物理科學(xué)的不斷進(jìn)步正在創(chuàng)造新一代的半導(dǎo)體和磁性材料,以滿足人們對(duì)更高速度、更大容量、更低功耗和更高性能的需求。研究的初期階段開始于將樣品材料置于極低的低溫條件下(在絕對(duì)零度的幾度之內(nèi)),測(cè)量基本的電遷移特性。然而在進(jìn)行這些測(cè)量時(shí),具有磁特性的材料將同時(shí)暴露在高磁場(chǎng)中,因此,材料研發(fā)實(shí)驗(yàn)室需要能夠體現(xiàn)這些極端采樣環(huán)境的測(cè)試與測(cè)量系統(tǒng)。
MeasureOne 優(yōu)勢(shì)
-
有保證的系統(tǒng)配置,可適應(yīng)各種各樣的極端環(huán)境條件
-
經(jīng)過預(yù)先驗(yàn)證的測(cè)試解決方案
-
提供了從開發(fā)研究到產(chǎn)品特性分析再到過程質(zhì)量控制的測(cè)試連續(xù)性
-
可提供安裝和服務(wù)支持
-
擁有可滿足未來要求的專業(yè)技術(shù)知識(shí)
解決方案組件
-
Cascade 低溫探針臺(tái),支持直徑達(dá)200 mm的產(chǎn)品,具有手動(dòng),半自動(dòng)和全自動(dòng)操作,可進(jìn)行直流測(cè)試和太赫茲范圍內(nèi)的射頻測(cè)試。
審核編輯:符乾江
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
相關(guān)推薦
數(shù)字源表SMU與探針臺(tái)組合用于半導(dǎo)體測(cè)試,連接需考慮線纜類型和探針選擇。測(cè)試時(shí)需注意探針
發(fā)表于 10-30 14:42
?167次閱讀
開爾文探針測(cè)試(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一種非接觸式表面電勢(shì)測(cè)量技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過測(cè)量探針
發(fā)表于 08-27 15:29
?2310次閱讀
NSAT-1000射頻測(cè)試系統(tǒng)在ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)基礎(chǔ)上開發(fā)而成,具有強(qiáng)大的兼容性,可以靈活快速接入設(shè)備,自動(dòng)識(shí)別儀器,探針臺(tái)就是其中
發(fā)表于 07-18 17:50
?367次閱讀
北京某科技公司致力于射頻芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于4G、5G移動(dòng)終端和物聯(lián)網(wǎng)模組等領(lǐng)域。該公司與納米軟件合作,旨在通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀軟件與探針臺(tái)、網(wǎng)分的通訊,完成晶圓芯片S參數(shù)的全自動(dòng)化
發(fā)表于 07-15 16:01
?415次閱讀
射頻測(cè)試是無線通信系統(tǒng)中非常重要的一環(huán),它涉及到許多參數(shù)的測(cè)試。 射頻測(cè)試概述 射頻(Radio
發(fā)表于 05-28 15:35
?2780次閱讀
隨著無線通信技術(shù)的快速發(fā)展,射頻信號(hào)測(cè)試在電子工程領(lǐng)域中的重要性日益凸顯。示波器作為電子測(cè)量領(lǐng)域的重要工具,其在射頻信號(hào)測(cè)試中的應(yīng)用也越來越廣泛。本文將詳細(xì)介紹如何使用示波器
發(fā)表于 05-27 16:13
?1034次閱讀
探針卡是晶圓功能驗(yàn)證測(cè)試的關(guān)鍵工具,通常是由探針、電子元件、線材與印刷電路板(PCB)組成的一種測(cè)試接口,主要對(duì)裸die進(jìn)行
發(fā)表于 05-11 08:27
?782次閱讀
探針間距是指在電路板測(cè)試過程中,探針之間的中心到中心距離。在理想情況下,電路板應(yīng)使用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的100mil彈簧探針進(jìn)行
發(fā)表于 04-26 16:07
?1113次閱讀
WAT需要標(biāo)注出測(cè)試未通過的裸片(die),只需要封裝測(cè)試通過的die。
FT是測(cè)試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項(xiàng)目是重復(fù)的,F(xiàn)T多一些功能性測(cè)試
發(fā)表于 04-17 11:37
?851次閱讀
水凝膠電導(dǎo)率測(cè)試常用四探針法進(jìn)行測(cè)試,優(yōu)勢(shì)在于分離電流和電壓電極,消除布線及探針接觸電阻的阻抗影響。
發(fā)表于 04-01 11:19
?1175次閱讀
在用NSAT-1000系統(tǒng)測(cè)試時(shí),實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺(tái)和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間的通訊,通過探針
發(fā)表于 03-25 16:07
?463次閱讀
為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能,高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過程中的重要一環(huán),電
發(fā)表于 03-08 11:00
?903次閱讀
低溫操作測(cè)試主要是檢測(cè)低溫環(huán)境對(duì)電源操作過程中的結(jié)構(gòu)、元件及整機(jī)電氣的影響,從而來判斷電源模塊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)以及零件選用的合理性。低溫操作測(cè)試需要
發(fā)表于 03-05 14:26
?386次閱讀
探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上,然后通過探針
發(fā)表于 02-04 15:14
?3871次閱讀
將詳細(xì)介紹其主要的幾個(gè)應(yīng)用場(chǎng)景。 網(wǎng)絡(luò)性能監(jiān)測(cè)和故障排除 CASCADE探針臺(tái)可以在網(wǎng)絡(luò)中監(jiān)測(cè)和測(cè)量實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)流量,例如帶寬利用率、延遲、丟包率等指標(biāo)。通過分析這些數(shù)據(jù),網(wǎng)絡(luò)管理員可以快速識(shí)別網(wǎng)絡(luò)性能問題的根本原因并采取相應(yīng)的措施
發(fā)表于 01-31 14:41
?2843次閱讀
評(píng)論