許多工程師把調(diào)試和設(shè)計檢驗等任務(wù)看作純粹的“測量”挑戰(zhàn)，隨即會把示波器或邏輯分析儀看成解決問題的整個方案。但是，這些采集儀器在工作中有一個重要的配套儀器：激勵儀器 - 信號發(fā)生器。

完整的測量系統(tǒng)

一提到電子測量，可能進入人們腦海的第一個東西是采集儀器，其通常是示波器或邏輯分析儀。但是，只有在能夠采集某類信號時，這些工具才能進行測量。在許多情況下，這些信號是沒有的，除非在外部提供信號。

例如，應(yīng)力測量放大器不生成信號，而只是提高其從傳感器中收到的信號功率。類似的，數(shù)字地址總線上的復(fù)用器也不發(fā)起信號，而是引導來自計數(shù)器、寄存器和其它單元的信號流量。但不可避免的是，必需在連接饋電的電路之前測試放大器或復(fù)用器。為使用采集儀器測量這些器件的行為，您必須在輸入上提供激勵信號。

再舉一個例子，工程師必須檢定新出現(xiàn)的電路，保證新硬件在全系列操作范圍及之上的范圍內(nèi)滿足設(shè)計規(guī)范，這稱為余量測試或極限測試。這一測量任務(wù)要求完整的解決方案，這個解決方案要能夠生成信號及進行測量。數(shù)字電路的檢定系列工具與模擬 /混合信號電路不同，但這兩者都必須包括激勵儀器和采集儀器。

信號發(fā)生器或信號源是與采集儀器配套使用的激勵源，構(gòu)成了完整測量解決方案的兩個單元。這兩個工具接在被測器件 (DUT) 的輸入端子和輸出端子上，如圖1所示。在各種配置中，信號發(fā)生器可以以模擬波形、數(shù)字數(shù)據(jù)碼型、調(diào)制、故意失真、噪聲等形式提供激勵信號。為進行有效的設(shè)計、檢定或調(diào)試測量，應(yīng)同時考慮解決方案中的這兩個單元。

圖 1. 大多數(shù)測量要求使用由信號發(fā)生器及采集儀器配套組成的解決方案。觸發(fā)連接簡化了DUT 輸出信號的捕獲工作。

信號發(fā)生器

顧名思義，信號發(fā)生器是作為電子測量激勵源的信號來源。大多數(shù)電路要求某種幅度隨時間變化的輸入信號。信號可以是真實的雙極 AC1信號 ( 峰值在接地參考點上下振蕩 )，也可以在DC偏置 ( 可正可負 ) 范圍內(nèi)變化。它可以是正弦波或其它模擬函數(shù)、數(shù)字脈沖、二進制碼型或純?nèi)我獠ㄐ巍?/span>

信號發(fā)生器可以提供“理想”的波形，它可以在其提供的信號中增加已知的、數(shù)量和類型可重復(fù)的失真 ( 或誤差 )。參見圖2。這一特點是信號發(fā)生器最大的特點，因為通常不可能只使用電路本身在所需的時間和地點創(chuàng)建可以預(yù)測的失真。在存在這些失真的信號時，DUT 響應(yīng)可以揭示其處理落在正常性能條件外的極限情況。

圖 2. ( 上) 理想的波形; ( 下) “實際環(huán)境”波形。通用信號發(fā)生器可以為器件極限測試和檢定提供受控的失真和畸變。

模擬信號還是數(shù)字信號？

目前，大多數(shù)信號發(fā)生器基于數(shù)字技術(shù)。許多信號發(fā)生器可以同時滿足模擬信號和數(shù)字信號要求，但最高效的解決方案通常是為手邊的應(yīng)用 ( 模擬應(yīng)用或數(shù)字應(yīng)用 ) 優(yōu)化功能的信號發(fā)生器。

任意波形發(fā)生器 (AWG) 和函數(shù)發(fā)生器主要針對模擬信號應(yīng)用和混合信號應(yīng)用。這些儀器采用采樣技術(shù)，構(gòu)建和改變幾乎可以想到的任何形狀的波形。一般來說，這些發(fā)生器有 1-4個輸出。在某些 AWG中，還使用單獨的標記輸出 ( 協(xié)助觸發(fā)外部儀器 ) 及以數(shù)字形式表示每個樣點數(shù)據(jù)的同步數(shù)字輸出，以補充這些主要的采樣模擬輸出。

數(shù)字波形發(fā)生器 ( 邏輯源 ) 包括兩類儀器。脈沖發(fā)生器驅(qū)動來自少量輸出的方波或脈沖流，其頻率通常非常高。這些工具最常用于對數(shù)字器件執(zhí)行測試。碼型發(fā)生器也稱為數(shù)據(jù)發(fā)生器或數(shù)據(jù)定時發(fā)生器，一般提供 8 條、16 條或更多的同步數(shù)字脈沖流，作為計算機總線、數(shù)字電信單元等的激勵信號。

圖 3. 信號發(fā)生器可以使用標準波形、用戶創(chuàng)建的波形或捕獲的波形，在需要的地方對專門測試應(yīng)用增加損傷。

基本信號發(fā)生器應(yīng)用

信號發(fā)生器有數(shù)百種不同的應(yīng)用，但在電子測量中， 這些應(yīng)用可以分成三種基本類型：檢驗、檢定和極限/ 余量測試。有代表性的部分應(yīng)用如下：

檢驗

測試數(shù)字模塊化發(fā)射機和接收機

開發(fā)新型發(fā)射機和接收機硬件的無線器件設(shè)計人員必須模擬基帶 I&Q信號，信號中可以帶損傷或不帶損傷，檢驗其是否滿足新興的和專有的無線標準。某些高性能任意波形發(fā)生器可以以高達 12.5 Gbps 的速率提供所需的低失真、高分辨率信號，并支持兩條獨立通道， 一條用于“I”相位，另一條用于“Q”相位。

有時，需要使用實際 RF信號測試接收機。在這種情況下，可以使用采樣率高達200MS/s的任意波形發(fā)生器， 直接合成 RF 信號。

檢定

測試數(shù)模轉(zhuǎn)換器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器

新開發(fā)的數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 和模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 必須進行窮盡測試，以確定其線性度、單調(diào)性和失真的極限。一流的 AWG可以同時生成多個同相的模擬信號和數(shù)字信號，以高達 12.5 Gbps 的速度驅(qū)動這些器件。

極限 / 余量測試

測試通信接收機極限

處理串行數(shù)據(jù)流結(jié)構(gòu) ( 通常用于數(shù)字通信總線和磁盤驅(qū)動器放大器中 ) 的工程師必需使用損傷測試器件極限，特別是抖動和定時超限。通過提供高效的內(nèi)置抖動編輯和發(fā)生工具，高級信號發(fā)生器使工程師節(jié)約了數(shù)不清的時間。這些儀器可以使關(guān)鍵信號邊沿位移最低 20 ps 。

信號發(fā)生技術(shù)

可以通過多種方式，使用信號發(fā)生器創(chuàng)建波形。選擇的方法取決于提供的與 DUT 有關(guān)的信息及其輸入要求；是否需要增加失真或錯誤信號及其它變量。現(xiàn)代高性能信號發(fā)生器為生成波形至少提供了三種方式：

• 創(chuàng)建：全新的電路激勵和測試信號

• 復(fù)制：合成沒有提供的實際環(huán)境信號 ( 從示波器或邏輯分析儀中捕獲 )

• 生成：理想的或極限測試的參考信號，適用于特定容限的行業(yè)標準