今天蓬勃發展的物聯網(IOT)市場正在催生各種各樣的智能化終端設備，這些智能設備采用的有線和無線技術都各不相同，而且隨著市場的快速演變，同一家企業每一年需要開發的新產品可能就需要采用不同的無線或有線技術，為保證產品出廠質量，企業用戶必須對產品功能進行全面測試測量，這時，企業用戶通常就必須面對2個選擇：要么購買各種具備不同測試測量功能的傳統儀器，要么購買基于PC的模塊化易配置儀器(如NI的PXI測試儀器)。

傳統測試儀器通常功能比較固定，不允許重新配置，優勢是測量精度高、可靠性好，缺點是比較昂貴。PXI模塊化測試儀器容易重新配置，用戶可通過插拔不同測試模塊快速滿足各種不同有線或無線技術的測試測量需求，優勢是靈活度高和成本較低，缺點是重新配置可能帶來系統的不可靠性。

NI PXI平臺及模塊化儀器研發副總裁Steve Warntjes說：“和傳統儀器相比，PXI平臺具有較高的測量能力，低延遲和高帶寬，軟件靈活定義，集成定時和同步，高處理性能，尺寸、重量、功耗小，平臺儀器齊全等優點;并且PXI平臺可以作為整個系統的中心，連接已有的其他儀器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在最大可能減少系統瓶頸的情況下，保持已有設備投資?！?/p>

圖1：NI PXI平臺及模塊化儀器研發副總裁Steve Warntjes

NI大中華區總經理陳健忠補充道：“到今天為止，PXI平臺儀器已經有20年歷史了，客戶數量一直在穩定地增長，已經達到35000家，我至今還沒有聽到客戶有投訴可靠性問題。雖然我們的競爭對手也在不斷改進可配置性能，但PXI平臺系統架構天生是為可重配置特性開發的，傳統儀器在這一點上根本無法相比，而且PXI測試儀器現在測量精度、功能、體積、圖形化編程界面和可靠性越做越好，這也是為什么我們相信未來幾年PXI平臺測試儀器的年復合增長率會明顯提高的原因。可以說，PXI測試儀器天然是為今天的智能化測試時代而預備的產品，它可以大幅降低客戶在物聯網時代的研發、生產測試測量成本投入，并大幅加快上市周期。”

圖2：NI大中華區總經理陳健忠

PXI技術自1997年由NI提出以來，歷經20年，現在PXI平臺已經成為了自動化測試和控制的主流平臺。NI作為PXI平臺的創辦者，一直在這一領域有不斷的投入，并且不斷的有持續的創新，例如在2004年將FPGA技術引入PXI平臺，在2012年又發布了業界第一款矢量信號收發儀。

業界知名的咨詢公司Frost & Sullivan預測，到2021年，PXI平臺作為整個儀器行業的主力增長力量，將會一直以15%以上的增長率增長下去。這是因為，F&S看到了過去20年的時間里，有越來越多的客戶從使用傳統臺式儀器改為了使用PXI平臺的儀器做自動化測試，而且在PXI平臺上不斷的創新給了F&S信心，認為這個迅猛增長的勢頭可以一直保持下去。

今天在物聯網的大背景下，涌現了許多智能設備，而這些智能設備的復雜性都不斷地提升。面對這些智能設備的大爆發，多重技術融合，復雜性的不斷提升，在這樣的快速變化下工程師需要更加智能的測試系統，這樣的系統需要更大的靈活性，更高的可靠性，以最低的成本加速上市時間。

在這樣的背景下，開放的PXI平臺就獲得了極大的認可。因為PXI平臺具有開放、靈活的軟件，模塊化的硬件，非常完整的生態系統。

NI資深技術市場經理陳宇睿表示：“一個很好的案例是NI的合作伙伴博測達(Booster)為偉創力的可穿戴手環進行的測試項目，在這個項目中，博測達正是利用了NI PXI平臺的優勢，基于PXI靈活的測試軟硬件方案，配合完善的技術服務，極大提升了測試效率，從原來只能測試單個手環到如今實現2個并行測試，并且測試時間大幅降低，于此同時甚至增加了測試項，為可穿戴手環這種消費類電子產品快速上市提供了保障?！?/p>

靈活可自定義的NI PXI平臺也特別適合加速現在最新最火熱的5G通信設備原型設計，因為它可以通過軟件定義無線電提供非常好的解決方案，目前已經可以用于多個5G關鍵技術驗證，如毫米波、Massive MIMO、5G新型波形研究、非正交多址接入和密集組網等技術。

作為原型化系統測試領導者，NI通過和射頻領先用戶的合作開發了世界上多個首創的原型化系統。通過和Nokia公司的合作，發布了世界上首個支持高達2G Hzd帶寬的毫米波原型系統;通過和隆德大學合作，首次實現100天線Massive MIMO系統。放眼國內，也有東南大學、北京郵電大學、上海無線通信研究中心通過PXI平臺，快速搭建適合自己的5G研究平臺，實現在5G方向的技術創新。

當然，PXI平臺和軟件定義無線電架構的優勢還不止于快速地進行原型驗證。通過積極參與5G前期的原型驗證及研究，提供業界現階段最新技術的原型化產品，在原型階段就考慮未來量產化的測試需求。NI以基于平臺的軟件方法為基礎，提供靈活的、自定義、高效的解決方案，從而應對未來每一個階段的未知需求。在快速原型設計的同時已經考慮到未來測試環境中嚴苛的射頻性能、高速的數據傳輸要求，并且可將同樣的IP用于測試之中，加速整個從原型開發到驗證測試的步驟，快速實現一個靈感到真正產品的測試。

對于芯片量產測試，傳統的ATE其實一直表現得很好。但是隨著現在很多芯片加入了混合信號或者射頻的部分，傳統的ATE就很難在測試能力和測試成本上達到一個平衡，功能的加入意味著成本的增加，而傳統實驗室應用于射頻或者混合信號的測試儀器又不能一步應用到量產測試中，這樣產線的投資會更加明顯，時間、效率、成本這幾大問題在現今更智能的芯片上體現得尤為明顯。

NI自動化測試部技術市場工程師馬力斯說：“聰明的辦法就是使用一種統一的平臺化方法，將實驗室所使用的儀器儀表和量產測試的ATE很好地配合起來。在統一的平臺下，代碼，硬件配置能夠被更好地復用，數據能夠更緊密地關聯，從而跨越從實驗室的儀器到量產測試應用的鴻溝?！?/p>

電子產品的測試需求，不僅僅是在對于電子產品系統的構建上，更值得注意的是，在產品最終應用場景上的測試，也因智能時代的到來變得更加復雜。在這一話題上，汽車電子領域最近火熱的ADAS、自動駕駛便是非常好的例子。

隨著自動駕駛技術的引入，汽車行業正在發生巨大的改變。以動力為核心的傳統汽車行業，逐漸跨入智能汽車的發展方向。智能汽車相較于傳統汽車而言，會集成更多的感知和通信技術，比如雷達，藍牙，無線通信等，這些先進技術的引入會使得整個汽車系統的復雜度大大提升。

NI數據采集技術市場工程師楊千惠表示：“我們能夠基于PXI測試平臺，輕松地集成雷達、計算機視覺，以及V2X的測試，這都得益于PXI平臺開放性的優勢，NI能夠提供智能汽車硬件在環上的完整測試解決方案。NI靈活高效的PXI硬件平臺，配合強大的算法軟件，能夠覆蓋汽車產品的全周期測試。”