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半導(dǎo)體測試行業(yè)的術(shù)語分享

電路和微電子考研 ? 來源:CSDN ? 作者:weixin_42238387 ? 2022-11-01 15:03 ? 次閱讀

1.ATE = Automatic Test Equipment. 是自動(dòng)化測試設(shè)的縮寫,于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測試機(jī), 用于檢測集成電路功能之完整性, 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程, 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。

2.DUT = Device Under Test. 待測設(shè)備,半導(dǎo)體行業(yè)一般是電子元器件/芯片

3.PIB = Prober Interface Board. 探針接口板:介于測試機(jī)探針臺和半導(dǎo)體晶圓或芯片之間。是載板的一種,主要用于在半導(dǎo)體器件封裝前的測量,與自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)之間建立電氣連接。

4.DIB = Device Interface Board:設(shè)備接口板:介于測試機(jī)和設(shè)備之間

5.PDP = Prober docking plate,探針臺對接板

6.Handler是什么?IC Handler的用法:

Handler = IC pick up and place handler。自動(dòng)分選機(jī),用于成測中自動(dòng)分類已測芯片的機(jī)器。必須與測試機(jī)相連接對接后(docking)及接上對接板(interface board)才能進(jìn)行測試,動(dòng)作過程為分選機(jī)的手臂將DUT放入socket,此時(shí)contact chuck下壓,使DUT的腳正確與socket接觸后,送出start訊號,透過interface tester,測試完后,tester送回binning及EOT訊號,handler做分類動(dòng)作。客戶產(chǎn)品的尺寸及腳數(shù)不同,handler提供不同的模具。

7.Manipulator: 半導(dǎo)體測試行業(yè)的manipulator一般指的是Test head manipulator, 測試機(jī)機(jī)械手/測試機(jī)支架, 也叫測試頭機(jī)械手/測試頭支架,搬運(yùn)測試頭,方便測試頭與探針臺(Prober)對接/取消對接或調(diào)整測試頭。

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8.Prober = 探針臺,通常指晶圓探針臺,中測中用于晶圓測試的機(jī)器。 在電氣測試中,來自測量儀器或測試機(jī)的測試信號會(huì)通過探針或探針卡傳輸?shù)骄系母鱾€(gè)設(shè)備,然后從設(shè)備返回信號。晶圓探針臺用于處理晶圓,使其在設(shè)備上的指定位置接觸。在半導(dǎo)體開發(fā)中,晶圓探測器主要用于評估原型IC的特性,可靠性評估和缺陷分析。 9.Pogo Tower, 也叫Prober Tower,中文探針?biāo)结標(biāo)菣C(jī)械上精確排列的彈簧觸點(diǎn),頂部和底部,中間有可控的阻抗連接。由于塔的機(jī)械和電子特性是眾所周知的,測試系統(tǒng)可以補(bǔ)償插入損耗和信號。

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10.Docking是什么?Docking一般是指ATE測試設(shè)備中與Prober(探針臺)界面連接的那塊板的對接方式。 Direct docking= 直接對接,這是一種不需要探針?biāo)慕涌趯臃桨福c傳統(tǒng)系統(tǒng)對接方案對比,直接對接的特點(diǎn)如下: ? Direct Docking System 直接對接系統(tǒng) 接口組件僅連接到測試頭 測試頭與探針臺的連接位于外部 ? Conventional System 傳統(tǒng)系統(tǒng) 接口組件位于探針頭板內(nèi) 將測試頭連接到接口處的探針臺上

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11.PCB = Printed Circuit Board, (印制電路板),又稱印刷線路板,是重要的電子部件,是電子元器件的支撐體,是電子元器件電氣連接的載體。由于它是采用電子印刷術(shù)制作的,故被稱為“印刷”電路板。

12.PC = Probe Card: 探針卡是晶圓測試中被測芯片和測試機(jī)之間的接口,主要應(yīng)用于芯片分片封裝前對芯片電學(xué)性能進(jìn)行初步測量,并篩選出不良芯片后,再進(jìn)行之后的封裝工程。探針卡的使用原理是將探針卡上的探針與芯片上的焊墊(Pad)或凸塊(bump)直接接觸,導(dǎo)出芯片訊號,再配合周邊測試儀器與軟件控制達(dá)到自動(dòng)化測量晶圓。它對前期測試的開發(fā)及后期量產(chǎn)測試的良率報(bào)證都非常重要,是晶圓制造過程中對制造成本影響相當(dāng)大的重要制程。

13.Wafer = 晶圓。也被稱為基片,由純硅(Si)構(gòu)成,一般分為6英寸、8英寸、12英寸規(guī)格不等,晶片就是基于這個(gè)wafer上生產(chǎn)出來的。晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能的集成電路產(chǎn)品。

14.Die - Silicon die or bare-die,晶粒 - 硅晶片或裸片是指尚未封裝的全功能芯片,一個(gè)晶圓由許多晶粒組成,這些晶粒在在切割過程中被分離出來。

15.Chip – 芯片,集成電路(IC)基本上是一種電子電路,它將許多不同的設(shè)備集成到一塊硅片上。它也經(jīng)常被稱為微芯片或簡單的芯片。一般來說,芯片這個(gè)詞指的是一塊很小很薄的材料,有時(shí)是從一塊較大的材料上掰下來的。當(dāng)芯片還沒有封裝時(shí),我們稱它為裸片。所以,大多數(shù)集成電路都是在很薄(厚度小于1毫米)的硅片上以裸片的形式生產(chǎn)的。

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:【科普】半導(dǎo)體測試行業(yè)的相關(guān)術(shù)語

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