LDO裕量及其對輸出噪聲和PSRR的影響
最新的千兆赫模擬電路建立在深亞微米工藝之上,需要更低的電源電壓,在某些情況下低于1 V。這些高頻電路通常需要相當(dāng)大的電源電流,因此熱管理會變得困難。設(shè)計目標(biāo)是將功耗降低到電路性能絕對必要的水平。
開關(guān)模式DC-DC轉(zhuǎn)換器是效率最高的電源,有些器件的效率超過95%,但這種高效率的代價是電源噪聲增加,通常是在寬帶寬上。低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)經(jīng)常用于清理嘈雜的電源軌,但它們也存在權(quán)衡、功耗和增加系統(tǒng)熱負荷的問題。為了盡量減少這些問題,LDO可以在輸入和輸出電壓之間的較小差值(裕量電壓)下工作。本文討論低裕量電壓操作對電源抑制和總輸出噪聲的影響。
LDO電源抑制與裕量的關(guān)系
LDO電源抑制比(PSRR)在很大程度上取決于裕量電壓,即輸入電壓和輸出電壓之差。對于固定裕量電壓,PSRR隨著負載電流的增加而降低;對于大負載電流和小裕量電壓尤其如此。圖1顯示了超低噪聲、7160.2 V線性穩(wěn)壓器ADM5的PSRR,具有200 mA負載電流和200 mV、300 mV、500 mV和1 V裕量電壓。隨著裕量電壓的降低,PSRR會降低,差異可能會很大。例如,在100 kHz時,將裕量電壓從1 V更改為500 mV會導(dǎo)致PSRR降低5 dB。但是,裕量電壓變化較小,從500 mV到300 mV,導(dǎo)致PSRR下降超過18 dB。
圖1.ADM7160 PSRR與裕量的關(guān)系
圖2顯示了LDO的框圖。隨著負載電流的增加,PMOS調(diào)整元件的增益在飽和并進入三極管區(qū)域時減小。這會導(dǎo)致總環(huán)路增益降低,從而降低PSRR。裕量電壓越小,增益降低越明顯。隨著裕量電壓的不斷降低,達到控制環(huán)路增益降至1,PSRR降至0 dB的點。
降低環(huán)路增益的另一個因素是調(diào)整元件的電阻,其中包括FET的導(dǎo)通電阻、片內(nèi)互連電阻和引線鍵合。該電阻的估計值可以從壓差得出。例如,采用WLCSP封裝的ADM7160在200 mA時的最大壓差為200 mV。使用歐姆定律,傳遞元件的電阻約為 1 Ω。調(diào)整元件可以近似為固定電阻加可變電阻。
流過該電阻的負載電流導(dǎo)致的壓降會減去FET的漏源工作電壓。例如,對于1 Ω FET,200 mA的負載電流可將漏源電壓降低200 mV。在估算工作在500 mV或1 V裕量的LDO的PSRR時,必須考慮調(diào)整元件兩端的壓降,因為調(diào)整FET僅在300 mV或800 mV下有效工作。
圖2.低壓差穩(wěn)壓器框圖
容差對LDO裕量的影響
客戶經(jīng)常要求應(yīng)用工程師幫助他們選擇LDO,以便在負載電流Z下從輸入電壓Y產(chǎn)生低噪聲電壓X,但在設(shè)置這些參數(shù)時經(jīng)常忽略的一個因素是輸入和輸出電壓的容差。隨著裕量電壓越來越低,輸入和輸出電壓的容差會極大地影響工作條件。輸入和輸出電壓的最差情況容差總是導(dǎo)致較低的裕量電壓。例如,最差情況下的輸出電壓可能高1.5%,輸入電壓可能低3%。當(dāng)3.3 V穩(wěn)壓器由3.8 V電源供電時,最差情況下的裕量電壓為336.5 mV,遠低于預(yù)期的500 mV。當(dāng)最差情況下負載電流為200 mA時,調(diào)整FET的漏源電壓僅為136.5 mV。在這種情況下,ADM7160的PSRR預(yù)計會遠遠低于公布的55 mA時的10 dB。
在壓差模式下工作的LDO的PSRR
客戶經(jīng)常向應(yīng)用工程師詢問LDO的壓差PSRR。最初,這似乎是一個合理的問題,但看一眼簡化的框圖就會發(fā)現(xiàn)它毫無意義。當(dāng)LDO處于壓差狀態(tài)時,通過FET的可變電阻部分為零,輸出電壓等于輸入電壓減去通過通過FET的RDSON的負載電流引起的壓降。LDO不進行調(diào)節(jié),并且沒有增益來抑制輸入端的噪聲;它只是作為電阻器工作。FET的RDSON與輸出電容形成一個RC濾波器,提供少量的殘余PSRR,但一個簡單的電阻或鐵氧體磁珠可以更經(jīng)濟高效地完成相同的工作。
在低凈空運行時保持性能
在低裕量下工作時,必須考慮裕量電壓對PSRR的影響,否則將導(dǎo)致輸出電壓噪聲高于預(yù)期。PSRR與裕量電壓的關(guān)系圖(如圖3所示)通常可在數(shù)據(jù)手冊中找到,可用于確定給定條件下可能的噪聲抑制量。
圖3.PSRR 與裕量電壓的關(guān)系。
但是,通過演示LDO的PSRR如何有效濾除源電壓噪聲,有時更容易了解如何應(yīng)用這些信息。下圖顯示了在不同裕量電壓下工作時對LDO總輸出噪聲的影響。
圖4顯示了具有2 mV裕量和5 mA負載的7160.500 V ADM100的輸出噪聲與E3631A臺式電源的基準(zhǔn)噪聲的比較,后者在350 Hz至20 MHz范圍內(nèi)的噪聲小于20 μV-rms。低于 1 kHz 的許多雜散是與 60 Hz 線路頻率整流相關(guān)的諧波。10 kHz以上的寬雜散來自產(chǎn)生最終輸出電壓的DC-DC轉(zhuǎn)換器。1 MHz以上的雜散是由環(huán)境中的RF源引起的,與電源噪聲無關(guān)。用于這些測試的電源的實測噪聲為56 μV rms,范圍為10 Hz至100 kHz,包括雜散在內(nèi)為104 μV rms。LDO 抑制電源上的所有噪聲,輸出噪聲約為 9μV-rms。
圖4.ADM7160噪聲頻譜密度,裕量為500 mV。
當(dāng)裕量電壓降至200 mV時,當(dāng)高頻PSRR接近100 dB時,0 kHz以上的噪聲雜散開始穿透本底噪聲。噪聲略微上升至10.8 μV rms。當(dāng)裕量降至150 mV時,整流諧波開始影響輸出噪聲,輸出噪聲上升至12 μV rms。在大約250 kHz處會出現(xiàn)一個中等峰值,因此即使總噪聲的增加不大,敏感電路也可能受到不利影響。隨著裕量電壓的進一步下降,性能會受到影響,與整流相關(guān)的雜散在噪聲頻譜中變得明顯。圖5顯示了裕量為100 mV時的輸出。噪聲已升至12.5 μV rms。諧波包含的能量非常少,因此雜散噪聲僅略高,為12.7 μV rms。
圖5.ADM7160噪聲頻譜密度,裕量為100 mV。
使用75 mV裕量時,輸出噪聲會受到嚴重影響,并且整流諧波會出現(xiàn)整個頻譜。均方根噪聲上升至18 μV rms,噪聲加雜散上升至27 μV rms。超過200 kHz的噪聲會衰減,因為LDO環(huán)路沒有增益,充當(dāng)無源RC濾波器。ADM65裕量為7160 mV,采用壓差工作。如圖6所示,ADM7160的輸出電壓噪聲與輸入噪聲基本相同。均方根噪聲現(xiàn)在為53 μV rms,噪聲加雜散為109 μV rms。超過100 kHz的噪聲會衰減,因為LDO充當(dāng)無源RC濾波器。
圖6.壓差條件下的噪聲頻譜密度ADM7160
具有高PSRR的超低噪聲LDO
ADM7150等新型LDO(如超低噪聲、高PSRR穩(wěn)壓器)基本上級聯(lián)兩個LDO,因此產(chǎn)生的PSRR大約是各個級的總和。這些LDO需要稍高的裕量電壓,但能夠在60 MHz時實現(xiàn)超過1 dB的PSRR,在較低頻率下實現(xiàn)超過100 dB的PSRR。
圖7顯示了負載電流為5 mA、裕量為7150 mV的500 V ADM800的噪聲頻譜密度。輸出噪聲為2.2 μV rms,范圍為10 Hz至100 kHz。當(dāng)裕量降至600 mV時,整流諧波開始變得明顯,但隨著輸出噪聲上升至2.3 μV rms,對噪聲的影響很小。
圖7.ADM7150噪聲頻譜密度,裕量為800 mV。
裕量為500 mV時,整流諧波和12 kHz峰值清晰可見,如圖8所示。輸出電壓噪聲升至3.9 μV rms。
圖8.ADM7150噪聲頻譜密度,裕量為500 mV。
當(dāng)裕量為350 mV時,LDO處于壓差狀態(tài)。LDO不再能夠調(diào)節(jié)輸出電壓,其作用類似于電阻,輸出噪聲上升至近76 μV rms,如圖9所示。輸入噪聲僅由FET的RDSON和輸出電容形成的極點衰減。
圖9.壓差條件下的噪聲頻譜密度ADM7150
結(jié)論
現(xiàn)代LDO越來越多地用于清理臟電源軌,這些電源軌通常與開關(guān)穩(wěn)壓器一起實現(xiàn),這些穩(wěn)壓器在寬頻譜上產(chǎn)生噪聲。開關(guān)穩(wěn)壓器以高效率產(chǎn)生這些電壓軌,但耗散LDO可降低噪聲和效率。因此,LDO應(yīng)在盡可能小的裕量電壓下工作。
如圖所示,它們的PSRR是負載電流和裕量電壓的函數(shù),隨著負載電流的增加或裕量電壓的降低而減小,因為調(diào)整管的工作點從飽和區(qū)域移動到三極管區(qū)域時,環(huán)路增益降低。
考慮到輸入源噪聲特性、PSRR和最差情況容差,設(shè)計人員可以優(yōu)化功耗和輸出噪聲,為敏感的模擬電路實現(xiàn)高效、低噪聲電源。
在非常低的裕量電壓下工作時,輸入和輸出電壓的最差情況容差會影響PSRR。針對最壞情況公差進行設(shè)計將確保設(shè)計穩(wěn)健;否則,將產(chǎn)生PSRR較低的電源解決方案,從而導(dǎo)致總噪聲高于預(yù)期。
審核編輯:郭婷
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