隨著PCB速度的增加，您可能會(huì)發(fā)現(xiàn)您的在線電路板測(cè)試ATE失去了動(dòng)力。當(dāng)速度超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)釘床固定裝置的7至10 MHz限制時(shí)，您可以找到在線測(cè)試的替代方案，或者修改您的測(cè)試設(shè)置以處理高速測(cè)量。

圖1。你可以適應(yīng)通過(guò)采用超小型A（螺紋，此處顯示）和B（卡扣式）連接器，可以處理多個(gè)千兆赫的頻率，從而實(shí)現(xiàn)微波測(cè)量的在線夾具。 （由Everett-Charles Technologies提供。）

圖2. 無(wú)線測(cè)試夾具采用雙頭釘將被測(cè)PCB連接到在線ATE。

如果你決定放棄在線測(cè)試以支持另一種選擇，你會(huì)發(fā)現(xiàn)每種替代方案都有缺點(diǎn)。例如，您可以消除在線測(cè)試并僅依靠功能測(cè)試。這種方法以額定速度對(duì)您的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，但是它會(huì)給您的生產(chǎn)線帶來(lái)負(fù)擔(dān)，因?yàn)楸仨毻瓿芍圃爝^(guò)程中早期引入故障的部件的制造。

在線測(cè)試會(huì)及時(shí)檢測(cè)到負(fù)載PCB上的壞組件，依賴(lài)最終功能測(cè)試意味著壞板將與良好的組件一起組裝到您的產(chǎn)品中。一旦你在功能測(cè)試期間發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，就可能無(wú)法經(jīng)濟(jì)地重新設(shè)計(jì)電路板，因此你最終會(huì)得到大量廢棄產(chǎn)品，其中包含大部分良好的元件。

作為另一種選擇，您可以加入內(nèi)置測(cè)試電路，例如邊界掃描單元。邊界掃描可以有效地查找制造缺陷，但您必須在產(chǎn)品中包含邊界掃描組件，并且您的測(cè)試儀必須能夠生成邊界掃描測(cè)試模式并測(cè)量電路響應(yīng)。邊界掃描可以比釘床更高的速度運(yùn)行，但它的最高頻率僅為25 MHz。

當(dāng)然，您可以獲得專(zhuān)用于測(cè)試高速電路板和模塊的測(cè)試平臺(tái)。這種方法是高速測(cè)試的理想方法，但價(jià)格昂貴。在開(kāi)始這條道路之前，請(qǐng)考慮這些方法，您可以擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)在線ATE的功能 - 從微調(diào)測(cè)試夾具到結(jié)合微波測(cè)試探針（圖1 ）：

1）慢慢測(cè)試 考慮在高速PCB上使用低速在線測(cè)試。低速測(cè)試不能確定RF放大器是否在規(guī)范內(nèi)運(yùn)行，但它可以告訴您設(shè)備是否丟失或引線是否短路在一起。如果您目前在最終功能測(cè)試或熱模型測(cè)試中發(fā)現(xiàn)高水平的制造缺陷，那么早期的在線測(cè)試階段可能是有益的。一般情況下，您希望盡可能在波峰焊后盡快發(fā)現(xiàn)缺陷。

圖3。 兩階段測(cè)試可以增強(qiáng)敏感組件的測(cè)試。 （a）在此處所示的第一階段中，探測(cè)所有UUT節(jié)點(diǎn)-A到F-。 （b）在第二種情況下，只接觸A和E（通過(guò)長(zhǎng)行程的釘子），最大限度地減少節(jié)點(diǎn)B，C，D和F上信號(hào)的干擾。

2）考慮無(wú)線燈具
如果要以10 MHz附近的額定速度表征零件，可以使用無(wú)線夾具來(lái)優(yōu)化速度性能。在無(wú)線夾具中（圖2 ），雙頭釘子取代了有線夾具的傳統(tǒng)釘子。這些釘子的一端與UUT接觸;另一個(gè)接觸夾具PCB，它根據(jù)ATE測(cè)試頭的要求在釘子上傳送信號(hào)。

無(wú)線夾具不是靈丹妙藥 - 如果你小心的話保持電線長(zhǎng)度盡可能短并使用雙絞線，您可以獲得有線燈具，以便像無(wú)線燈具一樣快速運(yùn)行。然而，無(wú)線固定裝置可以更快，更容易地實(shí)現(xiàn)：它提供更好的可重復(fù)性;它更好地承受生產(chǎn)車(chē)間的磨損;并且更容易復(fù)制多個(gè)測(cè)試系統(tǒng)。

圖4. 雙嵌套夾具可以幫助您測(cè)試UUT上的一些RF組件。首先將UUT放置在低頻嵌套上，然后將其移到RF嵌套上以進(jìn)行微波測(cè)量。

圖5. 在開(kāi)路中終止的半波長(zhǎng)（l/2）的有效探頭長(zhǎng)度可最大限度地減少被測(cè)節(jié)點(diǎn)的電流。

3）第二階段測(cè)試
釘床的總電路負(fù)載會(huì)干擾測(cè)試儀進(jìn)行高速測(cè)量的能力選定的組件。您可以使用兩階段測(cè)試流程將敏感組件與其他組件的測(cè)試進(jìn)行隔離。在第一階段（圖3a ），所有指甲都會(huì)接觸UUT以進(jìn)行全面的測(cè)試覆蓋。在第二個(gè)（圖3b ）中，您稍微抬起UUT，因此只有少數(shù)行程較長(zhǎng)的釘子仍與板接觸。這些釘子可以使敏感測(cè)量相對(duì)不受其他釘子的負(fù)載和串?dāng)_影響。

4）構(gòu)建射頻Nest
通過(guò)遵循前三個(gè)建議，您可以提高指甲測(cè)試的速度，但只能提高一小部分。在高頻率下，兩級(jí)測(cè)試耗盡蒸汽，因?yàn)榧词沟诙?jí)中斷開(kāi)的引腳也會(huì)充當(dāng)天線場(chǎng)，干擾連接引腳的測(cè)量。如果您在低速電路板上只有幾個(gè)RF組件，您可能不想購(gòu)買(mǎi)RF ATE系統(tǒng)。相反，您可以調(diào)整標(biāo)準(zhǔn)ATE夾具來(lái)處理測(cè)試。 （當(dāng)然，您必須在ATE系統(tǒng)中安裝合適的RF儀器。一些在線測(cè)試儀提供RF連接器，便于這些儀器的集成。）

根據(jù)安捷倫科技制造測(cè)試部（Loveland，CO）的應(yīng)用工程師Chuck Clark認(rèn)為，在線測(cè)試幾個(gè)射頻部件的關(guān)鍵是將射頻測(cè)試與其他測(cè)試完全隔離。使用雙嵌套方法（圖4 ），您基本上將測(cè)試夾具分成兩個(gè)子夾具或嵌套。一個(gè)作為標(biāo)準(zhǔn)的釘床，進(jìn)行低頻測(cè)試。當(dāng)這些測(cè)試完成后，您將UUT移動(dòng)到由RF探頭填充的RF嵌套，以進(jìn)行微波測(cè)量。

采用雙嵌套方法時(shí)，請(qǐng)確保在測(cè)試儀的RF探頭電路上使用適當(dāng)?shù)碾娐方K端。一種常見(jiàn)的技術(shù)是使用從被測(cè)節(jié)點(diǎn)到測(cè)試儀的半波長(zhǎng)路徑，在那里您可以在開(kāi)路中終止路徑。這反過(guò)來(lái)導(dǎo)致流入測(cè)試探針的電流最小，因此電路負(fù)載最小（圖5 ）。 T＆amp; MW

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