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光纖光譜儀—塑料、光纖反射探頭、薄膜測量

萊森光學(xué) ? 來源:萊森光學(xué) ? 作者:萊森光學(xué) ? 2022-06-13 10:34 ? 次閱讀

今天,小編將為大家介紹有關(guān)塑料、光纖反射探頭、薄膜測量——光纖光譜儀的知識。光譜技術(shù)通常在工業(yè)和研究領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。常常被用來氣體、液體和固體的非接觸式表征,以及近紅外光源,特別是激光的表征。

我司的中紅外光纖光譜儀基于一種新的測量方案,將中紅外光上轉(zhuǎn)換為近可見光。硅基近可見光探測器,例如CCD,在探測率、速度和噪聲方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于中紅外光探測器。

因此,我司上轉(zhuǎn)換技術(shù)帶來的優(yōu)勢和特點(diǎn)為中紅外光探測引進(jìn)了新范式。

現(xiàn)有的兩種版本靈敏度均為-80 dBm/nm或更高,預(yù)估最大全譜讀出率為130 kHz。因此,光譜儀能夠以小于10μs的時(shí)間分辨率表征光源(激光)并測量化學(xué)反應(yīng)過程中的光譜信號

1

表征及特點(diǎn)

高靈敏度:高檢測率允許檢測低至10 pW/nm的信號;

優(yōu)良分辨率:2048像素探測器使得儀器在整個(gè)帶寬中的分辨率為6 cm-1;

堅(jiān)固耐用:沒有活動(dòng)部件意味著對振動(dòng)的敏感性低;

良好的線性度:硅基探測器的響應(yīng)線性度非常高;

高測試速度:高達(dá)400赫茲的全頻譜讀出率。可定制高達(dá)130 kHz的頻率;

低噪聲:上轉(zhuǎn)換和CCD探測器的結(jié)合極大地避免了熱輻射噪聲;

通用性:曝光時(shí)間具有五個(gè)數(shù)量級。

2

參數(shù)

a、使用100um光纖輸入,最低可至3cm-1;

b、儀器通過跟蹤獲得的光譜,可增加有效曝光時(shí)間;

c、最小曝光時(shí)間;

d、可定制空間光輸入方式。

3

應(yīng)用

1. ns脈沖激光表征

2. 低功率中紅外光源檢測

3. 氣體探測

4. 化學(xué)動(dòng)力學(xué)測試

5. 差分吸收激光雷達(dá)

……

4

40kHz單脈沖測量

使用80 kHz全譜讀出率測量來自帶寬約為3.5μm–4.2μm、重復(fù)頻率為40 kHz的超連續(xù)光源的2 ns脈沖的單脈沖。

測量結(jié)果表明,光譜儀可以很容易地用來表征紅外激光或其它動(dòng)態(tài)事件。

5

塑料的透射測試

在50μm聚苯乙烯(PS)薄膜和800μm聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜的透射率測量中,使用了30 W的硅碳棒作為光源。光譜儀的曝光時(shí)間設(shè)置為20ms,只采譜一次(未對數(shù)據(jù)進(jìn)行平均或平滑處理)。

對于塑料識別或厚度分析,在計(jì)算機(jī)算法的幫助下,曝光時(shí)間更短,因此采集速度更快。

6

光學(xué)薄膜透過率測試

使用30 W的硅碳棒作為光源測量光學(xué)涂層的透射率:用于3.7–4.5μm的Ge帶通濾波器(BPF)和涂有1064 nm高反射和2.1–4.5μm高透射率的YAG反射鏡。光譜儀的曝光時(shí)間設(shè)置為20 ms,單次采譜(未對數(shù)據(jù)進(jìn)行平均或平滑處理)。

此類測量用于涂層質(zhì)量控制,甚至用于生產(chǎn)監(jiān)控。

7

光纖反射探頭測量

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光纖反射探頭是具有光纖耦合輸入和輸出的衰減全反射(ATR)晶體。

在本次測量中,來自30 W 硅碳棒的光被耦合到輸入光纖,輸出光纖連接到光譜儀。

首先在空氣中使用ATR探針進(jìn)行參考,隨后將探針分別插入水中、丙烷-2-醇和葵花籽油中,生成這些吸收曲線。均為單次采譜,曝光時(shí)間為100ms,通過高斯濾波對數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑處理。

那么以上就是有關(guān)塑料、光纖反射探頭、薄膜測量——光纖光譜儀的介紹,對此有需求的請咨詢我們哦~

萊森光學(xué)(深圳)有限公司是一家提供光機(jī)電一體化集成解決方案的高科技公司,我們專注于光譜傳感和光電應(yīng)用系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

審核編輯:符乾江

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