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電子發燒友網>制造/封裝>PCB制造相關>板級電路多信號模型自測試技術

板級電路多信號模型自測試技術

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2018-04-16 16:03:3812

利用EDA技術在FPGA芯片上實現了準單輸入調變序列生成器的設計

隨著集成電路復雜度越來越高,測試開銷在電路和系統總開銷中所占的比例不斷上升,測試方法的研究顯得非常突出。目前在測試源的劃分上可以采用內建自測試或片外測試
2019-04-26 09:12:001030

新的平衡電流模式模擬電路自測試方法的片上解決方案詳細說明

仿真結果:為了評價BIC監測儀用于新型并行模擬自測試的可行性,進行了故障仿真。全差分電流傳送器被用作被測器件。在監視通過/失敗輸出(圖2)的同時,將每個典型的MOS晶體管的終端故障(短路和開路)分別
2019-11-26 16:36:300

VLSI測試與可測試性設計的學習課件資料合集

VLSI測試技術導論, 可測試性設計, 邏輯與故障模擬,測試生成,邏輯自測試測試壓縮,邏輯電路故障診斷,存儲器測試與BIST,存儲器診斷與BISR,邊界掃描與SOC測試,納米電路測試技術,復習及習題
2020-10-09 08:00:001

開關電源(Buck電路)的小信號模型及環路設計

開關電源(Buck電路)的小信號模型及環路設計(實用電源技術答案)-開關電源(Buck電路)的小信號模型及環路設計???????????
2021-09-18 10:03:1278

運算放大器測試基礎第4部分:測試運算放大器需要穩定的測試環路

糕的是,您可能很晚才發現,而此時糾正該問題已經更難了。 自測試補償 以最簡單的形式看,圖 1 中的自測試電路實際上是一款增益為 1201 的閉環系統。如果將 R1 減小至 5kW,閉環增益就是 301。因此,它具有固有的穩定性,即使采用未
2021-11-23 17:46:331648

運算放大器測試基礎第3部分:可配置電路測試運算放大器

作者:Martin Rowe — 2011 年 11 月 16 日 在本系列的第 1 部分中,我們為大家介紹了三種運算放大器測試電路自測試電路、雙運算放大器環路以及三運算放大器環路。這些電路
2021-11-23 17:41:501456

關于芯片設計的前端設計實現

LBIST (Logic build-in-self test), 邏輯內建自測試。和MBIST同理,在關鍵邏輯上加上自測試電路,看看邏輯cell有沒有工作正常。BIST總歸會在芯片里加入自測試邏輯,都是成本。
2022-08-29 15:33:302266

一文解析NMOS管的大信號模型和小信號模型

NMOS管,其電路模型可分為大信號模型和小信號模型
2022-10-14 13:04:135835

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南

UM2986 STM32U5系列IEC 60730自測試庫用戶指南
2022-11-22 08:21:450

信號模型和小信號模型的區別

信號模型和小信號模型是電子工程和通信領域中常用的兩種模型,它們在描述和分析電子電路或系統時具有不同的特點和應用范圍。以下是關于大信號模型和小信號模型區別的介紹。 大信號模型:大信號模型主要用于描述
2023-12-19 11:35:553424

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