smt加工中的各種檢測(cè)技術(shù)測(cè)試能力的比較

AOI和AⅪ主要進(jìn)行外觀檢查，如橋接、錯(cuò)位、焊點(diǎn)過(guò)大、焊點(diǎn)過(guò)小等，但無(wú)法對(duì)器件本身問(wèn)題及電路性能進(jìn)行檢查。其中AXI能檢測(cè)出BGA等器件的隱藏焊點(diǎn)，以及貼片加工后焊點(diǎn)內(nèi)的氣泡、空洞等不可見缺陷。

ICT和飛針測(cè)試注重于電路功能和元器件性能測(cè)試，如虛焊、開路、短路、元器件失效、用錯(cuò)料等，但無(wú)法測(cè)量少錫和多錫等缺陷。ICT測(cè)試速度快，適合大批量生產(chǎn)的場(chǎng)合;而對(duì)于組裝密度高，引腳間距小等場(chǎng)合則需使用飛針測(cè)試。

組合測(cè)試策略

現(xiàn)在的PCB當(dāng)雙面有SMD時(shí)是非常復(fù)雜的，同時(shí)器件封裝技術(shù)也日趨先進(jìn)，外形趨向于棵芯片大小，這些都對(duì)SMT的板極電路檢測(cè)提出了挑戰(zhàn)。具有較多焊點(diǎn)和場(chǎng)合，但沒有任何一種測(cè)試方法能完全將電路中所有缺陷檢測(cè)出來(lái)，因此需要采用兩種甚至多種

①AO1+ ICT： AOL與ICT結(jié)合已經(jīng)成為生產(chǎn)流程控制的有效工具使用AOI的好處有很多如降低目檢和ICT的人工成本、避免使CT成為提高產(chǎn)能的瓶頸甚至取消ICT、縮短新產(chǎn)品產(chǎn)能，提升周期等。

②AXK+功能測(cè)試：用A檢驗(yàn)取代ICT，可保持高的功能測(cè)試的產(chǎn)出率，并減少故障診斷的負(fù)擔(dān)。值得注意的是，AI可以檢查出許多能由ICT檢驗(yàn)的結(jié)構(gòu)缺陷，AXI還能查出一些ICT查不出的缺陷。同時(shí)，雖然AXI不能查出組件的電氣缺陷，但這些缺陷卻可在功能測(cè)試中檢出。總之，這種組合不會(huì)漏掉制造過(guò)程中產(chǎn)生的任何缺陷。一般來(lái)說(shuō)，板面越大、越復(fù)雜，或者探查越困難，AXI在經(jīng)濟(jì)上的回報(bào)就越大。

③）AXI+ICT：AXI分層法與ICT技術(shù)相結(jié)合是理想的，其中一個(gè)技術(shù)可以補(bǔ)償另一個(gè)技術(shù)的缺點(diǎn)。AXI主要集中檢測(cè)焊點(diǎn)的質(zhì)量，ICT可決定元件的方向和數(shù)值，但不能決定貼片加工焊點(diǎn)是否可接受，特別是大的表面貼裝元件包裝下面的焊點(diǎn)。

通過(guò)使用專門的AXI分層檢查系統(tǒng)，能夠減少平均40％的所要求的節(jié)點(diǎn)數(shù)量。ICT節(jié)點(diǎn)數(shù)的減少，降低了夾具的復(fù)雜性和成本，也得到了更少的誤報(bào)。使用AXI也將ICT處的第一次通過(guò)合。

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