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3D IC先進(jìn)封裝的發(fā)展趨勢和對EDA的挑戰(zhàn)

旺材芯片 ? 來源:半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫編輯部 ? 2023-01-29 09:31 ? 次閱讀

在SoC的設(shè)計階段需要克服可靠性問題,而在2.5D和3D方面則需要解決系統(tǒng)級封裝和模塊仿真的問題。

隨著人工智能、大數(shù)據(jù)、云計算、異構(gòu)計算等行業(yè)的快速發(fā)展,先進(jìn)封裝技術(shù)已經(jīng)占據(jù)了技術(shù)與市場規(guī)模上的制高點,3D IC電子設(shè)計從芯片設(shè)計走向系統(tǒng)設(shè)計的一個重要支點,也是整個半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的轉(zhuǎn)折點,相關(guān)EDA解決工具也是必備的戰(zhàn)略技術(shù)點,不過隨著封裝技術(shù)的演進(jìn)對EDA也提出了更大的挑戰(zhàn)。

3D IC先進(jìn)封裝對EDA的挑戰(zhàn)及如何應(yīng)對

隨著集成電路制程工藝逼近物理尺寸極限,2.5D/3D封裝,芯粒(Chiplet)、晶上系統(tǒng)(SoW)等先進(jìn)封裝成為了提高芯片集成度的新方向,并推動EDA方法學(xué)創(chuàng)新。這也使得芯片設(shè)計不再是單芯片的問題,而逐漸演變成多芯片系統(tǒng)工程。新的問題隨之出現(xiàn),先進(jìn)封裝中的大規(guī)模數(shù)據(jù)讀取顯示,高密度硅互連拼裝、高性能良率低功耗需求對EDA算法引擎提出了更高的要求。

芯和半導(dǎo)體技術(shù)總監(jiān)蘇周祥在2022年EDA/IP與IC設(shè)計論壇中提出,在SoC的設(shè)計階段需要克服可靠性問題,而在2.5D和3D方面需要解決的問題則是系統(tǒng)級封裝和模塊仿真。

容易出現(xiàn)以下問題:

多個點工具形成碎片化的2.5D/3D IC 解決方案:每個點工具都有自己的接口與模型;各個工具之間的交互寫作不順暢、缺少自動化;

在2.5D/3D IC 設(shè)計過程中,不能再設(shè)計初期就考慮Power/Signal/Thermal的影響,而且不能協(xié)同分析;

多個點工具形成了很多不同的接口,文本與文件格式的轉(zhuǎn)換,各種不同的格式轉(zhuǎn)換使精度收到損失。

作為應(yīng)對,2.5D/3D IC先進(jìn)封裝需要一個新的EDA平臺。在架構(gòu)方面,需要考慮包括系統(tǒng)級連接、堆棧管理、層次化設(shè)計;物理實現(xiàn)需要:包括協(xié)同設(shè)計環(huán)境、跨領(lǐng)域工程變更、多芯片3D布局規(guī)劃和布線、統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫;分析解決需要包括片上和封裝電磁分析、芯片封裝聯(lián)合仿真、多物理分析、與布局布線工具無縫集成;驗證方面,則需要芯片工藝約束、封裝制造設(shè)計規(guī)則、芯片3D組裝約束、芯片數(shù)據(jù)通信協(xié)議。

3D封裝的發(fā)展?jié)摿薮?/p>

隨著對性能有極致追求,需要把晶體管的密度做得越來越高,速度越來越快。另外數(shù)據(jù)處理應(yīng)用中,數(shù)據(jù)交互將對帶寬、吞吐量和速度提出更高的要求,會導(dǎo)致芯片會越來越復(fù)雜、越來越大,要求遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了目前的工藝節(jié)點能夠滿足的PPA目標(biāo)和成本,這種情況下用 Chiplet和3D IC技術(shù)的應(yīng)用就首當(dāng)其沖。

目前,云計算、大數(shù)據(jù)分析、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練、人工智能推理、先進(jìn)智能手機上的移動計算甚至自動駕駛汽車,都在推動計算向極限發(fā)展。面對更多樣化的計算應(yīng)用需求,先進(jìn)封裝技術(shù)成為持續(xù)優(yōu)化芯片性能和成本的關(guān)鍵創(chuàng)新路徑。

2021 年全球封裝市場規(guī)模約達(dá) 777 億美元。其中,先進(jìn)封裝全球市場規(guī)模約 350 億美元。預(yù)計到 2025年先進(jìn)封裝的全球市場規(guī)模將達(dá)到 420 億美元,2019-2025 年全球先進(jìn)封裝市場的 CAGR 約 8%。相比同期整體封裝市場和傳統(tǒng)封裝市場,先進(jìn)封裝市場增速更為顯著。

2.5D/3DIC類型及生態(tài)標(biāo)準(zhǔn)

2.5D/3D IC當(dāng)前先進(jìn)封裝的類型主要包括:

臺積電 3D Fabric:CowoS、INFO

英特爾:EMIB、Foveros

三星:I-Cube

ASE:FOCos

Amkor:SWIFT

2.5D/3D IC先進(jìn)封裝數(shù)據(jù)接口的生態(tài)標(biāo)準(zhǔn)有:

Die-Die Interface

Protocol

Security

Bring up

Form Factors

Testability

ESD

Packaging

Collateral/Models

結(jié)語

最后,先進(jìn)封裝可以推動半導(dǎo)體向前發(fā)展,高技術(shù)門檻提高板塊估值。后摩爾時代CMOS技術(shù)發(fā)展速度放緩,成本卻顯著上升。2.5D/3D IC先進(jìn)封裝可以通過小型化和多集成的特點顯著優(yōu)化芯片性能和繼續(xù)降低成本,未來封裝技術(shù)的進(jìn)步將成為芯片性能推升的重要途徑,2.5D/3D IC先進(jìn)封裝的功能定位升級,已成為提升電子系統(tǒng)級性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:3D IC先進(jìn)封裝的發(fā)展趨勢和對EDA的挑戰(zhàn)

文章出處:【微信號:wc_ysj,微信公眾號:旺材芯片】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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