摘要:降低信號的傳輸損耗對于保證高速PCB的電氣性能至關(guān)重要,文章采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀分析了高速板材、銅箔類型、玻纖布類型、阻焊油墨、粗化藥水、表面處理工藝等材料及加工工藝的選擇對高速PCB的損耗性能的影響強弱,探討了如何降低高速PCB的插入損耗,可為高速PCB的選材和加工工藝設(shè)計提供參考。
關(guān)鍵詞:高速電路板;高速材料;加工工藝;插入損耗;信號完整性
0引言
隨著高速互聯(lián)鏈路信號傳輸速率的不斷提高,作為器件和信號傳輸?shù)妮d體,印制電路板(PCB)的信號完整性對通信系統(tǒng)的電氣性能影響越來越突出。尤其是隨著10G和25G+產(chǎn)品的大規(guī)模商用,對PCB插入損耗(Insertion Loss)的監(jiān)控是高速產(chǎn)品研發(fā)和量產(chǎn)過程中管控的重要指標(biāo)。
對于高速PCB而言,在設(shè)計時需要考量材料的選擇及設(shè)計等是否滿足信號完整性要求,這就要求盡量減小信號的傳輸損耗。根據(jù)電磁場和微波理論,PCB傳輸損耗主要由介質(zhì)損耗、導(dǎo)體損耗和輻射損耗三部分組成[1]。其中,介質(zhì)損耗是指電場通過介質(zhì)時,由于介質(zhì)分子交替極化和晶格不斷碰撞而產(chǎn)生的熱損耗;導(dǎo)體損耗是由于導(dǎo)體不理想,存在損耗電阻,在電流通過時發(fā)熱而引起的損耗,其主要影響因素是導(dǎo)體的電阻、電流分布(趨膚效應(yīng))和導(dǎo)體的表面粗糙度;輻射損耗是微帶線場結(jié)構(gòu)的半開放性所導(dǎo)致的電磁波輻射損耗,一般而言,這部分損耗很小。因此,對于高速PCB,信號傳輸損耗主要為介質(zhì)損耗和導(dǎo)體損耗。其中,高速信號在傳輸過程中的介質(zhì)損耗與材料的介電常數(shù)、損耗因子及傳輸頻率等因素有關(guān),近似計算公式可表示為:其中:αd為信號的介質(zhì)損耗,k為常數(shù),f為傳輸頻率,tanδ為介質(zhì)損耗因子,εr為材料的相對介電常數(shù)。而導(dǎo)體損耗主要包括趨膚效應(yīng)導(dǎo)致的熱損耗和導(dǎo)體粗糙度導(dǎo)致的反射和疊加損耗兩方面,其中,趨膚效應(yīng)導(dǎo)致的熱損耗隨傳輸頻率的增加而增大,而導(dǎo)體粗糙度越大,信號傳輸時產(chǎn)生的“駐波”和“反射”等越大,信號損耗越大[2]。因此,降低PCB的插入損耗主要通過以下途徑實現(xiàn):①實現(xiàn)高密度布線,從而縮短信號傳輸距離,降低信號傳輸損失;②采用具有低損耗特性的PCB材料;③采用低粗糙度的銅箔,并在加工過程中降低工藝對粗糙度的影響。
PCB的高速化發(fā)展對PCB材料、設(shè)計以及加工工藝等提出了更高的要求,為了減小信號在傳輸過程中的介質(zhì)損耗,業(yè)內(nèi)在近些年開發(fā)推出了大量的低介電常數(shù)(Dk)/低損耗因子(Df)的覆銅板、半固化片材料和低損耗阻焊油墨等[3, 4]。同時,為了降低趨膚效應(yīng)及銅箔粗糙度引起的導(dǎo)體損耗,在高速PCB中越來越多地采用低粗糙度銅箔,如RTF、VLP、HVLP等。另外,當(dāng)PCB設(shè)計和材料等確定后,加工工藝的選擇亦會對高速PCB的損耗性能產(chǎn)生不可忽視的影響。
文章通過選用不同的PCB材料及加工工藝,采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀綜合分析了高速板材、銅箔類型、玻纖布類型、阻焊油墨、粗化藥水及表面處理工藝等對高速PCB插入損耗特性的影響強弱,可為高速PCB的選材和加工工藝設(shè)計等提供參考。
1試驗方法
1.1 試驗材料及儀器
材料:低損耗覆銅板和半固化片,HTE、RTF和HVLP銅箔,低損耗阻焊油墨,低粗糙度藥水等。
測試儀器:阻抗和損耗采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試(上升時間為22.3 ps,頻寬為20 GHz)。
1.2 試驗設(shè)計
試驗設(shè)計6層板,Top層、L3層和L5層為走線層,單端和差分信號線的阻抗分別設(shè)計為50 Ω和100 Ω,采用FD法測試插入損耗,TRL(Thru-Reflect-Line)方式進行校正。
試板分別選用不同的材料或加工工藝制作,從而評估材料或加工工藝等對PCB插入損耗的影響。
流程設(shè)計:開料→內(nèi)層圖形→內(nèi)AOI→棕化→層壓→鉆孔→等離子→沉銅→板鍍→鍍錫→背鉆→退錫→外層干膜→圖形電鍍→外層蝕刻→外AOI→阻焊→表面處理→阻抗測試→銑板→……
2結(jié)果與討論
2.1 高速材料的選擇對高速PCB損耗性能的影響
2.1.1 不同等級高速板材對高速PCB損耗性能的影響
高速產(chǎn)品對PCB有著高傳輸速率、低信號損耗的要求,而這些性能與PCB板材的介電常數(shù)和損耗因子密切相關(guān)。一般地,按損耗因子的高低,基板材料可分為Standard Loss(Df:0.015~0.020)、Mid Loss(Df:0.010~0.015)、Low Loss(Df:0.0065~0.01)、Very Low Loss(Df:0.003~0.0065)、Ultra Low Loss(Df:<0.003)五個等級[3]。為分析不同等級高速材料對PCB插入損耗的影響,選取了業(yè)內(nèi)使用較多的三支材料:X7、X8和X9(具體參數(shù)見表1),在相同的疊層和阻抗設(shè)計時,采用FD法測試不同頻率時的插入損耗值,其結(jié)果如圖2所示。由圖可知,對于差分帶狀線,8 GHz時X7、X8和X9材料的損耗分別為0.256 dB/cm、0.182 dB/cm和0.147 dB/cm,12.5 GHz時X7、X8和X9材料的損耗分別為0.342 dB/cm、0.256 dB/cm和0.202 dB/cm,在不同傳輸頻率下,X7材料比X8材料的插入損耗值大20%~28%,X8材料比X9材料的插入損耗值大18%~22%。因此,基板材料的選擇對PCB損耗性能影響極大。
2.1.2 不同銅箔類型對高速PCB損耗性能的影響
隨著信號傳輸高速化和高頻化發(fā)展,趨膚效應(yīng)對信號傳輸質(zhì)量和信號完整性的影響越來越大,信號在導(dǎo)體中的傳輸厚度越來越薄[5],為減小信號傳輸損耗,高速PCB板材通常會搭配低粗糙度的銅箔。按粗糙度的不同,PCB常用的銅箔有低輪廓銅箔(HVLP銅箔)、反轉(zhuǎn)銅箔(RTF銅箔)和高延伸性銅箔(HTE銅箔)。圖3是不同類型銅箔切片和毛面SEM圖片,由圖可以看出,HVLP銅箔的毛面的表面形貌的起伏落差小于RTF和HTE銅箔,其粗糙度遠小于RTF和HTE銅箔。表2是三種銅箔采用光學(xué)輪廓儀測試的粗糙度結(jié)果,由表可知,HVLP銅箔的粗糙度小于RTF銅箔和HTE銅箔。由于RTF銅箔為反轉(zhuǎn)銅箔,其光面粗糙度大于毛面,而HTE銅箔則是光面粗糙度遠小于毛面。
為分析不同銅箔對損耗性能的影響差異,采用X6板材(Very Low Loss等級)分別搭配不同銅箔制得損耗性能測試板,而后采用FD法測試相應(yīng)的損耗值,其結(jié)果如表3所示,由表可知,與HTE銅箔相比,HVLP銅箔的微帶線和帶狀線損耗比HTE銅箔小12~16%,差異明顯,采用HVLP銅箔能顯著降低信號傳輸損耗;與RTF銅箔相比,HVLP銅箔的微帶線損耗比RTF銅箔小4~8%,帶狀線損耗小8~12%。因此,對于高速PCB,在設(shè)計時通過合理搭配不同粗糙度的銅箔,可在一定程度上改善信號傳輸性能。
2.1.3 玻纖類型對高速PCB損耗性能的影響
PCB基材是由樹脂、玻纖、銅箔、填料等組合而成,基材的介電常數(shù)和損耗因子與其組成息息相關(guān)。為滿足PCB高速信號傳輸需求,需降低基材的介電常數(shù)和損耗因子,因此,近年來不斷推出低損耗的樹脂材料,此外,玻纖廠商也致力于研發(fā)低介電常數(shù)、低損耗因子的玻纖布,如高速基板中已大量使用的NE-玻纖布(NE-glass)是日本日東紡織株式會社為PCB開發(fā)的低介電常數(shù)、低損耗因子的玻纖布。與E-glass相比,NE-glass介電常數(shù)和介質(zhì)損耗大幅下降,其介電常數(shù)為4.4(1 MHz),損耗因子為0.0006(1 MHz)[6]。
為分析E-glass和NE-glass在相同設(shè)計時的電性能差異,采用FD法分析了X6和X6N材料的插入損耗值,其結(jié)果如表4和圖4所示。由表可知,與E-glass相比,采用NE-glass可以在一定程度上降低信號損耗。對于差分帶狀線,E-glass和NE-glass在不同頻率下?lián)p耗值相差4%~12%左右;對于差分微帶線,E-glass和NE-glass在不同頻率下?lián)p耗值相差12%~22%左右。同時,信號傳輸頻率越高,NE-glass對插入損耗的改善越明顯。此外,采用NE-glass還可以減弱玻纖效應(yīng)對信號傳輸?shù)挠绊懀欣谔嵘盘柾暾訹6]。
2.1.4 不同阻焊油墨對高速PCB損耗性能的影響
一般而言,在高速PCB中使用的阻焊油墨的損耗因子比板材大得多,因此,對于高速PCB的外層線路,影響其信號傳輸損耗的因素除PCB的設(shè)計及材料的選擇外(板材、銅箔類型、玻纖類型等),阻焊油墨的選用也對外層線路損耗性能有著較大的影響。為改善高速PCB外層線路的信號傳輸性能,近年業(yè)內(nèi)有研發(fā)推出低損耗的阻焊油墨[7]。為分析常規(guī)油墨與低損耗油墨對外層傳輸線損耗的影響差異,采用低損耗板材制作差分微帶線,而后分別絲印兩種油墨并測試絲印前后線路損耗性能的變化,其結(jié)果如圖5所示,由圖可知,對于外層差分線,未覆蓋阻焊油墨時在12.5 GHz的損耗值為0.155 dB/cm,覆蓋常規(guī)阻焊油墨后在12.5 GHz的損耗值為0.276 dB/cm,而覆蓋低損耗阻焊油墨后在12.5 GHz的損耗值為0.234 dB/cm,絲印常規(guī)阻焊油墨后線路損耗值增大約78%,且信號傳輸頻率越大,阻焊油墨對損耗的影響越大;同時,采用低損耗因子的阻焊油墨可以改善阻焊對外層線路損耗的影響,與常規(guī)阻焊油墨相比,低損耗油墨可使外層傳輸線的損耗值降低15%~20%。
除上述的高速材料組成對PCB損耗性能有影響外,同一材料的配本、規(guī)格也會導(dǎo)致?lián)p耗差異,如半固化片樹脂含量、玻纖規(guī)格的選取等亦會導(dǎo)致Df的變化,從而影響PCB損耗值。
2.2 加工工藝對高速PCB損耗性能的影響
2.2.1 銅箔粗化處理對高速PCB損耗性能的影響
PCB制作線路時,通常會對銅面進行粗化處理,以增加干膜(或濕膜)與銅面的結(jié)合力。同時,壓合前為增加PP與銅箔的結(jié)合力,提高PCB的可靠性,也會對銅面進行粗化處理。其中,線路制作時常用的粗化工藝有磨板或化學(xué)微蝕等,壓合前粗化一般為棕化。隨著信號高速化發(fā)展,基材所用銅箔一般為低粗糙度銅箔(VLP、HVLP等),但傳統(tǒng)粗化工藝會使銅箔粗糙度增加,從而引起導(dǎo)體損耗增加。為改善PCB制程中粗化處理對損耗性能的影響,藥水商開發(fā)了專門用于改善PCB損耗性能的低粗糙度粗化藥水,以降低銅箔粗化處理后的粗糙度。
圖6和表5分別為是傳統(tǒng)藥水與低粗糙度藥水處理后銅面形貌和粗糙度測試結(jié)果,與傳統(tǒng)藥水相比,干膜前處理和層壓前處理采用低粗糙度藥水可以降低銅面粗糙度。圖7為經(jīng)過兩種藥水處理后的差分微帶線損耗測試結(jié)果,由圖可知,采用低粗糙度藥水處理后的線路損耗比傳統(tǒng)粗化藥水的略低。在頻率為12.5 GHz時,采用傳統(tǒng)粗化藥水后(HVLP銅箔)的損耗值為0.401 dB/cm,而采用低粗糙度藥水處理后的損耗值為0.380 dB/cm,損耗降低了5.2%左右。另外,采用低粗糙度藥水制得的PCB熱應(yīng)力及剝離強度等測試結(jié)果表明,PCB的可靠性滿足要求。
2.2.2 表面工藝對高速PCB損耗的影響
眾所周知,裸銅本身的可焊性很好,但暴露在空氣后PCB表面的銅導(dǎo)體會迅速發(fā)生氧化,進而導(dǎo)致PCB性能的惡化,因此需要對銅面進行表面處理,以保證良好的可焊性及可靠性。但是,PCB進行表面處理后,阻焊開窗的微帶線損耗會發(fā)生變化,影響信號的傳輸性能。不同表面處理工藝的選用會對PCB導(dǎo)體損耗產(chǎn)生不同影響,對高速PCB而言,選擇表面處理工藝除考慮可焊性外,還應(yīng)考慮其對信號損耗的影響。
為分析不同表面處理對PCB損耗性能的影響,采用相同的材料和設(shè)計制作得到PCB半成品,而后分別采用不同的表面處理工藝,而后測試不同表面處理的微帶線插入損耗值,其結(jié)果如表6所示。由表可知,在10 GHz和20 GHz時,沉金工藝后損耗值最大,沉銀工藝最小,與裸銅損耗值相比,10 GHz和20 GHz時沉金處理后損耗值分別增加19.32%和25.07%,而沉銀處理后損耗值分別增加2.12%和0.96%,且除沉銀和OSP外,其他表面工藝處理后單端微帶線的損耗值均比裸銅的高10%~25%左右,對線路損耗的影響較大。
表7為各金屬材料電阻率情況,由表可知銀的電阻率更小,因此沉銀工藝對微帶線損耗影響最小;雖然鎳、金的電阻率小于錫,但由于其鍍層厚度相對較厚(如表8所示),因此沉金表面工藝對微帶線的信號損耗影響較大,而沉錫表面工藝鍍層厚度只有1 μm左右,因此其對信號損耗的影響略小于無鉛噴錫。
除上述加工工藝對損耗有影響外,背鉆設(shè)計及殘樁控制等對PCB損耗也有一定的影響,通過背鉆減少過孔的殘樁長度,可以顯著減少信號反射對于損耗測試的干擾,改善內(nèi)層線路的損耗性能。
03結(jié)論
高速PCB材料的選擇以及加工制作工藝對信號損耗特性有著至關(guān)重要的影響,且PCB板卡上信號傳輸速率越高,PCB損耗性能受材料和加工工藝的影響越大,通過選擇合適等級的材料,合理搭配銅箔、玻纖布類型、阻焊油墨等,并對加工工藝進行優(yōu)選,可以獲得電性能符合要求的PCB。通過前文分析,可以得出以下結(jié)論:
(1)基板材料的選擇對PCB的損耗影響極大,在不同傳輸頻率下,不同等級材料之間的插入損耗值差異在15~30%左右;
(2)采用低粗糙度銅箔能顯著降低信號傳輸損耗,其中,搭配HVLP銅箔時損耗值比HTE銅箔小12~16%,比RTF銅箔損耗值小4~12%;
(3)與E-glass相比,采用NE-glass后損耗值可降低4%~22%,且信號傳輸頻率越高,NE-glass對損耗性能的改善越明顯;
(4)覆蓋阻焊油墨后外層線路損耗值增大約50%~70%,且信號頻率越大,阻焊油墨對損耗的影響越大;與常規(guī)阻焊油墨相比,采用低損耗油墨可使外層線路的損耗值降低10%~20%左右;
(5)采用低粗糙度藥水處理后的損耗值比傳統(tǒng)粗化藥水低5%左右,且PCB的可靠性滿足要求;
(6)不同表面工藝信號對損耗的影響強弱為:沉金>無鉛噴錫>沉錫>OSP>沉銀,與裸銅相比,不同表面工藝處理后微帶線損耗值增大1%~20%左右。
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