泰克SuperSpeed為NEC電子獲得USB 3.0認證
全球示波器市場的領導廠商—泰克公司日前宣布,其SuperSpeed USB解決方案為NEC電子符合USB 3.0標準的主機提供信號質量監測,該主機是世界首款獲得USB設計者論壇USB 3.0認證的產品。
作為設計和生產集成電路的全球領導企業,NEC電子選擇與泰克合作,驗證其新的硅元件以滿足新興的SuperSpeed USB標準(USB3.0)要求。USB技術已經迅速被公認為連接電腦及外設的行業標準,與其它先進的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比,USB 3.0的性能可以支持高達5Gbps的數據速率,如此高的性能為測試測量帶來了更復雜的挑戰。為解決這些挑戰,必須使用高性能、高靈活度的測量設備,以及能夠加快和簡化設計、測量和分析過程的工具。借助泰克USB 3.0測試解決方案,NEC電子這類企業的工程師們可以對USB設備進行檢定、調試和一致性測試,自動實現余量和一致性測試。對關鍵的USB 3.0接收機余量測試,泰克AWG7122B任意波形發生器則可提供無可比擬的信號生成靈活度,可以幫助客戶更快地把符合USB 3.0標準的產品推向市場。
泰克公司技術解決方案部市場經理Dave Slack表示:“泰克一直與NEC電子保持密切合作,共同驗證、測試和調試SuperSpeed USB。今天,我們非常榮幸能為NEC電子的產品開發做出貢獻,從而使其在業內率先獲得USB 3.0認證。”
泰克USB 3.0解決方案
泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于一整套可提供優異的測量性能,滿足高速串行協議需求的儀器,包括實時和采樣示波器、任意波形發生器等。例如,DSA71254B實時示波器提供了高帶寬和低噪聲環境,可準確地捕獲和分析快速串行信號時鐘速率。對一致性測試中的眼圖分析和余量測試,匹配的示波器采集系統變得至關重要。與其類似的是,AWG7122B任意波形發生器提供了復雜的波形,可以模擬傳輸路徑的劣化效應,支持接收機測試。這些硬件工具與專業應用軟件配合使用,如DPOJET抖動和眼圖分析工具、SerialXpress高級抖動生成工具和TekExpress™ USB 3.0自動一致性測試軟件等,為工程師檢驗和調試設計提供了所需的工具。
相關閱讀:
- [電子動態] 麥克羅泰克實驗室與UL簽署首選合作伙伴協議 2010-03-25
- [電子動態] 泰克和Optametra共同挑戰解決100G光測量 2010-03-30
- [電子動態] 泰克創新論壇為下一代計算技術提供最新測試解決方案 2010-04-07
- [電子動態] 泰克支招 解決測試挑戰以克服LED照明應用瓶頸 2010-04-12
- [電子動態] 泰克網上研討會 - 查找和調試信號完整性問題 2010-11-16
(責任編輯:發燒友)
發表評論:
最新評論
已有0條評論,共18人參與,點擊查看相關下載
電子技術文章排行
本類排行
總排行