色哟哟视频在线观看-色哟哟视频在线-色哟哟欧美15最新在线-色哟哟免费在线观看-国产l精品国产亚洲区在线观看-国产l精品国产亚洲区久久

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

ASML研發出晶圓測量設備YieldStar 385

我快閉嘴 ? 來源:創投時報 ? 作者:BU ? 2021-02-20 15:34 ? 次閱讀

ASML是光刻機領域當之無愧的巨頭,獨占100%的EUV光刻機市場。而在半導體檢測設備市場中,ASML也有布局。

ASML交付一臺晶圓測量設備YieldStar 385,該設備可用于3nm制程產線,技術處于行業領先。

測試集成電路性能是半導體檢測設備的主要作用,可以有效提升芯片良品率,并控制成本。

檢測工藝貫穿芯片制造的整個環節,有著“前道量測”之稱。

2020年,ASML交付四套前道量測系統。在量測設備領域,ASML已經深耕十年之久。

2000年,130nm芯片制程被成功攻克,但問題也隨之而來。在檢測130nm芯片時,需要中斷芯片制造,影響進度。

并且,光刻精度的不斷提升,對前道量測也提出了更高的要求。

為此,ASML量測部門希望能打造一款更智能的監測設備,因此開始對YieldStar系列量測設備的攻克。

經過不斷的努力,YieldStar設備成功問世,這套設備能夠將監測資料實時傳送給光刻機,有效提升了芯片良品率。

在前道量測設備領域,ASML也成功走到了行業前列。

前道測量設備與光刻機的重要性不相上下。據SEMI與申港證券研究所公布的一份數據顯示,在晶圓廠制造設備總額中,工藝控制檢測設備的占比約為10%,而光刻設備則為18%。

而且,前道量測設備同光刻機有著較強的關聯性。ASML在光刻機領域的優勢地位,有利于公司打開前道量測設備市場。

同時,隨著半導體產業的逐漸擴張、芯片制程的逐步推進,前道量測設備的市場規模也將進一步擴張。

對于ASML來說,該設備或將成為公司業績新的增長點。不過,在ASML的面前也有著諸多實力強勁的對手。

譬如,身為前道測量設備行業霸主的美國KLA。數據顯示,在這一領域中,KLA的占比高達53%,遠超以12%排名第二名的應用材料。

ASML想要打破KLA的壟斷地位十分不易。

同時,全球唯一一家EUV前道工藝檢測設備制造商——Lasertec,也是不可忽視的對手。

目前,三星、臺積電已經采用Lasertec的EUV檢測設備。隨著先進制程的逐步推進,對于EUV檢測設備的需求量也將更高,未來Lasertec的市場占比也將進一步提升。

面對KLA、Lasertec等行業巨頭的挑戰,最終,在重重壓力之下,ASML將在前道量測設備領域能否大放異彩,讓我們拭目以待。
責任編輯:tzh

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 半導體
    +關注

    關注

    334

    文章

    27298

    瀏覽量

    218120
  • 三星電子
    +關注

    關注

    34

    文章

    15860

    瀏覽量

    180990
  • 晶圓
    +關注

    關注

    52

    文章

    4892

    瀏覽量

    127935
  • ASML
    +關注

    關注

    7

    文章

    718

    瀏覽量

    41230
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦

    背面涂敷工藝對的影響

    一、概述 背面涂敷工藝是在背面涂覆一層特定的材料,以滿足封裝過程中的各種需求。這種工藝不僅可以提高芯片的機械強度,還可以優化散熱性能,確保芯片的穩定性和可靠性。 二、材料選擇
    的頭像 發表于 12-19 09:54 ?176次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>背面涂敷工藝對<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>的影響

    的TTV,BOW,WARP,TIR是什么?

    ,指在其直徑范圍內的最大和最小厚度之間的差異。 測量方法:在未緊貼狀態下,測量
    的頭像 發表于 12-17 10:01 ?177次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>的TTV,BOW,WARP,TIR是什么?

    提高SiC平整度的方法

    提高SiC(碳化硅)平整度是半導體制造中的一個重要環節,以下是一些提高SiC平整度的方法: 一、測量與分析 平整度檢測:首先,使用
    的頭像 發表于 12-16 09:21 ?170次閱讀
    提高SiC<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>平整度的方法

    簡儀科技助力實現溫度的精準測量

    在半導體行業,的制造、設計、加工、封裝等近千道工藝環節中,溫度始終貫穿其中。溫度的精密監測對于確保的質量和最終產品的性能至關重要。微小的溫度波動可能對電路的穩定性、可靠性以及功
    的頭像 發表于 12-04 15:57 ?177次閱讀
    簡儀科技助力實現<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>溫度的精準<b class='flag-5'>測量</b>

    如何測量表面金屬離子的濃度

    ??? 本文主要介紹如何測量表面金屬離子的濃度。??? 金屬離子濃度為什么要嚴格控制????? 金屬離子在電場作用下容易發生遷移。如Li?,Na?、K?等可遷移到柵氧化層,導致閾值電壓
    的頭像 發表于 11-26 10:58 ?118次閱讀
    如何<b class='flag-5'>測量</b><b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>表面金屬離子的濃度

    深視智能SCI系列光譜共焦位移傳感器對射測量半導體厚度

    01項目背景作為半導體芯片的基礎載體,其厚度的精確控制直接影響到芯片的性能、可靠性和最終產品的成品率。通過準確的厚度測量,可以確保芯
    的頭像 發表于 11-12 01:08 ?157次閱讀
    深視智能SCI系列光譜共焦位移傳感器對射<b class='flag-5'>測量</b>半導體<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>厚度

    淺談影響分選良率的因素(2)

    制造良率部分討論的工藝變化會影響分選良率。在制造區域,通過抽樣檢查和測量技術檢測工藝變化。檢查抽樣的本質是并非所有變化和缺陷都被檢
    的頭像 發表于 10-09 09:45 ?494次閱讀
    淺談影響<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>分選良率的因素(2)

    淺談影響分選良率的因素(1)

    制造后,被送到分選測試儀。在測試期間,每個芯片都會進行電氣測試,以檢查設備規范和功能。每個電路可能執行數百個單獨的電氣測試。雖然這些
    的頭像 發表于 10-09 09:43 ?356次閱讀
    淺談影響<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>分選良率的因素(1)

    制造良率限制因素簡述(2)

    相對容易處理,并且良好的實踐和自動設備已將斷裂降至低水平。然而,砷化鎵
    的頭像 發表于 10-09 09:39 ?478次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>制造良率限制因素簡述(2)

    考拉悠然國內首臺玻璃基Micro LED量檢測設備正式完成出貨

    考拉悠然自主研發的國內首臺玻璃基Micro LED量檢測設備近日正式完成出貨。這標志著考拉悠然已完成產品的技術研發并獲得客戶認可,同時具
    的頭像 發表于 08-10 11:18 ?524次閱讀

    碳化硅和硅的區別是什么

    以下是關于碳化硅和硅的區別的分析: 材料特性: 碳化硅(SiC)是一種寬禁帶半導體材料,具有比硅(Si)更高的熱導率、電子遷移率和擊穿電場。這使得碳化硅
    的頭像 發表于 08-08 10:13 ?1412次閱讀

    北方華創微電子:清洗設備定位裝置專利

    該發明涉及一種清洗設備定位裝置、定位方法。其中,
    的頭像 發表于 05-28 09:58 ?387次閱讀
    北方華創微電子:<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>清洗<b class='flag-5'>設備</b>及<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>定位裝置專利

    表面特性和質量測量的幾個重要特性

    用于定義表面特性的 TTV、彎曲和翹曲術語通常在描述表面光潔度的質量時引用。首先定義以下術語以描述
    發表于 04-10 12:23 ?6810次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>表面特性和質量<b class='flag-5'>測量</b>的幾個重要特性

    TC WAFER 測溫系統 儀表化溫度測量

    “TC WAFER 測溫系統”似乎是一種用于測量(半導體制造中的基礎材料)溫度的系統。在半導體制造過程中,
    的頭像 發表于 03-08 17:58 ?1019次閱讀
    TC WAFER   <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>測溫系統 儀表化<b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>溫度<b class='flag-5'>測量</b>

    鍵合設備及工藝

    隨著半導體產業的飛速發展,鍵合設備及工藝在微電子制造領域扮演著越來越重要的角色。鍵合技術是一種將兩個或多個
    的頭像 發表于 12-27 10:56 ?1472次閱讀
    <b class='flag-5'>晶</b><b class='flag-5'>圓</b>鍵合<b class='flag-5'>設備</b>及工藝
    主站蜘蛛池模板: 20岁αsrian男同志免费| 热久久2018亚洲欧美| 久久免费电影| 男女车车的车车网站W98免费| 久久综合久综合久久鬼色| 女生扒开下面| 日韩中文无线码在线视频| 双性将军粗壮H灌满怀孕| 亚洲国产成人精品久久久久 | 魔乳 堕乳漫画acg产卵| 暖暖视频在线观看高清...| 奇米狠狠一区二区三区| 亚洲99精品A片久久久久久| 一个人的视频在线观看免费观看 | 18日本人XXXXXX18| VIDEOSGGRATIS欧美另类| 国产精品高潮AV久久无码| 久久4k岛国高清一区二区| 欧美z000z猪| 亚洲mv在线观看| 97色伦图片97色伦图影院久久| 钉钉女老师| 两性午夜刺激爽爽视频| 色悠久久综合| 70岁妇女牲交色牲片| 国产精品久久久久久免费字体| 两个奶被男人揉了一个晚上| 睡觉被偷偷进入magnet| 5g天天奭视频| 国产在线观看www| 日韩a在线看免费观看视频| 一受n攻高h全肉np| 国产精品爽爽久久久久久竹菊 | 精品国产在线亚洲欧美| 色妺妺免费影院| 97碰成视频免费| 久久精品亚洲视频| 亚洲高清一区二区三区电影 | 日产2021免费一二三四区在线| 在教室做啊好大用力| 狠狠干狠狠色|