功率場效應晶體管的工作原理
MOSFET的類型很多,按導電溝道可分為P溝道和N溝道;根據柵極電壓與導電溝道出現的關系可分為耗盡型和增強型。功率場效應晶體管一般為N溝道增強型。從結構上看,功率場效應晶體管與小功率的MOS管有比較大的差別。小功率MOS管的導電溝道平行于芯片表面,是橫向導電器件。而P-MOSFET常采用垂直導電結構,稱VMOSFET(Vertical MOSFET),這種結構可提高MOSFET器件的耐電壓、耐電流的能力。圖1給出了具有垂直導電雙擴散MOS結構的VD-MOSFET(Vertical Double-diffused MOSFET)單元的結構圖及電路符號。一個MOSFET器件實際上是由許多小單元并聯組成。
如圖1所示,MOSFET的三個極分別為柵極G、漏極D和源極S。當漏極接正電源,源極接負電源,柵源極間的電壓為零時,P基區與N區之間的PN結反偏,漏源極之間無電流通過。如在柵源極間加一正電壓UGS,則柵極上的正電壓將其下面的P基區中的空穴推開,而將電子吸引到柵極下的P基區的表面,當UGS大于開啟電壓UT時,柵極下P基區表面的電子濃度將超過空穴濃度,從而使P型半導體反型成N型半導體,成為反型層,由反型層構成的N溝道使PN結消失,漏極和源極間開始導電。UGS數值越大,P-MOSFET導電能力越強,ID也就越大。
功率場效應晶體管的特點
(1)開關速度非常快。VMOSFET為多數載流子器件,不存在存貯效應,故開關速度快,其一般低壓器件開關時間為10ns數量級,高壓器件為100ns數量級,適擴合于做高頻功率開關。
(2)高輸入阻抗和低電平驅動。VM0S器件輸入阻抗通常10(7)Ω以上,直流驅動電流為0.1μA數量級,故只要邏輯幅值超過VM0S的閾值電壓(3.5~4V),則可由CM0S和LSTTL及標準TTL等器件直接驅動,驅動電路簡單。
(3)安全工作區寬。VM0S器件無二次擊穿,安全工作區由器件的峰值電流、擊穿電壓的額定值和功率容量來決定,故工作安全,可靠性高。
(4)熱穩定性高。VMOS器件的最小導通電壓由導通電阻決定,其低壓器件的導通電阻很小,但且隨著漏極-源極間電壓的增大而增加,即漏極電流有負的溫度系數,使管耗隨溫度的變化得到一定的自補償。
(5)易于并聯使用。VM0S器件可簡單并聯,以增加其電流容量,而雙極型器件并聯使用需增設均流電阻、內部網絡匹配及其他額外的保護裝置。
(6)跨導高度線性。VM0S器件是一種短溝道器件,當UGS上升到一定值后,跨導基本為一恒定值,這就使其作為線性器件使用時,非線性失真大為減小。
(7)管內存在漏源二極管。VM0S器件內部漏極-源極之間寄生一個反向的漏源二極管,其正向開關時間小于10ns,和快速恢復二極管類似也有一個100ns數量級的反向恢復時間。該二極管在實際電路中可起鉗位和消振作用。
(8)注意防靜電破壞。盡管VM0S器件有很大的輸入電容,不像一般MOS器件那樣對靜電放電很敏感,但由于它的柵極-源極間最大額定電壓約為±20V,遠低于100~2500V的靜電電壓,因此,要注意采取防靜電措施,即運輸時器件應放于抗靜電包裝或導電的泡沫塑料中;拿取器件時要戴接地手鐲,最好在防靜電工作臺上操作;焊接要用接地電烙鐵;在柵極-源極間應接一只電阻使其保持低阻抗,必要時并聯穩壓值為20V的穩壓二極管加以保護。
功率場效應晶體管的參數
(1) 漏源擊穿電壓UDS:決定了功率MOSFET的最高工作電壓。
(2) 柵源擊穿電壓UGS :表征功率MOSFET柵源之間能承受的最高電壓。該參數很重要:因為人體常常帶有高壓靜電,所以在接觸MOS型器件,包括電力MOSFET、普通MOSFET、MOS型集成電路時,可以先用手接觸一下接地的導體,將身體的靜電放掉,否則容易將GS間的絕緣層擊穿。另外,在用烙鐵焊MOS型器件時,應將烙鐵加熱后,拔下電源插座,再焊器件。
(3) 漏極最大電流ID:表征功率MOSFET的電流容量。一般廠家給定的漏極直流(額定)電流ID 是外殼溫度為25度時的值,所以要考慮裕量,一般為3-5倍。
(4) 開啟電壓UT:又稱閾值電壓,指功率MOSFET流過一定量的漏極電流時的最小柵源電壓。
(5) 通態電阻Ron:通態電阻Ron是指在確定柵源電壓UGS下,功率MOSFET處于恒流區時的直流電阻,是影響最大輸出功率的重要參數。
(6) 極間電容:功率MOSFET的極間電容是影響其開關速度的主要因素。其極間電容分為兩類;一類為CGS和CGD,它們由MOS結構的絕緣層形成的,其電容量的大小由柵極的幾何形狀和絕緣層的厚度決定;另一類是CDS,它由PN結構成,其數值大小由溝道面積和有關結的反偏程度決定。
一般生產廠家提供的是漏源短路時的輸入電容Ci、共源極輸出電容Cout及反饋電容Cf,它們與各極間電容關系表達式為:Ci=CGS+CGD Cout=CDS+CGD Cf=CGD,顯然,Ci﹑Cout和Cf均與漏源電容CGD有關。
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