色哟哟视频在线观看-色哟哟视频在线-色哟哟欧美15最新在线-色哟哟免费在线观看-国产l精品国产亚洲区在线观看-国产l精品国产亚洲区久久

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

元器件失效分析基本概念與機(jī)理分析

sade2020616 ? 來源:光電讀書 ? 作者:光電讀書 ? 2022-11-15 11:47 ? 次閱讀

器件一旦壞了,千萬不要敬而遠(yuǎn)之,而應(yīng)該如獲至寶。

開車的人都知道,哪里最能練出駕駛水平?高速公路不行,只有鬧市和不良路況才能提高水平。社會的發(fā)展就是一個發(fā)現(xiàn)問題解決問題的過程,出現(xiàn)問題不可怕,但頻繁出現(xiàn)同一類問題是非常可怕的。

失效分析基本概念

定義:對失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。

1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。

2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理,提出糾正措施,防止這種失效模式和失效機(jī)理的重復(fù)出現(xiàn)。

3、失效模式是指觀察到的失效現(xiàn)象、失效形式,如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等。

4、失效機(jī)理是指失效的物理化學(xué)過程,如疲勞、腐蝕和過應(yīng)力等。

失效分析的一般程序

1、收集現(xiàn)場場數(shù)據(jù)

2、電測并確定失效模式

3、非破壞檢查

4、打開封裝

5、鏡驗

6、通電并進(jìn)行失效定位

7、對失效部位進(jìn)行物理、化學(xué)分析,確定失效機(jī)理。

8、綜合分析,確定失效原因,提出糾正措施。

1、收集現(xiàn)場數(shù)據(jù):

應(yīng)力類型 試驗方法 可能出現(xiàn)的主要失效模式
電應(yīng)力 靜電、過電、噪聲 MOS器件的柵擊穿、雙極型器件的pn結(jié)擊穿、功率晶體管的二次擊穿、CMOS電路的閂鎖效應(yīng)
熱應(yīng)力 高溫儲存 金屬-半導(dǎo)體接觸的Al-Si互溶,歐姆接觸退化,pn結(jié)漏電、Au-Al鍵合失效
低溫應(yīng)力 低溫儲存 芯片斷裂
低溫電應(yīng)力 低溫工作 熱載流子注入
高低溫應(yīng)力 高低溫循環(huán) 芯片斷裂、芯片粘接失效
熱電應(yīng)力 高溫工作 金屬電遷移、歐姆接觸退化
機(jī)械應(yīng)力 振動、沖擊、加速度 芯片斷裂、引線斷裂
輻射應(yīng)力 X射線輻射、中子輻射 電參數(shù)變化、軟錯誤、CMOS電路的閂鎖效應(yīng)
氣候應(yīng)力 高濕、鹽霧 外引線腐蝕、金屬化腐蝕、電參數(shù)漂移

2、電測并確定失效模式

電測失效可分為連接性失效、電參數(shù)失效和功能失效。

連接性失效包括開路、短路以及電阻值變化。這類失效容易測試,現(xiàn)場失效多數(shù)由靜電放電(ESD)和過電應(yīng)力(EOS)引起。
電參數(shù)失效,需進(jìn)行較復(fù)雜的測量,主要表現(xiàn)形式有參數(shù)值超出規(guī)定范圍(超差)和參數(shù)不穩(wěn)定。

確認(rèn)功能失效,需對元器件輸入一個已知的激勵信號,測量輸出結(jié)果。如測得輸出狀態(tài)與預(yù)計狀態(tài)相同,則元器件功能正常,否則為失效,功能測試主要用于集成電路

三種失效有一定的相關(guān)性,即一種失效可能引起其它種類的失效。功能失效和電參數(shù)失效的根源時常可歸結(jié)于連接性失效。在缺乏復(fù)雜功能測試設(shè)備和測試程序的情況下,有可能用簡單的連接性測試和參數(shù)測試方法進(jìn)行電測,結(jié)合物理失效分析技術(shù)的應(yīng)用仍然可獲得令人滿意的失效分析結(jié)果。

3、非破壞檢查

名稱 應(yīng)用優(yōu)勢 主要原理
X射線透視技術(shù) 以低密度區(qū)為背景,觀察材料的高密度區(qū)的密度異常點 透視X光的被樣品局部吸收后成象的異常
反射式掃描聲學(xué)顯微術(shù)(C-SAM) 以高密度區(qū)為背景,觀察材料內(nèi)部空隙或低密度區(qū) 超聲波遇空隙受阻反射

X-Ray檢測,即為在不破壞芯片情況下,利用X射線透視元器件(多方向及角度可選),檢測元器件的封裝情況,如氣泡、邦定線異常,晶粒尺寸,支架方向等。

適用情境:檢查邦定有無異常、封裝有無缺陷、確認(rèn)晶粒尺寸及l(fā)ayout

優(yōu)勢:工期短,直觀易分析

劣勢:獲得信息有限

局限性:

1、相同批次的器件,不同封裝生產(chǎn)線的器件內(nèi)部形狀略微不同;

2、內(nèi)部線路損傷或缺陷很難檢查出來,必須通過功能測試及其他試驗獲得。

案例分析:

X-Ray探傷----氣泡、邦定線

cf4ba728-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

cf6524a0-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

X-Ray 真?zhèn)舞b別----空包彈(圖中可見,未有晶粒)

cf7de5bc-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

“徒有其表”

cf96db30-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

下面這個才是貨真價實的

cfbb3660-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

X-Ray用于產(chǎn)地分析(下圖中同品牌同型號的芯片)

cffb9480-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

X-Ray 用于失效分析(PCB探傷、分析)

d0271cfe-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

(下面這個密密麻麻的圓點就是BGA的錫珠。下圖我們可以看出,這個芯片實際上是BGA二次封裝的)

d04ffe94-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

4、打開封裝

開封方法有機(jī)械方法和化學(xué)方法兩種,按封裝材料來分類,微電子器件的封裝種類包括玻璃封裝(二極管)、金屬殼封裝、陶瓷封裝、塑料封裝等。

機(jī)械開封

化學(xué)開封

d07554fa-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

d0916e74-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

5、顯微形貌像技術(shù)

光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)

掃描電子顯微鏡的二次電子像技術(shù)

電壓效應(yīng)的失效定位技術(shù)

d0b63efc-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

d0dd8f70-6291-11ed-8abf-dac502259ad0.jpg

6、半導(dǎo)體主要失效機(jī)理分析

電應(yīng)力(EOD)損傷

靜電放電(ESD)損傷

封裝失效

引線鍵合失效

芯片粘接不良

金屬半導(dǎo)體接觸退化

鈉離子沾污失效

氧化層針孔失效

審核編輯:郭婷

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • ESD
    ESD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    48

    文章

    2030

    瀏覽量

    172932
  • 元器件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    112

    文章

    4712

    瀏覽量

    92211
  • MOS
    MOS
    +關(guān)注

    關(guān)注

    32

    文章

    1269

    瀏覽量

    93689

原文標(biāo)題:元器件失效分析方法

文章出處:【微信號:光電讀書,微信公眾號:光電讀書】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    材料失效分析方法匯總

    材料故障診斷學(xué):失效分析技術(shù)失效分析技術(shù),作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支,致力于運(yùn)用科學(xué)方法論來識別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實際應(yīng)用過程中出現(xiàn)
    的頭像 發(fā)表于 12-03 12:17 ?259次閱讀
    材料<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>方法匯總

    塑封器件絕緣失效分析

    塑封器件絕緣失效機(jī)理探究與改進(jìn)策略塑封器件因其緊湊、輕便、經(jīng)濟(jì)及卓越的電學(xué)特性,在電子元件封裝行業(yè)中占據(jù)著重要地位。但隨著其在更嚴(yán)苛環(huán)境下的應(yīng)用需求增加,傳統(tǒng)工業(yè)級塑封材料和技術(shù)的局限
    的頭像 發(fā)表于 11-14 00:07 ?199次閱讀
    塑封<b class='flag-5'>器件</b>絕緣<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    電阻失效分析報告

    電阻失效分析報告
    的頭像 發(fā)表于 11-03 10:42 ?245次閱讀

    微電子器件可靠性失效分析程序

    微電子器件可靠性失效分析程序
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?1299次閱讀
    微電子<b class='flag-5'>器件</b>可靠性<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>程序

    貼片電阻銀遷移失效分析

    貼片電阻銀遷移失效分析
    的頭像 發(fā)表于 10-27 10:33 ?358次閱讀
    貼片電阻銀遷移<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    貼片電容MLCC失效分析----案例分析

    貼片電容MLCC失效分析----案例分析
    的頭像 發(fā)表于 10-25 15:42 ?388次閱讀
    貼片電容MLCC<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>----案例<b class='flag-5'>分析</b>

    真空回流焊爐/真空焊接爐——LED失效分析

    LED的失效模式有多種形式,本文將分析LED的幾種主要失效模式的機(jī)理幫助大家了解,以便提前規(guī)避來提高LED的質(zhì)量。
    的頭像 發(fā)表于 10-22 10:42 ?326次閱讀
    真空回流焊爐/真空焊接爐——LED<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    廣電計量|功率場效應(yīng)管過壓失效機(jī)理及典型特征分析

    失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過電失效,分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對于以功率
    的頭像 發(fā)表于 09-18 10:55 ?909次閱讀
    廣電計量|功率場效應(yīng)管過壓<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>機(jī)理</b>及典型特征<b class='flag-5'>分析</b>

    電量計外圍元器件失效影響分析

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《電量計外圍元器件失效影響分析.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 09-05 11:20 ?0次下載
    電量計外圍<b class='flag-5'>元器件</b><b class='flag-5'>失效</b>影響<b class='flag-5'>分析</b>

    淺談半導(dǎo)體芯片失效分析Analysis of Semiconductor Chip Failure

    共讀好書 失效專業(yè)能力分類 元器件5A試驗介紹(中英文) ◆PFA (Physical Feature Analysis) 物理特征分析 ◆DPA (Destructive Physical
    的頭像 發(fā)表于 07-17 16:27 ?695次閱讀
    淺談半導(dǎo)體芯片<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>Analysis of Semiconductor Chip Failure

    晶閘管的失效模式與機(jī)理

    晶閘管(Silicon Controlled Rectifier, SCR)作為電力電子領(lǐng)域中的關(guān)鍵器件,其可靠性對電路的穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。然而,在實際應(yīng)用中,晶閘管可能因各種原因而失效,導(dǎo)致
    的頭像 發(fā)表于 05-27 15:00 ?1218次閱讀

    電子元器件:從基礎(chǔ)到應(yīng)用的全方位解讀

    在當(dāng)今的電子科技領(lǐng)域,電子元器件是不可或缺的重要組成部分。無論是智能手機(jī)、家用電器,還是復(fù)雜的工業(yè)控制系統(tǒng),電子元器件都發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。本文將從基本概念、分類、功能、應(yīng)用場景、選購、安裝、維護(hù)
    的頭像 發(fā)表于 05-20 11:13 ?865次閱讀

    IGBT器件失效模式的影響分析

    功率循環(huán)加速老化試驗中,IGBT 器件失效模式 主要為鍵合線失效或焊料老化,失效模式可能存在 多個影響因素,如封裝材料、器件結(jié)構(gòu)以及試驗條
    發(fā)表于 04-18 11:21 ?973次閱讀
    IGBT<b class='flag-5'>器件</b><b class='flag-5'>失效</b>模式的影響<b class='flag-5'>分析</b>

    電子元器件失效分析技術(shù)

    電測在失效分析中的作用 重現(xiàn)失效現(xiàn)象,確定失效模式,縮小故障隔離區(qū),確定失效定位的激勵條件,為進(jìn)行信號尋跡法
    的頭像 發(fā)表于 04-12 11:00 ?599次閱讀
    電子<b class='flag-5'>元器件</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>技術(shù)

    高性能功率器件的封裝

    分析多方面因素綜合作用下的功率器件失效過程和機(jī)理。半導(dǎo)體模塊在實際的工作中不僅涉及熱應(yīng)力,同時還受振動、濕度等因素影響,現(xiàn)有研究主要集中在溫度對器件
    的頭像 發(fā)表于 01-03 16:21 ?928次閱讀
    高性能功率<b class='flag-5'>器件</b>的封裝
    主站蜘蛛池模板: 国际老妇高清在线观看| 国产蜜臀AV在线一区视频| 国产精品一区二区在线观看 | 成人毛片100部免费看| 国产人A片在线乱码视频| 美国一级大黄一片免费的网站| 日本 稀土矿| 亚洲一区在线视频观看| www.97干| 久久国产精品免费A片蜜芽| 肉动漫h黄动漫日本免费观看| 伊人第一路线| 国产第一页浮力影院| 5g在线视讯年龄确认海外禁止进入| 大胸美女被c| 两性午夜刺激爽爽视频| 91精品国产色综合久久不| 国产成人免费观看在线视频| 老湿机一区午夜精品免费福利 | 国产成人无码AV麻豆| 看免费人成va视频全| 国产在线高清视频无码不卡| 欧洲内射VIDEOXXX3D| 3dbdsm变态videos高清| 久久久久999| 一本道在线综合久久88| 国产最新进精品视频| 性色香蕉AV久久久天天网| 古代荡乳尤物H妓女调教| 日本aa大片| 精品第一国产综合精品蜜芽| 热久久视久久精品18| 97人人添人人澡人人澡人人澡 | 欧美日韩精品一区二区三区四区 | 精品久久久噜噜噜久久久app| 无遮挡午夜男女XX00动态| 国产97精品久久久天天A片| 人禽l交视频在线播放 视频| WWW国产精品内射熟女| 年轻的女教师2017韩国在线看| 日本妈妈xxxx|