國際標準和草案定義了功率半導體（在本例中為IGBT）要指定的大多數參數以及用于測量它們的設置。根據目的對數據進行分類和注釋，以提供有關應用程序和測試的系統方法。

應用的表征原理

在轉換器的設計階段，通常執行Buri或Kolar等人的計算，并執行Ferrieux等人或Scheible的模擬。它們基于確定功率半導體應力的特定轉換器的拓撲，控制方法和操作條件以及半導體數據。這些數據通常由定義極限的最小值和最大值以及提供附加信息的典型值組成。由于功率損耗，正常運行的安全工作區域通常受到擊穿電壓或最高結溫等參數的限制，具體取決于：

Pvi分別是傳導，阻塞，接通和關斷損耗；在以下各節中將進一步考慮它們。可以通過考慮熱容量C（thi）的網絡來替換上述方程式中具有穩態值R（thJA）的計算，并且Zth的電阻值（Rthi）值或曲線與此相對應。

通用動態測試

通用動態測試的原理圖測試儀如圖1所示。右側的被測器件–原理圖顯示了由T1，D1，T2和D2組成的相腳配置的模塊–由兩個柵極驅動器Tr1控制和Tr2。它連接到中間電路L +和L-。歐姆或電感負載通過開關S1或S2連接到后者的正電勢或負電勢，具體取決于要測試的晶體管或二極管與晶體管的組合– T2與D1或T1與D2。開關TT在C1 >> C2的中間電路中最大程度地隔離了緩沖容量–如果被測設備發生故障。測試儀的控制是基于計算機的。在測試過程中監視電壓和電流，然后由計算機分析波形。

圖1電阻或電感開關測試儀

短路測試

已經創建了一種非常堅固的根據圖2的短路測試儀。它的控制放棄了反饋。通過簡單地限制存儲在被測設備T_的電容器C_ {1}或C_ {2}中的能量，可以避免串聯開關對測量的任何干擾（如圖1中的T_ {T}）和該開關可能出現的故障。 {1}或T_ {2}分別連接到：

C為容量，Imax為通過設備的最大短路電流，Tshort，max為所用的最大短路時間，?Umax為短路期間的最大允許電壓衰減。帶有銅板的功率部分的機械布局提供了低電感，因此測試條件與功率半導體器件設計要在其中運行的轉換器中的條件高度對應。

圖2短路測試儀

已經提出了用于表征快速開關功率半導體和包含幾種類型的開關的功率半導體器件的快速開關功率半導體的方法。已經得出了將特征數據用于轉換器的計算和仿真的信息。指出了幾種干擾并給出了方程。它們的使用允許從一般特性中獲取特定于應用的參數。進一步地，得出了不同的測試方法。已經解釋了它們的用法。介紹了最近開發的用于執行測試方法的測試儀。已經指出了不同測試儀概念的優點和局限性，這導致了根據要進行的測量來選擇測試儀類型的選擇。

因此，本文顯示了測試的主題通過通用特性與計算和仿真轉換器的主題相關聯。

編輯：hfy