隨著無線和寬帶應用遍及電子產品，PCB越來越多地受到微波和高速數字和光學組件的影響。這些組件可以擴展傳統電路板測試策略的功能，要求您調整測試設備以處理新產品。

您需要在無線或寬帶上執行的測試類型 - 已啟用的電路板和組件取決于產品設計以及產品必須符合的標準。未經許可的低功耗藍牙功能的測試要求可能相當有限，側重于發射功率和接收器靈敏度。蜂窩通信功能將要求更嚴格的測試要求，要求對相鄰信道功率測量等因素進行測試。

無論您采用何種測試，您都希望盡可能多地使用當前的測試設備。如果您的測試線包括X射線和光學檢測設備，在線測試（ICT）系統和功能板測試儀，您應該能夠將其用于高速產品。

檢測設備可以是最容易適應的，因為它不關心被檢部件的工作頻率。 X射線設備可以很容易地檢查焊接到電路板上的RF元件的焊點，光學檢測設備可以查找正確的部件號和正確的部件對齊。

但是你可能想要收緊你的公差。檢查系統?？赡軐Φ皖l電路性能沒有影響的元件未對準可能在高頻率下是不可接受的 - 在最終功能測試之前，當產品已經被封裝在塑料外殼中時，您希望很好地識別這種情況，從而導致未對準組件無法訪問且無法修復。

在線測試限制

在線測試對于高頻電路板來說可能更難以使用。盡管如此，ICT仍然是制造過程的重要組成部分。例如，如果您要為現有的計算機外圍設備板添加無線通信功能，則可以繼續對低頻節點進行在線測試，將RF測試推遲到最終功能測試。當然，延遲RF測試最終可能會增加成本，因為在生產過程的后期才會發現有故障的RF組件。但是，如果您的RF電路僅包含少量組件，那么這種風險是可以控制的，您可以依靠ICT來檢測電路板上許多基帶組件之間的故障。

單芯片藍牙無線電，用于例如，可能不適合在現有ATE系統上進行在線測試，但許多其他低頻組件也是如此。您可以假設藍牙芯片本身已經過測試并篩選出您公司同意的每百萬質量等級的缺陷。 （2001年9月刊中的一篇文章將討論藍牙測試 - 從芯片到最終產品 - 更詳細。）在線測試之前的檢查階段可以確保正確的藍牙部件安裝和正確焊接，而最終測試可以驗證基本芯片的功能。制造過程不太可能改變設備在協議等因素方面的性能。因此，您可以將藍牙設備的單個快速測試推遲到最終功能測試，同時將ICT應用于電路板上的許多低頻設備，以便及時捕獲絕大多數制造缺陷。

在從蜂窩技術到無線LAN實施的更苛刻的無線技術的多組件實施中，在線測試仍然是有價值的。在這里，在線測試可以對電感等元件進行簡單的電氣測試;再次，RF測試可以推遲到最終功能測試，而ICT可以檢測到低頻設備的故障。

添加RF盒

最終，你需要RF儀器（圖1 ）來測試電路板，子組件和已完成產品的全部功能。一種選擇是將您自己的射頻儀器添加到基本功能測試系統，依靠NI等公司的標準儀器驅動程序將這些儀器連接到您的測試環境?？苫Q虛擬儀器（IVI）基金會（www.ivifoundation.org）正在制定標準，以確保各類儀器之間的兼容性;它首先定義了數字萬用表等低頻儀器的要求，并且正在努力在年底前開發頻譜分析儀等高頻儀器的標準。

除了選擇信號等通用儀器在信號源和頻譜分析儀中，您可以選擇專用于特定光網絡標準或無線通信協議的信號。大多數此類方法涉及IEEE 488儀器，但包括ZTEC在內的公司開始提供CompactPCI格式的RF儀器。 ZTEC提供針對脈沖RF信號測量以及調制和頻譜分析的數字化儀。

如果您正在尋找交鑰匙功能測試系統，您可以使用專為您的產品量身定制的專用測試系統。一些電路板測試ATE供應商，如Agilent Technologies，GenRad和Teradyne，已與RF儀器制造商合作，提供交鑰匙測試平臺。 GenRad的Versa手機測試儀就是這樣一個系統。為了幫助合同測試機構滿足客戶對特定射頻儀器的要求，GenRad將其Versa手機系統與安捷倫科技，Anritsu，IFR，Racal Instruments和Rohde＆amp; Co.等公司的儀器集成。施瓦茨。 GenRad還針對Versa測試高速OC-192光網絡產品，并與Tektronix合作，將后者公司的OTS系列光學測試儀器與Versa功能測試平臺集成。

獲勝組合

您還可以選擇執行傳統在線測試的替代方案以及針對高速電路板的一些功能測試。 Teradyne（圖2 ）和其他公司稱這些系統為組合測試人員。安捷倫科技公司避開術語“組合測試”，但仍提供類似的性能。這些系統提供了對低頻組件的釘床訪問，并為外部儀器建立了通向高速節點的通道。例如，Agilent Technology的3070性能端口允許您將臺式示波器，信號源和頻譜分析儀連接到正在公司3070系列在線測試儀上測試的電路板。

夾具是高速電路板在線測試策略的重要組成部分。釘床固定裝置的觸點可以充當天線，不利地扭曲正在研究的高速信號。為了減輕這些不利影響，您可以采用雙階段夾具方案 - 例如Agilent Technologies的Quick Press夾具中使用的方案（圖3 ）。使用快速按壓方法，長探針可以進行??特定于設備的功能測試。當這些測試完成后，夾具壓縮以使短探針與電路板接觸，允許全板ICT。

在PCB和子組件上包括高速元件使制造測試變得復雜，但新興的測試產品可以幫助你適應。隨著無線和寬帶功能不斷涌入更多產品，您將找到有能力的測試硬件和軟件，幫助您縮短測試工作。 T＆amp; MW