作者：徐偉東;宣偉民;王英翹

本文提出并介紹了歐姆邏輯無(wú)環(huán)流檢測(cè)的一種方案——晶閘管整流器全關(guān)斷檢測(cè)，并與軟件檢測(cè)和電流互感器檢測(cè)進(jìn)行比較分析，最終得出晶閘管全關(guān)斷檢測(cè)方案準(zhǔn)確可行的結(jié)論。全關(guān)斷的輸出信號(hào)與上述兩種信號(hào)進(jìn)行綜合利用，從而準(zhǔn)確可靠地實(shí)現(xiàn)了歐姆的邏輯無(wú)環(huán)流控制。

1引 言

中國(guó)環(huán)流器2號(hào)A（HL—2A）是中國(guó)第一個(gè)具有偏濾器位形的大型受控核聚變研究裝置，其主機(jī)由德國(guó)ASDEX裝置主機(jī)主要部件經(jīng)適當(dāng)改造而成，其磁場(chǎng)線圈所需的供電系統(tǒng)及其它的配套系統(tǒng)則完全由我院自行研制。

歐姆線圈（OH）在HL—2A中的作用是擊穿氣體、建立、維持并加熱等離子體電流，因而為其供電的歐姆電源在裝置實(shí)驗(yàn)中起著非常重要的作用。歐姆電源如圖1所示，有正負(fù)各兩組共計(jì)四組電源。

圖1 歐姆電源示意圖

其中1號(hào)和3號(hào)整流柜為正組，2號(hào)和4號(hào)整流柜為負(fù)組，正組輸出電壓1600V，負(fù)組800V，兩組的輸出電流都是30kA。

隨著實(shí)驗(yàn)的深入，實(shí)驗(yàn)需求參數(shù)的不斷提高，就要求實(shí)現(xiàn)歐姆電源正負(fù)組的無(wú)環(huán)流運(yùn)行。歐姆電源的邏輯無(wú)環(huán)流運(yùn)行可分為以下幾個(gè)階段，正組整流階段為歐姆線圈充磁，開(kāi)始放電時(shí)正組整流器快速進(jìn)入逆變段，將氣體擊穿、維持等離子體電流上升，在正組電流過(guò)零后將正組封鎖，緊接著負(fù)組以整流狀態(tài)投入工作，繼續(xù)推動(dòng)等離子體電流上升并維持平頂，平頂結(jié)束后負(fù)組以逆變方式控制等離子體電流下降，電流過(guò)零后封鎖負(fù)組，完成一次放電。對(duì)實(shí)驗(yàn)來(lái)講，要實(shí)現(xiàn)邏輯無(wú)環(huán)流并確保裝置的安全，最關(guān)鍵的技術(shù)就是歐姆電流的過(guò)零檢測(cè)。

為了檢測(cè)歐姆的過(guò)零情況，可靠地實(shí)現(xiàn)邏輯無(wú)環(huán)流控制，對(duì)比實(shí)際情況，我們開(kāi)發(fā)研制了晶閘管全關(guān)斷檢測(cè)電路板。

2幾種關(guān)斷檢測(cè)方法的比較

要實(shí)現(xiàn)邏輯無(wú)環(huán)流的準(zhǔn)確穩(wěn)定運(yùn)行，最關(guān)鍵的是如何準(zhǔn)確判斷正組整流器的全關(guān)斷時(shí)刻。因?yàn)槿绻袛嚓P(guān)斷提前，而實(shí)際上正組整流器還沒(méi)有全關(guān)斷，這時(shí)按設(shè)定的邏輯程序就把負(fù)組整流器開(kāi)通，正組整流器和負(fù)組整流器之間就會(huì)形成大環(huán)流，則對(duì)電源設(shè)備的安全構(gòu)成嚴(yán)重危害;如果判斷關(guān)斷延后，正組整流器和負(fù)組整流器之間切換的死區(qū)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，則影響裝置放電以至放電失敗。

全關(guān)斷檢測(cè)對(duì)電源系統(tǒng)安全和裝置放電的穩(wěn)定有著重要的影響。通常采用檢測(cè)整流器的直流輸出電流是否過(guò)零來(lái)判斷其是否關(guān)斷，習(xí)慣上就叫做過(guò)零檢測(cè)，下面是對(duì)幾種檢測(cè)方法的分析和比較。

2.1 軟件過(guò)零檢測(cè)方法

采用直流傳感器的信號(hào)，經(jīng)過(guò)采集板卡送入計(jì)算機(jī)，預(yù)先設(shè)置一個(gè)比較值，通過(guò)程序來(lái)比較，在檢測(cè)到電流值小于這個(gè)值的時(shí)候，則認(rèn)為過(guò)零，由于大電流傳感器測(cè)量精度的局限性和現(xiàn)場(chǎng)干擾嚴(yán)重，容易造成誤判，而且過(guò)零檢測(cè)程序與復(fù)雜的裝置放電控制程序編在一起，只檢測(cè)第一次過(guò)零，在電流出現(xiàn)波動(dòng)時(shí)，它不能判斷再過(guò)零，如圖2所示。

圖2軟件檢測(cè)過(guò)零時(shí)電流出現(xiàn)波動(dòng)時(shí)過(guò)零判斷示意圖

其中Utk2-OH為軟件檢測(cè)過(guò)零信號(hào)，I-OH為歐姆電源電流，因?yàn)榛ジ衅鳒y(cè)量方向接反，所以歐姆電流顯示為負(fù)（下同）。當(dāng)過(guò)零信號(hào)反轉(zhuǎn)時(shí)，實(shí)際上還有一定電流，整流器并沒(méi)有真正關(guān)斷，且處于續(xù)流狀態(tài)。如果放電正常，通過(guò)軟件延時(shí)適當(dāng)時(shí)間，可以控制在正組整流器真正關(guān)斷時(shí)再開(kāi)通負(fù)組整流器，其轉(zhuǎn)換死區(qū)時(shí)間的長(zhǎng)短取決于傳感器的測(cè)量精度和程序速度。但如果放電不正常，正好在過(guò)零信號(hào)反轉(zhuǎn)，軟件延時(shí)時(shí)，等離子體電流破裂，其能量耦合到歐姆原邊，正組電流增加，續(xù)流時(shí)間增長(zhǎng)，軟件又只檢測(cè)出一個(gè)過(guò)零點(diǎn)，如果在軟件延時(shí)（固定值）結(jié)束后開(kāi)通負(fù)組整流器，此時(shí)正組整流器還在續(xù)流，將產(chǎn)生環(huán)流。

采用直流傳感器的信號(hào)，經(jīng)過(guò)采集板卡送入計(jì)算機(jī)，預(yù)先設(shè)置一個(gè)比較值，通過(guò)程序來(lái)比較，在檢測(cè)到電流值小于這個(gè)值的時(shí)候，則認(rèn)為過(guò)零，由于大電流傳感器測(cè)量精度的局限性和現(xiàn)場(chǎng)干擾嚴(yán)重，容易造成誤判，而且過(guò)零檢測(cè)程序與復(fù)雜的裝置放電控制程序編在一起，只檢測(cè)第一次過(guò)零，在電流出現(xiàn)波動(dòng)時(shí)，它不能判斷再過(guò)零，如圖2所示。其中Utk2-OH為軟件檢測(cè)過(guò)零信號(hào)，I-OH為歐姆電源電流，因?yàn)榛ジ衅鳒y(cè)量方向接反，所以歐姆電流顯示為負(fù)（下同）。

當(dāng)過(guò)零信號(hào)反轉(zhuǎn)時(shí)，實(shí)際上還有一定電流，整流器并沒(méi)有真正關(guān)斷，且處于續(xù)流狀態(tài)。如果放電正常，通過(guò)軟件延時(shí)適當(dāng)時(shí)間，可以控制在正組整流器真正關(guān)斷時(shí)再開(kāi)通負(fù)組整流器，其轉(zhuǎn)換死區(qū)時(shí)間的長(zhǎng)短取決于傳感器的測(cè)量精度和程序速度。但如果放電不正常，正好在過(guò)零信號(hào)反轉(zhuǎn)，軟件延時(shí)時(shí)，等離子體電流破裂，其能量耦合到歐姆原邊，正組電流增加，續(xù)流時(shí)間增長(zhǎng)，軟件又只檢測(cè)出一個(gè)過(guò)零點(diǎn)，如果在軟件延時(shí)（固定值）結(jié)束后開(kāi)通負(fù)組整流器，此時(shí)正組整流器還在續(xù)流，將產(chǎn)生環(huán)流。

2.2硬件過(guò)零檢測(cè)方法

此方法用硬件來(lái)實(shí)現(xiàn)，采用霍爾元件測(cè)得歐姆整流器正組總電流信號(hào)來(lái)作為輸入信號(hào)，在正常工作的時(shí)候也可以準(zhǔn)確檢測(cè)出關(guān)斷時(shí)刻，但是在電源出現(xiàn)某些異常情況時(shí)，如逆變失敗或電流不為零時(shí)提前封鎖，電流又恰好是在零點(diǎn)附近，則該檢測(cè)方法會(huì)多次顯示過(guò)零情況。而此方法檢測(cè)出第一次過(guò)零信號(hào)時(shí)，實(shí)際上整流器不一定是全關(guān)斷的，只是因?yàn)殡娫茨硟上嗟碾妷和ㄟ^(guò)某一對(duì)晶閘管加到OH線圈上，在一直流激磁電流的基礎(chǔ)上，不斷地對(duì)其激磁消磁， OH線圈能量并通過(guò)回路電阻消耗，直到OH線圈的直流電流衰減到零，整流器真正關(guān)斷。如圖3所示。

圖3硬件過(guò)零檢測(cè)提前封鎖時(shí)的波形

其中V-OH為歐姆電源電壓，Utk1-OH為硬件檢測(cè)過(guò)零信號(hào)。

2.3管壓降過(guò)零檢測(cè)方法

鑒于以上兩種方法各自的缺陷，現(xiàn)在采用一種新的檢測(cè)方法，通過(guò)檢測(cè)晶閘管兩端的管壓降來(lái)判斷是否完全關(guān)斷。這是一種直接有效的方法，如果所有的管子都關(guān)斷，則負(fù)載中沒(méi)有電流，管壓降為幾百伏，如果還有管子導(dǎo)通，則負(fù)載中還有電流，管壓降則為幾伏，通過(guò)對(duì)管壓降的檢測(cè)來(lái)判斷是否全關(guān)斷，即可判斷是否有負(fù)載電流。針對(duì)這種特點(diǎn)，設(shè)計(jì)了晶閘管全關(guān)斷檢測(cè)電路。

為了可靠判斷晶閘管關(guān)斷，取相電壓的15度時(shí)為判斷的時(shí)刻=700×0.25=175V，即當(dāng)管子兩端電壓高于175V時(shí)，判斷管子為關(guān)斷狀態(tài);當(dāng)管子兩端電壓小于175V時(shí)，判斷管子為導(dǎo)通狀態(tài)，如圖4。

圖4全關(guān)斷檢測(cè)原理分析

（a）分別是A、B、C三相電壓，（b）、（c）、（d）分別是共陰極組的三個(gè)晶閘管的狀態(tài)信號(hào)，它包括正向電壓和反向電壓，中間有30度的低電平，將b、c、d三個(gè)信號(hào)相與，得到一個(gè)脈沖系列信號(hào)e，表示管子已全部關(guān)斷。經(jīng)此信號(hào)用一個(gè)單穩(wěn)整形為電平信號(hào)，用來(lái)表示關(guān)斷信號(hào)。

3晶閘管全關(guān)斷檢測(cè)電路

圖5即為晶閘管全管斷電路原理圖。

圖5 全關(guān)斷檢測(cè)電路原理圖

每個(gè)晶閘管兩端分別分壓，按正反方向接兩個(gè)光耦，當(dāng)管子兩端為正電壓時(shí)，其中一個(gè)光耦導(dǎo)通，如果管子兩端為負(fù)電壓時(shí)，另一個(gè)光耦導(dǎo)通，光耦導(dǎo)通時(shí)輸出信號(hào)都為1，否則為0。將這兩個(gè)信號(hào)進(jìn)行“或”處理，得到一個(gè)信號(hào)，如果“或”之后的信號(hào)（即一個(gè)晶閘管的信號(hào)）仍然為1時(shí)，則可判斷此晶閘管為關(guān)斷狀態(tài)，反之則為導(dǎo)通狀態(tài)。

六個(gè)晶閘管的信號(hào)“與”之后的信號(hào)為1時(shí)，判斷此時(shí)為晶閘管全關(guān)斷狀態(tài)。通過(guò)調(diào)節(jié)單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器RC與C的電阻及電容，使其輸出高電平保持60 ，這樣能保證準(zhǔn)確反映脈沖狀態(tài)，所有管子關(guān)斷時(shí)就為高電平，當(dāng)60 后無(wú)脈沖，則無(wú)高電平輸出。也就是說(shuō)，只要有晶閘管導(dǎo)通，則輸出的狀態(tài)信號(hào)就為0。因而在等離子體破裂時(shí)，導(dǎo)致正組續(xù)流時(shí)間增長(zhǎng)，就會(huì)有低電平輸出。

在此電路中，光耦工作在線性區(qū)，至少是在正弦波的下部是工作在線性區(qū)，即在正弦波底部電壓很低的情況下，光耦也能導(dǎo)通，真實(shí)反映晶閘管兩端承受的電壓。而正弦波電壓較高的那部分更能使光耦導(dǎo)通。現(xiàn)在以一個(gè)光耦的輸出為例來(lái)介紹板子的工作原理。

先假設(shè)一個(gè)光耦導(dǎo)通，其輸出的信號(hào)經(jīng)過(guò)三極管放大，分成三路分別通過(guò)三個(gè)比較器，其中一個(gè)同相比較器，兩個(gè)反相比較器。同相比較器是用來(lái)得到脈沖的前沿，當(dāng)正弦波電壓達(dá)到比較電平時(shí)，比較器翻轉(zhuǎn)產(chǎn)生一個(gè)上升沿，它的輸出接到一個(gè)D觸發(fā)器的時(shí)鐘端，Q端開(kāi)始為“1”;當(dāng)正弦波電壓達(dá)到反相比較器比較電平時(shí);也產(chǎn)生一個(gè)上升沿，這個(gè)上升沿經(jīng)過(guò)一個(gè)單穩(wěn)后送到D觸發(fā)器的復(fù)位端使Q端變?yōu)椤?”，也就是確定了脈沖的后沿。經(jīng)過(guò)這個(gè)環(huán)節(jié)，正弦波已經(jīng)被整形為方波。

另外一個(gè)反相比較器的作用是確保能找到一個(gè)能使D觸發(fā)器復(fù)位的一個(gè)信號(hào)，這是因?yàn)槿绻笱乇容^電平比前沿比較電平高，就有可能出現(xiàn)在檢測(cè)到前沿以后晶閘管導(dǎo)通，晶閘管兩端電壓只有幾伏，就找不到后沿，D觸發(fā)器的輸出就一直為“1”，錯(cuò)誤的反映了管子狀態(tài)。所以這個(gè)比較器的比較電平必須設(shè)置在前沿比較器的比較電平之下，它的輸出和另外一個(gè)反相比較器的輸出相“或”，連接到單穩(wěn)的輸入端;對(duì)應(yīng)正、反向光耦最終的輸出信號(hào)相“或”后，再與其他六路信號(hào)相“與”，得到全關(guān)斷信號(hào)。

4調(diào)試結(jié)果

首先用標(biāo)準(zhǔn)的正弦波信號(hào)源對(duì)高隔離電壓光電耦合器的工作點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整，盡量在要檢測(cè)的電壓范圍內(nèi)使其延時(shí)時(shí)間短，且光耦的性能基本一致，再能過(guò)比較器調(diào)節(jié)各路輸出的一致性。

由于歐姆電源工作在脈沖運(yùn)行方式，現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試比較困難，通過(guò)每一次放電記錄的數(shù)據(jù)，把每一路的信號(hào)再進(jìn)行優(yōu)化調(diào)整，使其能正常工作，能夠準(zhǔn)確檢測(cè)到正組整流器電流過(guò)零時(shí)刻，如圖6，其中Utk3-OH為晶閘管全關(guān)斷檢測(cè)過(guò)零信號(hào)。

圖6全關(guān)斷過(guò)零檢測(cè)示意圖

該晶閘管全關(guān)斷檢測(cè)電路不僅在理論上能夠真實(shí)反映管子全關(guān)斷時(shí)刻，并且在實(shí)驗(yàn)運(yùn)行中得到了良好地應(yīng)用，在OH電源假負(fù)載的條件下，進(jìn)行的邏輯無(wú)環(huán)流實(shí)驗(yàn)中，全關(guān)斷信號(hào)與其它過(guò)零信號(hào)（軟件過(guò)零檢測(cè)信號(hào)、硬件過(guò)零檢測(cè)信號(hào)和等離子體存在信號(hào)）綜合作為整流器是否關(guān)斷的判據(jù)，起到了較好的效果。實(shí)驗(yàn)中是在全關(guān)斷信號(hào)出現(xiàn)后，延時(shí)6ms， 如果上述三個(gè)信號(hào)同時(shí)存在，則負(fù)組打開(kāi)的條件滿足，這為實(shí)驗(yàn)裝置的安全提供了保證，實(shí)驗(yàn)參數(shù)得到很大提高。

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