目錄預覽
1.引言
2.信號路徑
3.STM32CubeMX 配置
4.代碼實現
5.小結
1.引言
這個例程是使用 STM32G474 NUCLEO 進行測試的,集合了 DAC, COMP, HRTIM 的功能模塊。
2.信號路徑
PA1 的輸入信號同 DAC 的輸出信號進入 COMP 比較器進行比較,經 COMP 比較后的輸出信號連接到 HRTIM 的 Fault4 信號,來控制 HRTIM 的輸出信號的停止。
當 PA1 > DAC value,比較器輸出高“1”, 這個信號為 HRTIM 的 fault4 信號,當 HRTIM 配置為 fault4 高有效,則當這個高電平出現時,HRTIM 輸出波形停止,具體輸出的電平可以通過寄存器進行配置。
3.STM32CubeMX配置
對于上圖 Table 11 的 RAMECC 控制單元的地址總結成如下表格,具體的參考RM0433 的第二章節 Memory and bus architecture 中的 table 8.
首先配置 DAC 模塊,DAC out1 選擇 connected to on chip-peripherals, 這里為了測試方便,選擇了“Connected to external pin and to on chip-peripherals”,DAC 輸出信號連接到 IC內部,同時輸出到 PA4 GPIO 口。這樣就客戶測量 DAC 的具體輸出值。
而在 IC 內部,DAC 連接到了 COMP 的負端。COMP 的配置如下:PA1:COPM 的正向輸入端。DAC1 OUT1 在 IC 內部連接到了 COMP 的負向輸入端。具體請看下面兩種圖:
最后配置 HRTIM 模塊:
使能 TimerA 的 TA1 輸出。
配置 TIMA 周期值為 0XCFFF,向上計數模式,持續計數方式,Fault4 作 fault 源。
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原文標題:工程師筆記|DAC,COMP,HRTIM Fault 功能的使用
文章出處:【微信號:STM32_STM8_MCU,微信公眾號:STM32單片機】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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