本文 介紹 了 如何 使用 可 加速 開發 的 即 用 型 平臺 高效 設計 符合 標準 的 電能 質量 (PQ) 測量 儀器。它將討論設計A類和S類電表的不同解決方案,包括新的S類電能質量測量集成解決方案,該解決方案可顯著減少電能質量監控產品的開發時間和成本。文章“電能質量監控第1部分:符合標準的電能質量測量的重要性”提供了對IEC電能質量標準及其參數的理解。
實施電能質量解決方案的挑戰
設計用于電能質量測量的儀器的基本組件如圖1所示。首先,電流和電壓傳感器必須考慮儀器的工作范圍,并使輸入信號適應模數轉換器(ADC)輸入的動態。傳統傳感器是測量中不確定性的第一個來源;因此,正確的選擇非常重要。接下來,信號進入ADC;其各自的特性(如失調、增益和非線性誤差)會產生第二個不確定性來源。為此功能選擇正確的ADC對于設計電能質量儀器是一項艱巨的工作。最后,必須產生一系列信號處理算法,以便從輸入信號中獲得電氣和電能質量測量值。
圖1.電能質量測量儀器的主要部件。
電壓和電流傳感器
根據電能質量儀表的位置和應用,標稱電源電壓(U名詞)、額定電流 (I名詞),并且頻率各不相同。與儀器測量的標稱值無關,IEC 61000-4-7標準要求電能質量測量儀器達到表1中所示的精度;因此,必須選擇傳感器,使儀器滿足精度要求。
類 | 測量 | 條件 | 最大誤差 |
一個 | 電壓 |
UM≥ 1% U名詞 UM< 1% U名詞 |
±5% UM ±0.05% U名詞 |
當前 |
我M≥ 3% I名詞 我M< 3% I名詞 |
±5% IM ±0.15% I名詞 |
|
權力 |
PM≥ 150 W PM< 150 W |
±1% PM ±1.5% W |
|
S | 電壓 |
UM≥ 3% U名詞 UM< 3% U名詞 |
±5% UM ±0.15% U名詞 |
電壓 |
我M≥ 10% I名詞 我M< 10% I名詞 |
±5% IM ±0.15% I名詞 |
我名詞:測量儀器的標稱電流范圍
U名詞:測量儀器的標稱電壓范圍
UM我M和 PM: 測量值
The IEC61000-4-71標準建議按照這些標稱電壓(U名詞) 和標稱電流 (I名詞):
對于 50 Hz 系統:66 V、115 V、230 V、400 V、690 V
對于 60 Hz 系統:69 V、120 V、240 V、277 V、347 V、480 V、600 V
0.1 安、0.2 安、0.5 安、1 安、2 安、5 安、10 安、20 安、50 安、100 安培
此外,選擇用于測量電壓和電流的傳感器在1.2× U名詞和我名詞連續應用。四倍于標稱電壓或 1 kV rms(以較小者為準)的信號施加到儀器上 1 秒,不得導致任何損壞。同樣,一個 10× I名詞電流 1 秒不會產生任何損壞。
模數轉換器
盡管IEC 61000-4-30標準沒有規定采樣速率的最低要求,但ADC必須具有足夠的采樣速率來測量一些振蕩和快速電能質量現象。采樣率不足可能導致電能質量事件分類錯誤或無法檢測到電能質量事件。IEC 61000-4-30 標準規定,儀器電壓和電流傳感器應適用于高達 9 kHz 的頻率。因此,必須按照信號分析規則選擇ADC的采樣頻率,以測量高達9 kHz的頻率分量。圖2說明了采樣率不足的后果。左上角波形每 64 個周期 (10 ms) 包含 200 個樣本,右上角波形每 1024 個周期包含 10 個樣本。如圖2所示,左上圖顯示電壓驟降事件,而右上圖顯示瞬態感應電壓驟降。
IEC標準適用于單相和三相系統;因此,所選ADC必須能夠同時對所需數量的電壓和電流通道進行采樣。同時測量儀器上的所有電壓和電流通道,可以檢查所有參數,并在發生電能質量事件時立即觸發。
數字信號處理
盡管為電能質量測量選擇傳感器和ADC需要全面的工程設計工作,但開發用于處理原始ADC測量的算法無疑是制造電能質量儀器需要大部分時間和資源的任務。要 實現 符合 標準 的 儀器, 必須 選擇 合適 的 DSP 硬件, 并且 必須 開發 并 正確 測試 從 波形 樣本 計算 電能 質量 參數 的 算法。該標準不僅要求計算,還要求不同的時間相關聚合,A類的時間精度每1小時小于±24秒,S類每5小時的時間精度小于±24秒。這些算法必須執行諧波分析。此外,電能質量參數依賴于快速傅里葉變換(FFT)分析(諧波、間諧波、電源信號電壓、不平衡),這很難實現。FFT分析要求以每1024 ms(200個周期)最少10個樣本對波形進行采樣。對ADC的原始波形進行重采樣至所需速率時,需要注意避免諧波失真和混疊。
算法開發完成后,IEC 標準要求儀器必須通過 400 多項測試才能獲得全面認證。
圖3所示框圖顯示了DSP系統產生電能質量測量所需的最相關功能。
圖2.ADC采樣速率對電能質量測量的影響。
圖3.框圖:DSP電能質量系統的相關功能。
多通道同步采樣ADC,符合IEC 61000-4-30 A類標準
考慮到開發A類PQ儀器的精度、通道數和采樣速率要求,建議將AD777x和AD7606x系列產品用于信號鏈/系統的ADC轉換。請注意,這些解決方案僅提供來自輸入信號的原始數字化數據。必須開發DSP系統才能獲得認證的PQ測量。
AD777x 系列Σ-Δ型ADC
AD777x是一款8通道、24位同步采樣ADC系列器件。片內有16個全Σ-Δ型(∑-Δ)ADC,提供32 kSPS/128 kSPS/777 kSPS的采樣速率。AD1x提供低輸入電流,允許直接連接傳感器。每個輸入通道都有一個可編程增益級,允許增益為2、4、8和777,以將較低幅度的傳感器輸出映射到滿量程ADC輸入范圍,從而最大化信號鏈的動態范圍。AD1x接受3 V至6.0 V的VREF電壓,模擬輸入范圍:2 V至5.1 V或±25.7770 V。模擬輸入可以配置為接受真差分、偽差分或單端信號,以匹配不同的傳感器輸出配置。提供采樣速率轉換器,允許對AD0進行精細分辨率控制,可用于需要ODR分辨率以保持線路頻率01.777 Hz變化相干的應用。AD5x還提供7771 kHz大信號輸入帶寬(AD10 40 kHz)。提供數據輸出和SPI通信接口,但SPI也可以配置為輸出Σ-Δ轉換數據。溫度范圍為 –105°C 至 +125°C,采用 3.3 V 或 ±1.65 V 電源時工作溫度高達 +<>°C。
圖4顯示了PQ儀器AD3x系列ADC的三相典型應用系統圖,該儀器使用電流互感器作為電流傳感器和電壓電阻分壓器。
AD7606x系列16/18位ADC數據采集系統
AD7606x提供具有16個通道的18位/16位同步采樣模數數據采集系統(DAS)。每個通道包含模擬輸入箝位保護、可編程增益放大器(PGA)、低通濾波器和18/7606位逐次逼近寄存器(SAR)ADC。AD2x還內置一個靈活的數字濾波器、低漂移、用于驅動ADC的5.<> V精密基準電壓源和基準電壓緩沖器,以及靈活的并行和串行接口。
AD7606B采用5 V單電源供電,在所有通道以10 kSPS (AD5B)/2 MSPS (AD5C)的吞吐速率采樣時,支持±800 V、±7606 V和±1.7606 V真雙極性輸入范圍。輸入箝位保護可承受不同的電壓,用戶可選擇模擬輸入范圍(±20 V、±12.5 V、±10 V、±5 V 和 ±2.5 V)。AD7606x需要5 V單模擬電源。單電源供電、片內濾波和高輸入阻抗免除了增設外部驅動器運算放大器的需要,后者需要雙極性電源。
在軟件模式下,可以使用以下高級功能:
其他過采樣 (OS) 選項,最高可達 OS × 256
每個通道的系統增益、系統失調和系統相位校準
模擬輸入開路檢測器
診斷多路復用器
監控功能:SPI無效讀/寫、循環冗余校驗(CRC)、過壓和欠壓事件、忙卡監控和復位檢測
圖4顯示了AD3x系列ADC的三相典型應用系統圖,用于電能質量儀器,使用電流互感器作為電流傳感器和電壓電阻分壓器。
圖4.AD3X和AD777x系列ADC的電能質量三相應用系統圖
ADI公司預認證的IEC S類電能質量解決方案
ADE9430是一款高精度、完全集成的多相電能計量IC,與在主機微控制器上運行的ADSW-PQ-CLS軟件庫相結合,是一款符合IEC 61000-4-30 S類標準的完整解決方案。這種集成顯著減少了PQ監控產品的開發時間和成本。ADE9430 + ADSW-PQ-CLS 解決方案通過提供采集和計算引擎的緊密集成,簡化了能源和PQ監控系統的實現和認證。圖5顯示了ADE3 + ADSW-PQ-CLS解決方案的三相應用系統圖,該解決方案適用于使用電流互感器作為電流傳感器和電壓電阻分壓器的電能質量儀器。
ADE9430 S類電能質量模擬前端
ADE9430具有3個輸入通道,可用于三相系統或最多三個單相系統。它支持電流互感器(CT)或羅氏線圈,并帶有外部模擬積分器,用于電流測量。它為電能質量監控和電能測量提供了一個集成的模擬前端。ADE9430與ADE9000和ADE9078引腳兼容,具有同等的模擬和計量性能。其功能包括:
24個高性能<>位Σ-Δ型ADC
101 dB 信噪比
寬輸入電壓范圍:±1 V、707 mV rms,增益 = 1 時滿量程
差分輸入
0.2 級精度計量
單周期有效值、線路頻率、過零、高級計量
波形緩沖器
連續重采樣數據:每 1024/10 行周期 12 個點
涵蓋 50 Hz 和 60 Hz 基頻的高級計量技術
支持有源能源標準:IEC 62053-21 和 IEC 62053-22;EN 50470-3 OIML R46;和 ANSI C12.20
支持無功電能標準:IEC 62053-23、IEC 62053-24
ADSW-PQ-CLS 軟件庫
ADSW-PQ-CLS 軟件庫專門設計用于與 ADE9430 集成,以生成符合標準的 IEC 61000-4-30 S 類 PQ 測量值。它實現了 IEC 61000-4-30 中為 S 類儀器定義的所有參數。用戶可以決定使用哪些 PQ 參數。該庫需要低 CPU/RAM 資源,并且與內核/操作系統無關(Arm Cortex-M 最低要求)。支持的MCU架構包括Arm Cortex-M0,Cortex-MO+,Cortex-M1,Cortex-M3和Cortex-M4。為了分發給最終用戶,該庫以CMSIS-PACK文件(.pack)的形式提供,該文件與Keil Microvision,IAR Embedded Workbench版本8.x或ADI公司CrossCore Embedded Studio兼容。軟件庫許可證包含在購買ADE9430時。提供了一個 PC 串行命令行界面 (CLI) 示例來評估庫及其功能。圖 6 顯示了此 CLI 如何顯示 PQ 參數。???
圖5.ADE9430和ADSW-PQ-CLS PQ 三相系統圖。
圖6.ADSW-PQ-CLS 軟件庫串行 CLI 接口。
ADE9xxx系列電能質量特性摘要
參數 | ADE9078 公用事業計量 | ADE9000 電能質量 | ADE9430 + ADSW-PQ-CLS |
瓦特,瓦特小時 | ? | ? | ? |
I rms, V rms, VA, VA-hr | ? | ? | ? |
總可變值,可變值小時 | ? | ? | ? |
基本變量,變量小時 | ? | ? | ? |
功率因數 | ? | ? | ? |
電流相位角 | ? | ? | ? |
電壓相位角 | ? | ? | ? |
線路頻率 – 三 | ? | ? | S 類 |
相序檢測 | ? | ? | ? |
1/2 周期有效值 | — | ? | — |
1 周期有效值 | — | ? | S 類 |
10/12 周期有效值 | — | ? | S 類 |
150/180 周期有效值 | — | — | S 類 |
傾角/膨脹 | — | ? | S 類 |
中斷 | — | — | S 類 |
過電流 | — | ? | ? |
基本瓦特,瓦特小時,弗吉尼亞州,弗吉尼亞州每小時 | — | ? | ? |
快速電壓變化 | — | — | S 類 |
過/欠偏差 | — | — | S 類 |
閃爍 | — | — | S 類 |
電壓/電流不平衡 | — | — | S 類 |
電壓/電流諧波、間諧波 | — | — | S 級高達 40千 |
ITHD, VTHD | — | ? | S 類 |
電源信號電壓 | — | — | S 類 (<3 kHz) |
基本 I rms, V rms | — | ? | ? |
數據速率 | 16 千米/4 千米 | 32 千米/8 千米 | 32 千米/8 千米 |
重采樣數據 | 64 分/周期 | 128 分/周期 | 128 分/周期或 1024 點/(10/12 次循環) |
最大 SPI 頻率 | 10兆赫 | 20兆赫 | 20兆赫 |
ADE9430 評估套件
EVAL-ADE9430ARDZ可通過ADE9430和ADSW-PQ-CLS電能質量庫快速評估和原型設計電能和S類電能質量測量系統。提供電能質量庫和應用示例,以簡化大型系統的實現。該套件提供即插即用類型的體驗,易于使用來測試三相電氣系統的電能質量參數。
該套件具有以下硬件功能:
電流互感器輸入
高電壓/電流輸入
240 V rms 標稱值(帶分壓器)
最大 80 A 有效值(帶隨附的 CT 傳感器)
2.5 kV 隔離
板載 RTC 到時間戳測量
IEC 61000-4-30 S 類預認證(需要用戶校準)
在Arm Cortex-M4 MCU上運行的ADSW-PQ-CLS庫和示例應用程序
串行 CLI 到 PC,用于配置和記錄電能質量參數
圖7顯示了將EVAL-ADE9430ARDZ與PC配合使用所需的連接。
EVAL-ADE9430ARDZ由一個具有四個電流和三個電壓+中性輸入連接器的PCB和板載ADE9430、隔離器、一個實時時鐘、一個Cortex-M4 STM NUCLEO-413ZH開發板(帶有ADSW-PQ-CLS庫的示例應用)和三個電流傳感器組成。
圖7.EVAL-ADE9430ARDZ連接到PC的示意圖。
認證
ADE9430 + ADSW-PQ-CLS 解決方案已經過認證,可按照IEC 61000-4-30 S類標準的要求精確測量電能質量參數。
結論
設計符合標準的電能質量儀表是一項具有挑戰性的任務。為了減少生產符合IEC 61000-4-30 S類標準的PQ測量儀器所需的時間和工程資源,ADE9430 + ADSW-PQ-CLS是一款完整的首選解決方案,可為設計人員提供即用型平臺,以加速開發并解決許多關鍵設計挑戰。
審核編輯:郭婷
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