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激光切割半導(dǎo)體晶圓的方法及原理分享!

科準(zhǔn)測(cè)控 ? 來源:科準(zhǔn)測(cè)控 ? 作者:科準(zhǔn)測(cè)控 ? 2022-12-08 14:25 ? 次閱讀

隨著厚度的不斷減薄,晶圓會(huì)變得更為脆弱,因此機(jī)械劃片的破片率大幅增加,而此階段晶圓價(jià)格昂貴,百分之幾的破片率就足以使利潤全無。另外,當(dāng)成品晶圓覆蓋金屬薄層時(shí),問題會(huì)變得更加復(fù)雜,金屬碎屑會(huì)包裹在金剛石刀刃上,使切割能力大下降,嚴(yán)重的會(huì)有造成破片、碎刀的后果崩邊現(xiàn)象會(huì)更明顯,尤其是交叉部分破損更為嚴(yán)重。當(dāng)機(jī)械劃片遇到無法克服的困難時(shí),人們自然想到用激光來劃片。今天__【科準(zhǔn)測(cè)控】__小編就來介紹一下激光切割的優(yōu)勢(shì)以及紫外激光劃片與激光隱形劃片、微水刀激光的原理還有用途等,感興趣的朋友一起往下看吧!

一、激光切割的優(yōu)勢(shì)

激光劃片可進(jìn)行橢圓等異形線型的劃切,也允許晶圓以更為合理的方式排列,可在同樣大的晶圓上排列更多的晶粒,使有效晶粒數(shù)量增加(見圖2-36)。對(duì)于六邊形等異形芯片,機(jī)械劃片難以處理,激光劃片可發(fā)揮其優(yōu)勢(shì)。不規(guī)則芯片拼版如圖2-37所示。

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二、紫外激光劃片

1、原理與關(guān)鍵參數(shù)

與YAG和CO2激光通過熱效應(yīng)來切割不同,紫外激光直接破壞被加工材料的化學(xué)鍵,從而達(dá)到切割目的,這是一個(gè)“冷”過程,熱影響區(qū)域小。另外,紫外激光的波長短、能量集中且切縫寬度小,因此在精密切割和微加工領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。表2-7和表2-8分別給出了激光劃片設(shè)備的關(guān)鍵參數(shù)和工藝關(guān)鍵指標(biāo)。

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目前,激光劃片設(shè)備采用工業(yè)激光器,波長主要有 1064nm、532nm、355nm 三種,脈寬為ns(納秒)、ps(皮秒)和fs(飛秒)級(jí)。理論上,激光波長越短脈寬越短,加工熱效應(yīng)越小,越有利于微細(xì)精密加工,但成本相對(duì)較高。

2、光斑直徑

光斑直徑是指光強(qiáng)降落到中心值的點(diǎn)所確定的范圍,這個(gè)范圍內(nèi)包含了光束能量的86.5%。在理想情況下,直徑范圍內(nèi)的激光可以實(shí)現(xiàn)切割。實(shí)際上,劃片寬度略大于光斑直徑。

在劃片時(shí),聚焦后的光斑直徑當(dāng)然是越小越好,這樣劃片所需的劃片槽尺寸就會(huì)越小。相應(yīng)方法就是減小焦距。但是,減小聚焦鏡焦距的代價(jià)就是焦深會(huì)縮短,使得劃片厚度減少。因此,焦距的確定需要綜合考慮劃片的厚度和劃片槽的寬度。

3、功率

激光功率是影響劃片深度和劃片寬度的主要因素,在其他參數(shù)固定不變時(shí),劃片寬度和劃片深度隨著激光功率的增加而增大,功率對(duì)劃片寬度和劃片深度的影響如圖2-38所示。這是因?yàn)椋贤饧す怆m然屬于“冷切割”,但還是存在一定的熱效應(yīng),熱量會(huì)積累在切割處。當(dāng)激光功率一定時(shí),晶圓受到照射的時(shí)間越長,獲得的能量就越多,燒蝕現(xiàn)象就越嚴(yán)重。

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4、頻率

頻率會(huì)影響激光脈沖的峰值功率和平均功率,從而對(duì)劃片深度、劃片寬度和劃片質(zhì)量均產(chǎn)生影響。增大頻率,脈沖峰值功率會(huì)下降,但整體平均功率會(huì)上升,這相當(dāng)于在劃片過程中提供了更高的能量,又避免了激光功率持續(xù)輸出產(chǎn)生的熱效應(yīng)累積,給熱量的耗散預(yù)留了空間。

試驗(yàn)表明,在其他參數(shù)不變的情況,頻率小于10kHz時(shí),劃片聲音尖銳刺耳,劃片深度較淺,劃片寬度較寬頻率增大,劃片深度增加,劃片寬度減少。當(dāng)頻率達(dá)到50kHz時(shí),劃片深度最大當(dāng)頻率繼續(xù)增大,劃片深度開始減小。這是由于,在較小的頻率下,雖然單個(gè)脈沖的峰值功率高,但是總體平均功率處于較低水平,雖然切割范圍大,但卻無法達(dá)到理想深度頻率增大以后,單個(gè)脈沖峰值功率有所下降,但是總體平均功率持續(xù)升高,到達(dá)臨界頻率時(shí),可以得到較理想的劃片深度和較窄的劃片寬度再增大頻率,單個(gè)脈沖的峰值功率偏低,不足以對(duì)硅片進(jìn)行“切割”,即使平均功率很高,劃片深度也趨于變小。

5、速度

劃片速度決定了激光聚焦在晶圓上劃片槽某一區(qū)域的時(shí)間,也就是決定了在某一區(qū)域內(nèi)輸入的劃片功率,因此會(huì)直接影響劃片深度和劃片寬度。值得一提的是,激光光斑對(duì)劃片槽區(qū)域硅材料切割線可以看成是一個(gè)又一個(gè)光斑切割微圓疊加而成的,較高的頻率和適當(dāng)?shù)乃俣瓤梢缘玫街旅堋⒕鶆虻那懈詈圹E,速度太快或頻率不足則相鄰兩個(gè)切割微圓的圓心較遠(yuǎn),芯片切割邊緣呈巨齒狀,切割質(zhì)量下降。

綜上,劃片功率、頻率、速度等參數(shù)共同影響了劃片寬度、劃片深度、劃片質(zhì)量等劃片的關(guān)鍵指標(biāo)。

三、激光隱形劃片

激光隱形劃片(Stealth Dicing,SD),是將激光聚焦在材料內(nèi)部,形成改質(zhì)層,然后通過裂片或擴(kuò)膜的方式分離芯片,該技術(shù)應(yīng)用于MEMS、存儲(chǔ)和邏輯器件的薄或超薄芯片,以及如CMOS、CCD的成像設(shè)備。激光劃片表面無粉塵污染,幾乎無材料損耗,加工效率高。實(shí)現(xiàn)激光隱形劃片的兩個(gè)條件∶材料對(duì)激光透明有足夠的脈沖能量產(chǎn)生多光子吸收。圖2-39給出了厚度為50μm、直徑為200mm的晶圓激光隱形劃片后效果。圖2-40和圖2-41給出了激光隱形劃片芯片及側(cè)截面的微觀形貌。

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圖2-39 厚度為50μm、直徑為200mm

晶圓激光隱形劃片后效果

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四、微水刀激光

在激光“冷切割”過程中,熱量的堆積也會(huì)引發(fā)硅片熔體的濺射,少許熔融的高溫小顆粒會(huì)以極高的速度從切割道中濺射出來,附著在切割道兩旁的晶圓表面上,在冷卻的過程中會(huì)和晶圓融為一體,污染晶圓表面,甚至引發(fā)短路。

有人提出微水刀激光這一解決措施,在激光劃片過程中提供微水柱沖刷晶圓表面,激光在微水柱中全反射,形成微水刀,切割晶圓,并利用微水柱帶走熱量,使高溫熔融的小顆粒在濺射到晶圓表面之前被冷卻并被帶走,或者直接令硅片冷卻使熔融體無法形成,其原理如圖2-42所示。

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微水刀激光加工無熱影響區(qū),不燒蝕晶圓,劃片道干凈,無熔渣、無毛刺、無熱應(yīng)力、無機(jī)械應(yīng)力、無污染,適合半導(dǎo)體電子、醫(yī)療、航天等高精密器件的切割加工。而且,微水刀激光劃片速度可以達(dá)到傳統(tǒng)的砂輪劃片速度的5倍以上。

但該技術(shù)難度大,相關(guān)的設(shè)備成熟度不高,作為易損件的噴嘴制作難度大,如果不能精確穩(wěn)定地控制微細(xì)水柱,飛濺的水滴會(huì)燒蝕芯片,從而影響成品率。此外,還要注意防護(hù)激光輻射!

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科準(zhǔn)測(cè)控W260推拉力測(cè)試機(jī)廣泛用于與LED封裝測(cè)試IC半導(dǎo)體封裝測(cè)試、TO封裝測(cè)試、IGBT功率模塊封裝測(cè)試、光電元器件封裝測(cè)試、大尺寸PCB測(cè)試、MINI面板測(cè)試、大尺寸樣品測(cè)試、汽車領(lǐng)域、航天航空領(lǐng)域、軍工產(chǎn)品測(cè)試、研究機(jī)構(gòu)的測(cè)試及各類院校的測(cè)試研究等應(yīng)用。

好了,以上就是小編帶來的關(guān)于激光切割半導(dǎo)體晶圓的優(yōu)勢(shì)以及分類了,包含有紫外激光劃片、激光隱形劃片、微水刀激光三種,還描述其原理以及作用,希望能給大家?guī)韼椭£P(guān)于半導(dǎo)體集成電路、半導(dǎo)體封裝、晶圓切割、推拉力機(jī)等如果您還有不明白的,歡迎給我們私信或留言,科準(zhǔn)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)也會(huì)為您提供免費(fèi)資料及解答!

審核編輯 黃昊宇

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