輸出，或0~5V輸出，或兩者皆有。利用比較器實現(xiàn)電平轉(zhuǎn)換是比較好的選擇。

　　至于時間參數(shù)及一些靜態(tài)參數(shù)的判斷，可以通過GPIB程控示波器和數(shù)字萬用表直接進(jìn)行測試，從而保證參數(shù)的測試精度。