作者:Mike Curtin and Paul O'Brien
本系列文章的第一部分介紹了鎖相環 (PLL) 的基本概念。介紹了PLL架構和工作原理,并附有在通信系統中可能使用PLL的示例。
在第二部分中,我們將重點詳細研究與PLL相關的兩個關鍵規格:相位噪聲和參考雜散。是什么原因導致它們以及如何將它們最小化?討論將包括測量技術以及這些誤差對系統性能的影響。我們還將考慮輸出漏電流,并以一個示例展示其在開環調制方案中的重要性。
振蕩器系統中的噪聲
在任何振蕩器設計中,頻率穩定性都至關重要。我們對長期和短期穩定都感興趣。長期頻率穩定性與輸出信號在很長一段時間(數小時、數天或數月)內的變化有關。它通常被指定為給定時間段內的比率Df/f,以百分比或dB表示。
另一方面,短期穩定性涉及在幾秒鐘或更短的時間內發生的變化。這些變化可以是隨機的,也可以是周期性的。頻譜分析儀可用于檢查信號的短期穩定性。圖1顯示了一個典型頻譜,其中隨機和離散的頻率分量導致寬裙邊和雜散峰值。
圖1.振蕩器的短期穩定性
分立雜散元件可能由信號源中的已知時鐘頻率、電源線干擾和混頻器產品引起。隨機噪聲波動引起的展寬是由于相位噪聲引起的。這可能是有源和無源設備中的熱噪聲、散粒噪聲和/或閃爍噪聲的結果。
壓控振蕩器中的相位噪聲
在研究PLL系統中的相位噪聲之前,值得考慮壓控振蕩器(VCO)中的相位噪聲。理想的VCO沒有相位噪聲。在頻譜分析儀上看到的輸出將是一條譜線。當然,在實踐中,情況并非如此。輸出端會有抖動,頻譜分析儀會顯示相位噪聲。為了幫助理解相位噪聲,請考慮相量表示,如圖2所示。
圖2.相位噪聲的相量表示
wo表示角速度的輸出信號,wo.疊加在此上的是用w表示的錯誤信號m.為了量化這個誤差,可以取相位波動的均方根值并將其表示為Dq。這就是相位誤差或抖動,可以用均方根皮秒(ps rms)或均方根度(q rms)表示。
在許多無線電系統中,必須滿足整體集成相位誤差規范。該總相位誤差由PLL相位誤差、調制器相位誤差和基帶組件引起的相位誤差組成。例如,在 GSM 中,允許的總數為 5 q rms。
李森方程
Leeson(參考文獻6)開發了一個方程來描述VCO中的不同噪聲分量。
其中:
LPM 是單邊帶相位噪聲密度 (dBc/Hz)
F 是工作功率電平 A 時的器件噪聲因數(線性)
k 是玻爾茲曼常數,1.38 ‘ 10-23 J/K
T 是溫度 (K)
A為振蕩器輸出功率(W)
QL 加載 Q(無量綱)
fo 是振蕩器載波頻率
FM是載波的頻率偏移
為了使李森方程有效,必須滿足以下條件:
fm,載波的偏移頻率大于1/f閃爍轉折頻率;
工作功率水平下的噪聲因數是已知的;
設備操作是線性的;
Q包括元件損耗、器件負載和緩沖負載的影響;
振蕩器中使用單個諧振器
理論上,噪聲功率密度由等幅度的AM(調幅)和PM(相位調制)分量組成。這意味著總噪聲功率密度是上述功率密度的兩倍。然而,在實踐中,PM噪聲在靠近載波的頻率上占主導地位,而AM噪聲在距離載波較遠的頻率上占主導地位。
圖3.VCO中的相位噪聲與頻偏的關系
李森方程僅適用于斷裂(f1)到從“1/f”(更一般的1/f)過渡之間的膝蓋區域伽馬) 將閃爍噪聲頻率提高到放大白噪聲占主導地位的頻率 (f2).如圖 3 所示 [伽馬 = 3]。f1應盡可能低;通常,它小于 1 kHz,而 f2在幾MHz的范圍內。 高性能振蕩器需要專門針對低 1/f 轉換頻率選擇的器件。最小化VCO中相位噪聲的一些準則是:
保持變容二極管的調諧電壓足夠高(通常在3至3.8 V之間)
對直流電源進行濾波。
保持電感Q值盡可能高。典型的現成線圈提供 50 到 60 之間的 Q。
選擇噪聲系數最小且閃爍頻率低的有源器件。通過使用反饋元件可以降低閃爍噪聲
大多數有源器件表現出寬大的U形噪聲系數與偏置電流曲線。使用此信息為器件選擇最佳工作偏置電流。
最大化油箱電路輸出端的平均功率。
緩沖VCO時,請使用噪聲系數盡可能低的器件。
閉環
在研究了自由運行的VCO中的相位噪聲并考慮了如何將其最小化之后,我們現在將研究閉環(參見本系列的第1部分)對相位噪聲的影響。
圖4.鎖相相相位噪聲貢獻因素
圖4顯示了PLL中的主要相位噪聲貢獻因素。系統傳遞函數可以用以下等式來描述。
對于下面的討論,我們將定義 S裁判作為檢相器參考輸入端出現的噪聲。它取決于參考分壓器電路和主參考信號的頻譜純度。SN是反饋分頻器出現在鑒相器頻率輸入端產生的噪聲。S正中電是鑒相器產生的噪聲(取決于其實現)。和 SVCO是VCO的相位噪聲,如前面開發的公式所述。
輸出端的整體相位噪聲性能取決于上述項。輸出端的所有效果都以均方根方式添加,以給出系統的總噪聲。因此:
其中:
STOT2 是輸出
X2是輸出端的噪聲功率,由于 SN和 S裁判
Y2是輸出端的噪聲功率,由于 S正中電
Z2是輸出端的噪聲功率,由于 SVCO
PD輸入端的噪聲項SREF和SN將以與SREF相同的方式工作,并將乘以系統的閉環增益。
在低頻下,在環路帶寬內,
在高頻下,在環路帶寬之外,
鑒相器噪聲對總輸出噪聲的貢獻,S正中電,可以通過引用 S 來計算正中電回到 PFD 的輸入。PD輸入端的等效噪聲為S正中電/Kd.然后乘以閉環增益:
最后,VCO噪聲的貢獻,SVCO,以類似的方式計算輸出相位噪聲。這次的正向增益僅為1。因此,它對輸出噪聲的貢獻是:
G、閉環響應的正向環增益,通常為低通函數;它在低頻時非常大,在高頻時很小。H 是一個常數,1/N。因此,上述表達式的分母是低通,因此 SVCO實際上是由閉環濾波的高通。
有關PLL/VCO中噪聲貢獻因素的類似描述,請參見參考文獻1。回想一下,閉環響應是一個截止頻率為3 dB的低通濾波器,Bw,表示環路帶寬。對于輸出端小于 B 的頻率偏移w,輸出相位噪聲響應中的主要項是X和Y,基準噪聲引起的噪聲項,N(計數器噪聲)和電荷泵噪聲。保持 SN和 S裁判到最低限度,保持 Kd因此,大并保持N小將最小化環路帶寬內的相位噪聲B。w.由于N對輸出頻率進行編程,因此通常不能將其用作降噪因素。
對于遠大于 B 的頻率偏移w,占主導地位的噪聲項是由于VCO,SVCO.這是由于環路對VCO相位噪聲進行了高通濾波。B 的小值w是可取的,因為它將最小化總集成輸出噪聲(相位誤差)。然而一個小Bw導致瞬態響應緩慢,環路帶寬內的VCO相位噪聲貢獻增加。因此,環路帶寬計算必須在瞬態響應和總輸出積分相位噪聲之間進行權衡。
為了顯示閉環對PLL的影響,圖5顯示了自由運行的VCO輸出和作為PLL一部分的VCO輸出的疊加。請注意,與自由運行的VCO相比,PLL的帶內噪聲已衰減。
圖5.自由運行的VCO和PLL連接的VCO上的相位噪聲
相位噪聲測量
測量相位噪聲的最常見方法之一是使用高頻頻譜分析儀。圖 6 是將看到的典型示例。
圖6.相位噪聲定義。
使用頻譜分析儀,我們可以測量每單位帶寬相位波動的單側頻譜密度。VCO相位噪聲最好在頻域中描述,其中頻譜密度通過測量輸出信號中心頻率兩側的噪聲邊帶來表征。在與載波的給定頻率偏移下,單邊帶相位噪聲功率以相對于載波的分貝 (dBc/Hz) 為單位指定。以下公式描述了這種SSB相位噪聲(dBc/Hz)。
圖7.使用頻譜分析儀測量相位噪聲
頻譜分析儀后面板連接器上的 10MHz、0dBm 參考振蕩器具有出色的相位噪聲性能。R分頻器、N分頻器和鑒相器是ADF4112頻率合成器的一部分。這些分頻器在PC的控制下串行編程。在頻譜分析儀上觀察頻率和相位噪聲性能。
圖8.典型頻譜分析儀輸出
圖8顯示了使用ADF4112 PLL和Murata VCO(MQE520-1880)的PLL頻率合成器的典型相位噪聲圖。頻率和相位噪聲是在5 kHz范圍內測量的。使用的參考頻率為F裁判= 200 kHz (R=50),輸出頻率為 1880 MHz (N=9400)。如果這是一個理想世界的PLL頻率合成器,則會顯示一個高于頻譜分析儀本底噪聲的離散音。這里顯示的是音調,以及由環路組件引起的相位噪聲。選擇環路濾波器值以提供大約20 kHz的環路帶寬。頻率偏移小于環路帶寬的相位噪聲的平坦部分實際上是X描述的相位噪聲2和 Y2在“閉環”部分中,對于 F 在環路帶寬內的情況。它被指定為1 kHz偏移。測得的值是1 Hz帶寬中的相位噪聲功率,為-85.86 dBc/Hz。它由以下內容組成:
1kHz 偏移時載波和邊帶噪聲之間的相對功率(以 dBc 為單位)
頻譜分析儀顯示特定分辨率帶寬 (RBW) 下的功率。在圖中,使用了 10 Hz RBW。要在 1 Hz 帶寬中表示此功率,必須從 (1) 中的值中減去 10log(RBW)。
考慮到RBW的實現、對數顯示模式和檢測器特性,必須在(2)中的結果中添加一個校正因子。
HP 8561E 的相位噪聲測量可通過標記噪聲功能 MKR 噪聲快速進行。此功能考慮了上述三個因素,并以dBc/Hz為單位顯示相位噪聲。
上面的相位噪聲測量值是VCO輸出端的總輸出相位噪聲。如果我們想估計PLL器件的貢獻(鑒相器、R&N分頻器和鑒相器增益常數引起的噪聲),結果必須除以N2(或從上述結果中減去 20'logN)。這給出了[-85.86 - 20'log(9400)] = -165.3 dBc/Hz的相位噪底。
參考馬刺
在整數N分頻PLL中(其中輸出頻率是基準輸入的整數倍),基準雜散是由電荷泵輸出以參考頻率速率連續更新的事實引起的。再次考慮本系列第 1 部分中討論的 PLL 的基本模型。圖 9 再次顯示了這一點。
圖9.基本鎖相環模型
當PLL處于鎖定狀態時,PFD的相位和頻率輸入(f裁判和 fN)基本上是相等的,從理論上講,人們會期望PFD沒有產出。但是,這會產生問題(將在本系列的第3部分中討論),因此PFD的設計使得在鎖定條件下,來自電荷泵的電流脈沖通常如圖10所示。
圖 10.來自 PFD 電荷泵的輸出電流脈沖
盡管這些脈沖的寬度非常窄,但它們存在的事實意味著驅動VCO的直流電壓由頻率f的信號調制裁判.這會在RF輸出中產生參考雜散,其偏移頻率是f的整數倍裁判.頻譜分析儀可用于檢測參考雜散。只需將量程增加到參考頻率的兩倍以上即可。典型圖如圖11所示。在這種情況下,參考頻率為200 kHz,該圖清楚地顯示了1880 MHz射頻輸出在±200 kHz處的參考雜散。這些雜散的電平為 -90 dB。如果跨度增加到參考頻率的四倍以上,我們還會看到(2' fREF)處的雜散。
圖 11.顯示參考雜散的輸出頻譜
電荷泵漏電流
當頻率合成器的CP輸出被編程為高阻抗狀態時,理論上應該沒有漏電流流動。實際上,在某些應用中,漏電流水平會對整體系統性能產生影響。例如,考慮一個應用,其中PLL在開環模式下用于頻率調制 - 一種簡單而廉價的FM實現方式,還允許比閉環模式下調制更高的數據速率。對于FM,閉環方法工作正常,但數據速率受環路帶寬的限制。使用開環調制的系統是歐洲無繩電話系統DECT。輸出載波頻率在1.77 GHz至1.90 GHz范圍內,數據速率高;1.152 Mbps.
圖 12.開環調制框圖
開環調制框圖如圖12所示。工作原理如下:環路最初閉合以鎖定射頻輸出,f外= N f裁判.調制信號打開,起初調制信號只是調制的直流平均值。然后,通過將頻率合成器的CP輸出置于高阻抗模式來打開環路,并將調制數據饋送到高斯濾波器。然后,調制電壓出現在VCO上,乘以KV.數據突發完成后,環路返回到閉環操作模式。
由于VCO通常具有高靈敏度(典型數字在20至80 MHz/V之間),因此VCO之前的任何小電壓漂移都會導致輸出載波頻率漂移。這種電壓漂移以及系統頻率漂移直接取決于電荷泵CP在高阻抗狀態下的漏電流。這種泄漏將導致環路電容器根據泄漏電流的極性進行充電或放電。例如,1 nA的漏電流會導致環路電容器(例如1000 pF)上的電壓按dV/dt=I/C(本例中為1 mV/ms)進行充電或放電。反過來,這會導致VCO漂移。因此,如果環路開路1 ms,VCO的KV為50 MHz/V,則1 nA泄漏到1000 pF環路電容引起的頻率漂移將為50 kHz。事實上,DECT突發通常較短(0.5 ms),因此對于示例中使用的環路電容和漏電流,實際漂移甚至更小。然而,它確實有助于說明電荷泵泄漏在此類應用中的重要性。
接收器靈敏度
接收器靈敏度指定接收器響應弱信號的能力。數字接收器使用特定射頻電平的最大誤碼率(BER)來指定性能。一般而言,器件增益、噪聲系數、鏡像噪聲和本振(LO)寬帶噪聲共同產生等效噪聲系數。然后用于計算接收器的整體靈敏度。
LO中的寬帶噪聲會提高IF噪聲電平,從而降低整體噪聲因數。例如,F處的寬帶相位噪聲瞧+ F如果將在FIF產生噪聲產品。這直接影響接收器靈敏度。這種寬帶相位噪聲主要取決于VCO相位噪聲。
LO中的近載波相位噪聲也會影響靈敏度。顯然,任何接近F的噪音瞧將產生接近FIF的噪聲產物,并直接影響靈敏度。
接收器選擇性
接收器選擇性指定接收器響應與所需接收通道相鄰的通道的趨勢。相鄰信道干擾(ACI)是無線系統中常用的術語,也用于描述這種現象。在考慮LO部分時,參考雜散在選擇性方面尤為重要。圖13試圖說明LO上的雜散信號(具有與通道間隔頻率相同的間距)如何將能量從相鄰無線電信道直接轉換為IF。如果所需的接收信號遠且較弱,并且不需要的相鄰信道在附近且較強,則尤其需要注意這一點,這種情況通常就是這種情況。因此,PLL中的基準雜散越低,系統選擇性就越好。
圖 13.相鄰信道干擾
結論
在本系列的第 2 部分中,我們討論了與 PLL 頻率合成器相關的一些關鍵規格、描述的測量技術并展示了結果示例。此外,還簡要討論了相位噪聲、基準雜散和漏電流對系統的影響。
審核編輯:郭婷
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