隨著下游新能源汽車、充電樁、光伏、5G基站等領域的爆發,引爆了對第三代半導體——碳化硅材料襯底、外延與器件方面的巨大市場需求,國內眾多企業紛紛通過加強技術研發與資本投入布局碳化硅產業,今天我們首先來探討一下碳化硅襯底的國產化進程。
◆ 碳化硅襯底類型
碳化硅分為立方相(閃鋅礦結構)、六方相(纖鋅礦結構)和菱方相3大類共 260多種結構,目前只有六方相中的 4H-SiC、6H-SiC才有商業價值。另碳化硅根據電學性能的不同主要可分為高電阻(電阻率 ≥105Ω·cm)的半絕緣型碳化硅襯底和低電阻(電阻率區間為 15~30mΩ·cm)的導電型碳化硅襯底,滿足不同功能芯片需求,其中:
半絕緣型碳化硅襯底主要應用于制造氮化鎵射頻器件。通過在半絕緣型碳化硅襯底上生長氮化鎵外延層,制得碳化硅基氮化鎵外延片,可進一步制成氮化鎵射頻器件;
導電型碳化硅襯底主要應用于制造功率器件。與傳統硅功率器件制作工藝不同,碳化硅功率器件不能直接制作在碳化硅襯底上,需在導電型襯底上生長碳化硅外延層得到碳化硅外延片,并在外延層上制造各類功率器件。
大尺寸碳化硅襯底有助于實現降本增效,已成主流發展趨勢。襯底尺寸越大,單位襯底可生產更多的芯片,因而單位芯片成本越低,同時邊緣浪費的減少將進一步降低芯片生產成本。目前業內企業量產的碳化硅襯底主要以4英寸和6英寸為主,在半絕緣型碳化硅市場,目前襯底規格以4英寸為主;而在導電型碳化硅市場,目前主流的襯底產品規格為6英寸。國際巨頭CREE、II-VI以及國內的爍科晶體都已成功研發8英寸襯底產品。
◆ 碳化硅單晶制備技術
碳化硅襯底制備技術包括 PVT 法(物理氣相傳輸法)、溶液法和HTCVD法(高溫氣相化學沉積法)等,目前國際上基本采用PVT法制備碳化硅單晶。 SiC單晶生長經歷3個階段,分別是Acheson法、Lely法、改良Lely法。
利用SiC高溫升華分解特性,可采用升華法即Lely法來生長SiC晶體,它是把SiC粉料放在石墨坩堝和多孔石墨管之間,在惰性氣體(氬氣)環境溫度為 2 500℃的條件下進行升華生長,可以生成片狀SiC晶體。
但Lely法為自發成核生長方法,較難控制所生長SiC晶體的晶型,且得到的晶體尺寸很小,后來又出現了改良的Lely法,即PVT 法(物理氣相傳輸法),其優點在于:采用SiC籽晶控制所生長晶體的晶型,克服了Lely法自發成核生長的缺點,可得到單一晶型的SiC單晶,且可生長較大尺寸的SiC單晶。
◆ 為何半絕緣型與導電型碳化硅襯底技術壁壘都比較高?
PVT方法中SiC粉料純度對晶片質量具有較大影響。粉料中一般含有極微量的氮(N),硼(B)、鋁(Al)、鐵(F e)等雜質,其中氮是n型摻雜劑,在碳化硅中產生游離的電子,硼、鋁是p型摻雜劑,產生游離的空穴。
為了制備n型導電碳化硅晶片,在生長時需要通入氮氣,讓它產生的一部分電子中和掉硼、鋁產生的空穴(即補償),另外的游離電子使碳化硅表現為n型導電。
為了制備高阻不導電的碳化硅(半絕緣型),在生長時需要加入釩(V)雜質,釩既可以產生電子,也可以產生空穴,讓它產生的電子中和掉硼、鋁產生的空穴(即補償),它產生的空穴中和掉氮產生的電子,所以所生長的碳化硅幾乎沒有游離的電子、空穴,形成高阻不導電的晶片(半絕緣型)。
摻釩工藝復雜,所以半絕緣碳化硅很難制備,成本很高。近年來也出現了通過點缺陷來實現高阻半絕緣碳化硅的方法。p型導電碳化硅也不容易制備,特別是低阻的p型碳化硅更不容易制備。
◆ 下游市場需求強勁,碳化硅襯底市場迎來黃金成長期
導電型碳化硅襯底方面,受益于新能源汽車逆變器的巨大需求,將保持高速增長態勢,根據中國寬禁帶功率半導體及應用產業聯盟的數據顯示,預計2020-2025年國內市場的需求,4英寸逐步從10萬片市場減少到5萬片,6英寸晶圓將從8萬片增長到20萬片;2025~2030年:4英寸晶圓將逐漸退出市場,6英寸晶圓將增長至40萬片。
半絕緣型碳化硅襯底方面,受下游5G基站強勁需求驅動,碳化硅基氮化鎵高頻射頻器件將逐步加強市場滲透,市場空間廣闊,預計2020-2025年國內市場的需求,4英寸逐步從5萬片市場減少到2萬片,6英寸晶圓將從5萬片增長到10萬片;2025~2030年:4英寸晶圓將逐漸退出市場,保守估計6英寸晶圓將增長至20萬片。
◆ 碳化硅襯底國產化進程大提速
全球碳化硅襯底代表企業主要有CREE、II-VI、SiCrystal,國際龍頭企業相比國內企業由于起步早,在產業化經驗、技術成熟度、產能規模等方面具備領先優勢,搶占了全球碳化硅襯底絕大部分的市場份額。
隨著下游終端市場,新能源汽車、光伏、5G基站等領域的快速增長,為上游碳化硅襯底提供了巨大的市場活力,國內以山東天岳、天科合達、爍科晶體等為代表的企業紛紛跑馬圈地碳化硅襯底市場,通過加強技術研發與資本投入,逐漸掌握了4英寸至6英寸,甚至8英寸的碳化硅襯底制造技術,縮小了與國際龍頭之間技術與產能方面的差距。
編輯:jq
原文標題:碳化硅襯底的國產化進程
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