四探針法通常用來測量半導體的電阻率。四探針法測量電阻率有個非常大的優點,它不需要較準;有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準。
與四探針法相比,傳統的二探針法更方便些,因為它只需要操作兩個探針,但是處理二探針法得到的數據卻很復雜。如圖一,電阻兩端有兩個探針接觸,每個接觸點既測量電阻兩端的電流值,也測量了電阻兩端的電壓值。
我們希望確定所測量的電阻器的電阻值,總電阻值:
RT=V/I=2RW+2RC+RDUT;其中RW是導線電阻,RC是接觸電阻,RDUT所要測量的電阻器的電阻,顯然用這種方法不能確定RDUT的值。矯正的辦法就是使用四點接觸法,即四探針法。如圖二,電流的路徑與圖一中相同,但是測量電壓使用的是另外兩個接觸點。盡管電壓計測量的電壓也包含了導線電壓和接觸電壓,但由于電壓計的內阻很大,通過電壓計的電流非常小,因此,導線電壓與接觸電壓可以忽略不計,測量的電壓值基本上等于電阻器兩端的電壓值。
通過采用四探針法取代二探針法,盡管電流所走的路徑是一樣的,但由于消除掉了寄生壓降,使得測量變得精que了。四探針法在后來,已經變得十分普及,命名為四探針法。
HEST-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數據,自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精que度,也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
審核編輯:符乾江
-
半導體
+關注
關注
334文章
27290瀏覽量
218099 -
電阻率
+關注
關注
0文章
92瀏覽量
10709
發布評論請先 登錄
相關推薦
評論