案例背景
某樣品貼片電阻在實際應用環(huán)境中出現故障,經排查為電阻值降低導致失效。
分析過程
外觀分析
說明: 對樣品電阻進行外觀檢測,電阻三防漆有氣泡狀態(tài),整體電阻未見異物附著。
X-Ray分析
說明: 對樣品電阻進行X-ray檢測,電阻內部未發(fā)現裂紋、破損,以及異物,調阻槽“L”形清晰可見,未見燒毀等異常。
阻值測試分析
板上測試電阻
裁板測試電阻
說明:電阻標稱值1MΩ/1%。針對樣品電阻的測試,均偏離規(guī)格。將樣品電阻部分從PCBA上裁下后,再次測試電阻值,基本無變化,說明無電路相關的影響。
針對電阻的相關測試
針對電阻的相關測試步驟
1.取一樣品電阻,裁切下來進行清洗,去掉表面的三防漆及其他殘留物,干燥后再次測試電阻。
測試結果:清洗后再次測試電阻阻值變化,697KΩ→583 KΩ。
2.取一樣品電阻,裁切下來進行烘烤,溫度60℃,放置72H,不加載電壓。
測試結果:烘烤后再次測試電阻阻值變化,927KΩ→942 KΩ。60℃烘烤未見電阻值的明顯變化。
(注:電阻60℃烘烤72h對電阻烘干作用有限,此驗證僅做參考)
說明: 針對該電阻的測試,在電阻表面清除干凈附著物(三防漆、助焊劑殘留等)后,阻值仍然處于失效狀態(tài),可以排除電阻表面附著物導致的阻抗降低因素。
三防漆去除前后的表面成分測定
未除掉電阻表面的三防漆
說明: 對樣品電阻進行EDS層掃描,電阻本體部分表面主要為C、O元素,無金屬元素存在,即可排除三防層上有異物導致阻值降低的可能性。
去掉電阻表面的三防漆后測試
分析方法:利用棉簽剝離電阻表面三防漆,再通過SEM/EDS方法確認表面狀態(tài)。
說明: 電阻去除三防漆后,再進行EDS層掃描,電阻本體部分表面主要為Si元素以及少量的Br元素,無明顯的金屬性元素聚集形成短接。
器件開封
方法:利用711樹脂去除劑在高溫浸泡下(約8h),去除電阻表面的玻璃釉保護層,清洗后確認電阻膜表面狀態(tài)。電阻開封后的表面SEM&EDS分析均無異常。
說明: 對電阻進行開封,去除玻璃釉層后,電阻表面未見Ag遷移以及其他異常,測量的電阻值為999KΩ,阻值偏離失效現象消失,恢復正常(標稱值為1MΩ,1%)。從而說明造成電阻阻值變小的位置處于玻璃釉層或電阻膜層。
SEM&EDS分析
表面SEM分析
觀察電阻調阻槽表面覆蓋保護層(樹脂),其形貌粗糙,存在孔洞(黃色箭頭指示)。
表面EDS分析
調阻槽“L”SEM分析
說明:樣品經斷面研磨觀察,電阻可靠性本身存在限制,調阻槽上方保護層存在孔洞、微裂紋,且調阻槽存在疑似金屬殘留。
斷面調阻槽殘余金屬EDS分析
說明:調阻槽殘余金屬檢出Pb元素,為電阻膜組成元素。
電阻相關的限制參數
查電阻規(guī)格書,針對電阻溫度特性的關鍵參數如下:
從上記規(guī)格書內容可見,該電阻的工作溫度在70℃以下,才能保障其正常的負荷能力。當電阻在70℃上限運行時,其阻值會存在大于1%的精度偏差。電阻穩(wěn)態(tài)濕熱可靠性測試的實驗條件為40℃/90%RH。
說明:該產品應用于小型基站,其工作上限溫度為70℃。當超出該溫度時,其負載能力及阻值偏差會發(fā)生變化。
分析結果
不良解析
1. 通過對樣品電阻的一系列分析驗證,可以判斷電路回路、異物(污染)、Ag遷移等因素不是導致電阻阻值降低的原因;
2.通過對樣品電阻的分析,可以判斷電阻存在明顯缺陷如下:
①電阻表面保護層存在粗糙、孔洞等缺陷;
②電阻調阻槽內存在電阻膜殘余金屬Pb;
3.通過對電阻應用環(huán)境與電阻規(guī)格要求的比對,電阻運行時的實際溫度可能比較高,電阻額定溫度為70℃,超出該溫度,會導致其負載能力降低,阻值偏差增大。
失效機理
要因1:電阻保護層存在孔洞、粗糙等異常現象,為水汽進入電阻內部提供了通道,電阻調阻槽內部存在明顯的電阻膜殘余金屬。
要因2:電阻在高溫高濕條件下運行,水汽會侵入電阻保護層,到達調阻槽。調阻槽殘余的電阻膜金屬和水汽結合,在一定的電流作用下,會使調阻槽之間的漏電流不斷增加,最終導致電阻值降低。
要因3:電阻的應用環(huán)境可能超限。電阻額定溫度為70℃,實際應用環(huán)境可能超出該溫度,繼而導致其負載能力降低,阻值偏差增大。
失效結論
該電阻存在電阻保護層存粗糙、孔洞缺陷,且電阻調阻槽內存在電阻膜金屬殘余的情況,當運行的環(huán)境達到或超出其應用環(huán)境時,便會加速了電阻的老化作用,導致阻值偏離。
改善方案
電子產品的可靠性設計,其核心在于電子元器件的選擇。電子元器件的質量與規(guī)格直接影響它在實際應用時能發(fā)揮出來的功能。據此,提出以下改善建議:
1.建議加強電阻可靠性的分析管理,進行DPA分析,保障電阻結構上無缺陷;
2.針對該應用產品,建議采用耐高溫高濕能力較強的精密電阻,減少應用環(huán)境對阻值的影響。
新陽檢測中心有話說:
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審核編輯黃宇
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