器件的I-V功能測試和特征分析是實驗過程中經(jīng)常需要測試的參數(shù)之一,一般我們用到源表進行IV參數(shù)的測試,如果需要對測試的數(shù)據(jù)進行實時IV曲線圖顯示及保存,可以用到源表測試軟件NS-SourceMeter。本篇文章納米軟件Namisoft小編將為大家分享一下關(guān)于用源表測試IV參數(shù)的典型應(yīng)用及源表測試軟件。
一、各種器件的I-V功能測試和特征分析包括
1、分立和無源元件
兩端口器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物可變電阻(MOV)、二極管、齊納二極管、電容、熱敏電阻
三端口器件——小信號雙極結(jié)型晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET),等等
2、簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器
3、集成器件——小規(guī)模集成(SSI)和大規(guī)模集成(LSI)
模擬IC
專用集成電路(ASIC)
片上系統(tǒng)(SOC)器件
4、光電器件,例如發(fā)光二極管(LED)、激光二極管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面發(fā)射激光器 (VCSEL)、顯示器
5、圓片級可靠性
NBTI、TDDB、HCI、電遷移
6、太陽能電池
7、電池
等等...
二、NS-SourceMeter源表測試軟件IV特性測試應(yīng)用案例
這里以納米NS-SourceMeter源表軟件為例,用到軟件的掃描模塊進行IV曲線的測試演示。
◆試驗參數(shù)設(shè)置界面
在此界面中進行試驗的具體參數(shù)設(shè)置,選擇接線方式(二線法、四線法),掃描模式(從起點到終點單項掃描、從起點到終點循環(huán)掃描、從零點開始循環(huán)掃描),傳感器模式、輸出測試通道(通道、輸出類型、起點電壓、終點電壓、掃描步長、電流限制、測量間隔、循環(huán)間隔、循環(huán)次數(shù)),如下圖所示。
◆運行測試界面(舉例說明)
測試內(nèi)容:伏安特性曲線(900KΩ)
測量結(jié)果:源表會根據(jù)改模塊配置,如掃描模式(從起點到終點單項掃描),傳感器模式(關(guān)閉),通道(CH1),輸出類型(電壓輸出),起點電壓(0.10V),終點電壓(10.00V),掃描步長(0.10)、電流限制(1.00A),測量間隔(0.01S),循環(huán)間隔(0.10S),循環(huán)次數(shù)(1.00次)進行掃描,如下圖所示。
源表測試軟件詳情介紹及下載地址:https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/642.html
審核編輯:湯梓紅
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