1、使用隔離式放大器

圖1顯示了基于分流器的過(guò)流檢測(cè)解決方案，它有一個(gè)隔離式放大器和一個(gè)非隔離式比較器。如有必要，您可以使用同樣的隔離式放大器進(jìn)行反饋控制。MCU接收比較器的輸出并發(fā)送信號(hào)，從而控制柵極驅(qū)動(dòng)器的使能引腳或改變進(jìn)入柵極驅(qū)動(dòng)器輸入的脈寬調(diào)制周期。

圖 1：使用隔離式放大器和非隔離式比較器進(jìn)行故障檢測(cè)

使用隔離式放大器、基于分流器的方法為故障檢測(cè)和反饋控制提供了高測(cè)量精度，其中的隔離式放大器可提供基本隔離或增強(qiáng)隔離。

然而，隔離式放大器的傳播延遲為 2μs - 3μs。根據(jù)過(guò)流檢測(cè)的延遲要求，基于隔離式放大器的方法可能不夠快。

2、使用隔離式調(diào)制器

如圖2所示，可以使用隔離式調(diào)制器同時(shí)進(jìn)行過(guò)流檢測(cè)和反饋控制。隔離式調(diào)制器的隔離式數(shù)據(jù)輸出 (DOUT) 以顯著更高的頻率提供由1和0組成的數(shù)字比特流。該比特流輸出的時(shí)間平均值與模擬輸入電壓成正比，MCU內(nèi)的數(shù)字濾波器重建測(cè)量信號(hào)。MCU可以使用相同的比特流輸出并行運(yùn)行多個(gè)數(shù)字濾波器，其中一個(gè)數(shù)字濾波器配置用于高精度反饋控制，另一個(gè)數(shù)字濾波器配置用于低延遲過(guò)流檢測(cè)。

圖 2：使用隔離式調(diào)制器進(jìn)行故障檢測(cè)

與隔離式放大器相比，采用隔離式調(diào)制器的基于分流器的方法為故障檢測(cè)和反饋控制提供了更高測(cè)量精度。在最壞情況下，過(guò)流檢測(cè)的傳播延遲可低至1μs。

3、使用標(biāo)準(zhǔn)比較器和數(shù)字隔離器

圖3顯示了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)非隔離式比較器，后跟用于過(guò)流檢測(cè)的數(shù)字隔離器，以及用于反饋控制的隔離式放大器或調(diào)制器。在最壞情況下，過(guò)流檢測(cè)的傳播延遲可低于1μs，具體取決于所選的比較器和數(shù)字隔離器。但是，分立式實(shí)施會(huì)占用更多印刷電路板 (PCB) 空間，并且對(duì)于需要更高精度的設(shè)計(jì)來(lái)說(shuō)可能會(huì)變得昂貴。

圖3：使用標(biāo)準(zhǔn)比較器和數(shù)字隔離器進(jìn)行故障檢測(cè)

4、使用隔離式比較器

圖4所示的隔離式比較器通過(guò)集成標(biāo)準(zhǔn)比較器和數(shù)字隔離器的功能，提供了一種小巧且超快的過(guò)流檢測(cè)方法。您可以使用隔離式放大器或隔離式調(diào)制器進(jìn)行反饋控制。

圖 4：使用隔離式比較器進(jìn)行故障檢測(cè)

隨著提高系統(tǒng)彈性和采用更快的開(kāi)關(guān)晶體管（如SiC和GaN）的需求激增，對(duì)準(zhǔn)確和快速故障檢測(cè)的需求變得更加重要。

審核編輯：湯梓紅