IGBT的原理和基本特性
IGBT的原理和基本特性
IGBT的原理
絕緣柵雙極晶體管(Insulate-Gate Bipolar Transistor—IGBT)綜合了電力晶體管(Giant Transistor—GTR)和電力場效應晶體管(Power MOSFET)的優點,具有良好的特性,應用領域很廣泛;IGBT也是三端器件:柵極,集電極和發射極。
電力MOSFET器件是單極型(N溝道MOSFET中僅電子導電、P溝道MOSFET中僅空穴導電)、電壓控制型開關器件;因此其通、斷驅動控制功率很小,開關速度快;但通態降壓大,難于制成高壓大電流開關器件。電力三極晶體管是雙極型(其中,電子、空穴兩種多數載流子都參與導電)、電流控制型開關器件;因此其通-斷控制驅動功率大,開關速度不夠快;但通態壓降低,可制成較高電壓和較大電流的開關器件。為了兼有這兩種器件的優點,棄其缺點,20世紀80年代中期出現了將它們的通、斷機制相結合的新一代半導體電力開關器件——絕緣柵極雙極型晶體管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)。它是一種復合器件,其輸入控制部分為MOSFET,輸出級為雙級結型三極晶體管;因此兼有MOSFET和電力晶體管的優點,即高輸入阻抗,電壓控制,驅動功率小,開關速度快,工作頻率可達到10~40kHz(比電力三極管高),飽和壓降低(比MOSFET 小得多,與電力三極管相當),電壓、電流容量較大,安全工作區域寬。目前2500~3000V、800~1800A的IGBT器件已有產品,可供幾千kVA以下的高頻電力電子裝置選用。
圖1為IGBT的符號、內部結構等值電路及靜態特性。IGBT也有3個電極:柵極G、發射極E和集電極C。輸入部分是一個MOSFET管,圖1中Rdr表示MOSFET的等效調制電阻(即漏極-源極之間的等效電阻RDS)。輸出部分為一個PNP三極管T1,此外還有一個內部寄生的三極管T2(NPN管),在NPN晶體管T2的基極與發射極之間有一個體區電阻Rbr。
當柵極G與發射極E之間的外加電壓UGE=0時,MOSFET管內無導電溝道,其調制電阻Rdr可視為無窮大,Ic=0,MOSFET處于斷態。在柵極G與發射極E之間的外加控制電壓UGE,可以改變MOSFET管導電溝道的寬度,從而改變調制電阻Rdr,這就改變了輸出晶體管T1(PNP管)的基極電流,控制了IGBT管的集電極電流Ic。當UGE足夠大時(例如15V),則T1飽和導電,IGBT進入通態。一旦撤除UGE,即UGE=0,則MOSFET從通態轉入斷態,T1截止,IGBT器件從通態轉入斷態。
二、IGBT的基本特性
1、 靜態特性
(1) 輸出特性:是UGE一定時集電極電流Ic與集電極-發射極電壓UCE的函數關系,即Ic=f(UCE)。
圖1示出IGBT的輸出特性。UGE=0的曲線對應于IGBT處于斷態。在線性導電區I,UCE增大,Ic增大。在恒流飽和區Ⅱ,對于一定的UGE,UCE增大,IC不再隨UCE而增大。{{分頁}}
在UCE為負值的反壓下,其特性曲線類似于三極管的反向阻斷特性。
為了使IGBT安全運行,它承受的外加壓、反向電壓應小于圖1(c)中的正、反向折轉擊穿電壓。
(2) 轉移特性:是圖1(d)所示的集電極電流Ic與柵極電壓UGE的函數關系,即Ic=f(UGE)。
當UGE小于開啟閾值電壓UGE th時,等效MOSFET中不能形成導電溝道;因此IGBT處于斷態。當UGE>UGE th后,隨著UGE的增大,Ic顯著上升。實際運行中,外加電壓UGE的最大值UGEM一般不超過15V,以限制Ic 不超過IGBT管的允許值ICM。IGBT在額定電流時的通態壓降一般為1.5~3V。其通態壓降常在其電流較大(接近額定值)時具有正的溫度系數(Ic增大時,管壓降大);因此在幾個IGBT并聯使用時IGBT器件具有電流自動調節均流的能力,這就使多個IGBT易于并聯使用。
2、 動態特性
圖2示出了IGBT的開通和關斷過程。開通過程的特性類似于MOSFET;因為在這個區間,IGBT大部分時間作為MOSFET運行。開通時間由4個部分組成。開通延遲時間td是外施柵極脈沖從負到正跳變開始,到柵-射電壓充電到UGE th的時間。這以后集電極電流從0開始上升,到90%穩態值的時間為電流上升時間tri。在這兩個時間內,集-射極間電壓UCE基本不變。此后,UCE開始下降。下降時間tfu1是MOSFET工作時漏-源電壓下降時間tfu2是MOSFET和PNP晶體管同時工作時漏-源電壓下降時間;因此,IGBT開通時間為 ton=td+tr+tfu1+tfu2。
開通過程中,在td、tr時間內,柵-射極間電容在外施正電壓作用下充電,且按指數規律上升,在tfu1、tfu2這一時間段內MOSFET開通,流過對GTR的驅動電流,柵-射極電壓基本維持IGBT完全導通后驅動過程結束。柵-射極電壓再次按指數規律上升到外施柵極電壓值。
IGBT關斷時,在外施柵極反向電壓作用下,MOSFET輸入電容放電,內部PNP晶體管仍然導通,在最初階段里,關斷的延遲時間td和電壓UCE的上升時間tr,由IGBT中的MOSFET決定。關斷時IGBT和MOSFET的主要差別是電流波形分為tfi1和tfi2兩部分,其中,tfi1由MOSFET決定,對應于MOSFET的關斷過程;tfi2由PNP晶體管中存儲電荷所決定。因為在tfi1末尾MOSFET已關斷,IGBT又無反向電壓,體內的存儲電荷難以被迅速消除;所以漏極電流有較長的下降時間。因為此時漏源電壓已建立,過長的下降時間會產生較大的功耗,使結溫增高;所以希望下降時間越短越好。
3、 擎住效應
由圖1(b)電路可以看到IGBT內部的寄生三極管T2與輸出三極管T1等效于一個晶閘管。內部體區電阻Rbr上的電壓降為一個正向偏壓加在寄生三極管T2的基極和發射極之間。當IGBT處于截止狀態和處于正常穩定通態時(ic不超過允許值時),Rbr上的壓降都很小,不足以產生T2的基極電流,T2不起作用。但如果ic瞬時過大,Rbr上壓降過大,則可能使T2導通,而一旦T2導通,即使撤除門極電壓UGE,IGBT仍然會像晶閘管一樣處于通態,使門極G失去控制作用,這種現象稱為擎住效應。在IGBT的設計制造時已盡可能地降低體區電阻Rbr,使IGBT的集電極電流在最大允許值ICM時,Rbr上的壓降仍小于T2管的起始導電所必需的正偏壓。但在實際工作中ic一旦過大,則可能出現擎住效應。如果外電路不能限制ic的增長,則可能損壞器件。{{分頁}}
除過大的ic可能產生擎住效應外,當IGBT處于截止狀態時,如果集電極電源電壓過高,使T1管漏電流過大,也可能在Rbr上產生過高的壓降,使T2導通而出現擎住效應。
可能出現擎住效應的第三個情況是:在關斷過程中,MOSFET的關斷十分迅速,MOSFET關斷后圖1(b)中三極管T2的J2結反偏電壓UBA增大,MOSFET關斷得越快,集電極電流ic減小得越快,則UCA=Es-R
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