緒論

經(jīng)過了前面的文檔、編碼、驗(yàn)證階段，我們手頭已經(jīng)有了沒有錯(cuò)誤的RTL代碼。這一章我們把這些RTL代碼轉(zhuǎn)化成后端的輸入：網(wǎng)表（Netlist，綜合工具自動(dòng)將RTL翻譯成與或非門，用于實(shí)現(xiàn)）。這個(gè)步驟主要是有工具來完成的，我們知道流程就行。

說是實(shí)現(xiàn)，其實(shí)包含了DFT (Design For Test)三板斧的插入、DC綜合以及形式驗(yàn)證。算是芯片設(shè)計(jì)里承上啟下的一個(gè)流程。我此處把它歸到前端里了，也有歸到后端的，或者單拎出來讓DFT工程師專門做的。插句額外的話，此處只是簡(jiǎn)單列了DFT的基本原理，實(shí)際上DFT也和驗(yàn)證一樣是個(gè)有自己神奇而獨(dú)特技術(shù)棧的活，有專門的工程師工種叫DFT工程師。

一 DFT-F1: 插入BIST

BIST（Build-in-self test）是內(nèi)建自測(cè)試的意思。又分為MBIST和LBIST。

MBIST （Memory build-in-self test）, 指的是存儲(chǔ)內(nèi)建自測(cè)試。這個(gè)原理上講起來比較容易，就是在SRAM周邊加上一些測(cè)試邏輯。Memory通常來講在芯片中占據(jù)的面積比較大，也容易出錯(cuò)，所以加上專門的測(cè)試邏輯。這個(gè)地方需要區(qū)分MBIST和ATE (Auto-Test-Equipment， 我們后面講芯片封裝測(cè)試的時(shí)候講)的區(qū)別，ATE的激勵(lì)是外部給的，MBIST激勵(lì)是自己生成的。而且MBIST可以每次芯片上電都測(cè)試一遍，防止芯片出錯(cuò)。

這個(gè)東西的工作原理如上圖，在Memory周圍加上激勵(lì)，至于怎么加激勵(lì)有人專門研究這個(gè)(MBIST Algorithm)，感興趣的可以學(xué)習(xí)一下。此外，還有一種Memory Built-in Self Repair (BISR)的辦法，MBIST檢測(cè)到Memory有問題后將有問題的cell映射到冗余的好的cell上去。

LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內(nèi)建自測(cè)試。和MBIST同理，在關(guān)鍵邏輯上加上自測(cè)試電路，看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會(huì)在芯片里加入自測(cè)試邏輯，都是成本。個(gè)人理解如果不要求穩(wěn)定性非常好的芯片，LBIST可以不要。但是一些芯片，比如自動(dòng)駕駛可能LBIST還是需要的。

一般來講BIST用工具直接插到RTL代碼里去，其實(shí)算是正常的交付功能。

二 DFT-F2: 插入Boundary Scan

這個(gè)boundary scan主要用來對(duì)芯片的輸入輸出（也可以是關(guān)鍵邏輯塊，比如RISC-V核心）檢測(cè)和測(cè)試，其實(shí)就是我們常聽過的JTAG接口（JTAG有個(gè)很奇葩的名字，Joint Test Action Group, 聯(lián)合測(cè)試工作組 Orz）。

基本原理也簡(jiǎn)單，像上面這張圖一樣，把芯片的IO用寄存器鏈穿起來。JTAG端口雖然只有4個(gè)信號(hào)，但是能實(shí)現(xiàn)的測(cè)試功能非常多，可不是簡(jiǎn)單把IO串行拿出來看看這么簡(jiǎn)單。

上面一個(gè)小方塊scan cell包含了下面內(nèi)容。

里面包含了幾個(gè)capture cell寄存器，用來把IO上的值給采下來。還有一個(gè)update hold cell, 可以把想要的值傳給IO。

用法1：左上，直接bypass, 可以方便的把不同的JTAG CHAIN給穿起來。

用法2：右上，把IO穿起來，可以看IO的值，也可以外部給所有IO輸入值

用法3：左下，可以當(dāng)做串口，給上面講的BIST輸入控制信號(hào)

用法4：右下，Clamp模式，bypass和chain同時(shí)開了, 可以給IO置為，但是值從bypass輸出。

JTAG也是直接加到RTL代碼，當(dāng)做一個(gè)功能來用。

三 DC綜合

經(jīng)過了DFT的兩把斧，我們接下來要跑綜合。綜合的主要目的是把Verilog代碼轉(zhuǎn)換成門級(jí)網(wǎng)表。

DC是design compiler的意思，Synopsys的軟件，當(dāng)然也可以用其他廠商的RTL Compiler，不過我沒用過不熟悉。DC內(nèi)部主要實(shí)現(xiàn)了3個(gè)步驟：

·Translation, 單純的把RTL轉(zhuǎn)化成DC內(nèi)部的數(shù)據(jù)庫(kù)，這個(gè)庫(kù)和工藝無關(guān)，就是標(biāo)準(zhǔn)的與或非等等。

·Optimization, 這個(gè)階段根據(jù)工作頻率、面積、功耗來優(yōu)化電路，然后生成滿足設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)的門級(jí)網(wǎng)表。

·Mapping, 這個(gè)步驟與工藝相關(guān)，將門級(jí)網(wǎng)表映射到代工廠給的門級(jí)網(wǎng)表上。

這個(gè)過程其實(shí)大部分都是工具來完成的，我們只用設(shè)置一些配置。

一共九個(gè)步驟。

step0 Develop HDL files. 這個(gè)步驟就是前面介紹了一大堆設(shè)計(jì)的Verilog文件

step1 Specify libraries. 這個(gè)步驟主要是指定一下需要的庫(kù)文件。幾個(gè)庫(kù)文件都是干嘛的我們簡(jiǎn)單講講。link library指的鏈接的庫(kù)，比如RAM, ROM core的庫(kù)，一般放在link library. target library是代工廠給得工藝庫(kù)，最后會(huì)把網(wǎng)表映射到這個(gè)庫(kù)的單元上。symbol library可以不用，GUI用到的，synopsys library. synopsys的標(biāo)準(zhǔn)lib. 中間過程要用到。

step2 Read Design. 比較簡(jiǎn)單，把你的設(shè)計(jì)讀到DC里面去。

step3&4 Design Constraint. 這兩個(gè)步驟其實(shí)可以一起講。給綜合設(shè)置一些約束，比如時(shí)鐘頻率，允許的時(shí)鐘不確定性等等。

step5 Compiler Strategy. 這個(gè)步驟主要是選綜合策略。綜合策略一般有兩種，top-down, bottom up。top-down用來綜合小模塊，設(shè)計(jì)約束在頂層，當(dāng)做一個(gè)整體一把綜合了。bottom up一般用來綜合大型的設(shè)計(jì)。先約束并綜合底層，然后設(shè)置一個(gè)dont touch, 一層一層向上綜合。

step6 Synthesis. 綜合優(yōu)化，主要占用時(shí)間的就是這一步驟。一般會(huì)在機(jī)器上跑幾個(gè)小時(shí)到幾天甚至幾周時(shí)間。

step7 Report design. 這個(gè)步驟主要是報(bào)出綜合的面積，時(shí)序，看看面積有沒有超標(biāo)，時(shí)序有沒有違例，如果時(shí)序或者面積有問題，返回step0修改設(shè)計(jì)，重新來綜合。

基本上的綜合流程就這些。

四 形式驗(yàn)證：RTL vs SYN Netlist

做完了綜合，我們還有做個(gè)步驟，到底綜合對(duì)了沒，等不等價(jià)，需要驗(yàn)證一下。這種驗(yàn)證叫形式驗(yàn)證 Formal Verification。有個(gè)工具叫formality的可以干這個(gè)活。簡(jiǎn)單理解這個(gè)步驟就是做等價(jià)性驗(yàn)證的。這個(gè)步驟比綜合會(huì)快很多。這也可以理解，一個(gè)是從無到有的生成，另一個(gè)只是對(duì)比一下功能是不是等價(jià)的。原理大概是在RTL代碼和netlist中抽取一些點(diǎn)（一般是寄存器的輸入或者輸出），驗(yàn)證組合邏輯的等價(jià)性。

如上面兩個(gè)設(shè)計(jì)，使用的單元是不一樣的，但其實(shí)功能是等價(jià)的。formality只能保證功能是等價(jià)的，但是保證不了STA不出問題。所以只能說STA沒問題的情況下，formality能保證SYN功能正確。

五 DFT-F3：SCAN CHAIN

emmm 形式驗(yàn)證完后，還有一個(gè)DFT步驟。DFT的第三把斧: 加入scan chain. 這個(gè)步驟一般不加在RTL而是直接加在DFT網(wǎng)表。原理也很簡(jiǎn)單，把設(shè)計(jì)中的所有寄存器連接成一條或者幾條鏈。

向上面這樣。正常的功能數(shù)據(jù)走functional path, 在測(cè)試模式下所有FF都是移位寄存器，可以把值讀出來看看。

當(dāng)然，也可以把值插進(jìn)去，看看某段組合邏輯有沒有問題。

比如這樣，先拉高scan enable, 用若干拍把數(shù)據(jù)load到寄存器里，然后拉低scan一拍，讓組合邏輯算出結(jié)果，然后繼續(xù)拉高scan enable, 把計(jì)算結(jié)果shfit out出來。

其實(shí)這里有個(gè)搞笑的事兒，研究生第一次流片的時(shí)候看到DFT scan chain，覺得這個(gè)東西賊有用，畢竟沒有專業(yè)測(cè)試，一旦邏輯什么寫錯(cuò)了，我豈不是可以自己寫一段數(shù)據(jù)，直接shift到芯片里，看看哪里有了BUG，針對(duì)性的解決。那一瞬間，感覺自己像個(gè)小天才Orz...

后來知道一般設(shè)計(jì)中寄存器何止成千上萬，即使拆成多條鏈，每條也很長(zhǎng)。指望手動(dòng)造一個(gè)scan數(shù)據(jù)來debug是不現(xiàn)實(shí)的。一般都是自動(dòng)生成若干組pattern, 自動(dòng)測(cè)試，如果輸出和預(yù)期不一致，丫直接當(dāng)做廢片處理了Orz。所以不量產(chǎn)的芯片不用加DFT,加了也沒啥實(shí)質(zhì)性的用處。

DFT三板斧就講完了。

六 形式驗(yàn)證：DFT vs SYN

最后再來一次形式驗(yàn)證。對(duì)比一下加入DFT的網(wǎng)表和綜合出來的網(wǎng)表是不是功能一致的。原理和上面一樣，無須贅述。

七 總結(jié)

經(jīng)過這篇文章，我們終于得到了芯片設(shè)計(jì)的網(wǎng)表。行文至此，我們前端設(shè)計(jì)的所有流程就都講完了。

編輯：黃飛

?