問題背景

實(shí)際調(diào)試、或者產(chǎn)品開發(fā)階段，有時候會碰到產(chǎn)品觸發(fā)異常、報(bào)HardFault這類錯誤。

在這里介紹一種排查軟件端問題的調(diào)試方法。

測試原理

簡單來說，就是利用 “MCU觸發(fā)HardFault異常、跳轉(zhuǎn)到HardFault服務(wù)函數(shù)前，會把現(xiàn)場的內(nèi)核寄存器值先壓入堆?？臻g保存好” 的這個特性。

所以我們可以：

· 確認(rèn)觸發(fā)HardFault后，使用的是PSP進(jìn)程堆棧，還是MSP主堆棧（一般是MSP，也可理解用戶在SRAM中劃分出來的堆?？臻g）

· 根據(jù)對應(yīng)堆棧SP指針，挑出觸發(fā)HardFault的PC指針?biāo)赶虻奈恢谩?/p>

· 注意現(xiàn)場保存、寄存器值入棧順序：xPSR-》PC-》LR-》R12-》R3~R0

實(shí)測基于APM32F407demo板，新建會觸發(fā)HardFault的例程——訪問、改寫溢出實(shí)際SRAM存儲空間的數(shù)據(jù)。

仿真調(diào)試下，全速運(yùn)行，成功觸發(fā)Hardfault。

在0x2000_03E0堆棧位置，存儲著進(jìn)入HardFault前的內(nèi)核寄存器信息，如圖所示

·PC指向地址是0x08003AA——可找到對應(yīng)觸發(fā)HardFault的匯編代碼

上述分析可以看到，在對0x2003_0002這個異常存儲空間進(jìn)行操作后，會影響往下代碼指令的執(zhí)行（特別是操作SRAM空間）從而觸發(fā)HardFault

后話HardFault的觸發(fā)還有很多因素，比如客戶的MCU供電問題、某些VCAP腳沒接上、硬件接地干擾、Flash等待周期不符合芯片規(guī)定等等。文章所介紹的方法只是針對軟件部分的排查參考。

審核編輯 ：李倩