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FormFactor的RFgenius晶圓上S參數(shù)測量套件

芯睿科技 ? 來源:芯睿科技 ? 作者:芯睿科技 ? 2022-06-29 18:20 ? 次閱讀

推出RFgenius晶圓上S參數(shù)測量套件

FormFactor的RFgenius晶圓上S參數(shù)測量套件包括以實(shí)惠的價(jià)格實(shí)現(xiàn)精確測量所需的所有關(guān)鍵組件-從探測站到網(wǎng)絡(luò)分析儀,應(yīng)有盡有。所有經(jīng)過驗(yàn)證并證明可以提供領(lǐng)先的性能測量。

我們的RFgenius晶圓上S參數(shù)測量包包括以合理的價(jià)格實(shí)現(xiàn)精確測量所需的所有關(guān)鍵組件 – 從探測站到網(wǎng)絡(luò)分析儀。所有這些都經(jīng)過驗(yàn)證并證明可提供領(lǐng)先的性能測量。這個(gè)入門級(jí)系統(tǒng)是大學(xué)和學(xué)校的完美,易于購買的選擇,實(shí)驗(yàn)室空間最小。

RFgenius軟件包包括執(zhí)行高度精確測量的所有關(guān)鍵組件。不僅是探針臺(tái),探針,定位器,電纜,校準(zhǔn)基板和校準(zhǔn)軟件,還有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA) – 業(yè)界首創(chuàng)。

該解決方案的性能范圍得到了進(jìn)一步增強(qiáng),遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了簡單的產(chǎn)品包。這些組件的完美集成,與先進(jìn)的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)和易于操作的控制相結(jié)合,確保了最佳的可用性和高度精確的測量。你得到:

  1. 150毫米手動(dòng)探針臺(tái):
    • RF卡盤+/-3μm表面平面度
    • 獨(dú)特的200μm壓板接觸/分離行程,精度小于或等于1μm,可重復(fù)接觸
    • 精準(zhǔn)的探針對準(zhǔn)
    • 一致的接觸力和超行程
    • 穩(wěn)定的接觸性能
  1. 是德科技VNA:
    • 寬頻率覆蓋范圍:4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz
    • 全2端口VNA
    • 小巧緊湊的外形
    • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校準(zhǔn)和計(jì)量功能
    • Keysight VNA的通用GUI
    • 能夠擴(kuò)展端口數(shù)量
  1. 探頭和電纜:
    • 無限探頭– 最適合AI(Si)
    • ACP探針– 最適合AU(III-Vs)
    • | Z | 探測– 堅(jiān)固的解決方案,使用壽命長
    • 精確接觸各種材料
    • 準(zhǔn)確的測量結(jié)果和卓越的串?dāng)_特性
    • 包含了匹配的電纜和襯底
  1. 校準(zhǔn)工具:
    • 獨(dú)有的 1、2、3 和 4 端口晶圓上校準(zhǔn)算法
    • 自動(dòng)化校準(zhǔn)監(jiān)視
    • 獨(dú)特的測量和分析方法
    • 準(zhǔn)確的S參數(shù)測量
    • 自動(dòng)校準(zhǔn)設(shè)置用于提高效率
    • 簡便快捷的數(shù)據(jù)解釋和報(bào)告

您將獲得這個(gè)完整的軟件包,以及可用的支持,安裝和培訓(xùn)。無論您是進(jìn)行關(guān)鍵測量還是只想學(xué)習(xí)如何進(jìn)行晶圓上的S參數(shù)測量,我們都擁有所需的測試專業(yè)知識(shí),可幫助您取得成功。

審核編輯:符乾江

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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