GSM手機的普及導致不需要的RF信號穩步上升,導致電子電路給出失真的結果,除非它們具有足夠的RF噪聲抑制能力。因此,射頻抗擾度測試已成為確保電子電路令人滿意運行的必要條件。
介紹
當今的大多數手機都采用時分多址(TDMA)標準,這是一種多路復用方案,通過以217Hz的速率關閉和打開脈沖來調制高頻載波。然后,RF敏感IC可以解調該載波并再現217Hz信號及其諧波頻率。由于這些頻率中的大多數都落在音頻頻段內,因此它們會產生不需要的嗡嗡聲。因此,射頻抗擾度差的電路會解調手機的射頻頻率并產生不需要的低頻音頻。作為質量保證措施,測試應使電路處于與正常工作期間相當的RF環境中。
本文介紹一種測量集成電路板RF噪聲抑制能力的通用技術。射頻抗干擾測試使電路板處于受控的射頻水平,代表其工作期間可能遇到的應力。結果是一種標準的結構化測試方法,該方法可建立可用于定性分析的可重復結果。這些測試結果有助于選擇最能抵抗RF噪聲的IC和電路。
射頻敏感性可以通過將被測設備(DUT)放置在工作手機附近來測試。但是,為了獲得準確和可重復的測試結果,必須使用一致的方法和可重復的RF場對DUT進行測試。解決方案是射頻消聲測試室,可產生精確控制的射頻場,可與典型移動電話產生的射頻場相媲美。
射頻抗擾度測試設置
以下討論比較了MAX4232雙通道運算放大器(運算放大器)和競爭器件(競爭產品X)的RF抗擾度測試結果。RF抗擾度測試電路(圖1)顯示了與被測雙通道運算放大器的電路板連接。每個運算放大器都配置為交流放大器。在沒有交流信號輸入的情況下,輸出位于 1.5VDC(對于 V抄送= 3V)。反相輸入使用1.5“導線環路短路至地,以仿真輸入端的PC走線。該環路模擬實際跡線的效果,該跡線可以在工作頻率下充當天線,收集和解調RF信號。運算放大器的RF抗擾度通過在輸出端連接dBV表來測量和量化。
圖1.用于MAX4232雙通道運算放大器RF抗擾度測試的測試電路連接
Maxim的RF測試設置(圖2)產生RF抗擾度測試所需的RF場。消聲測試室具有類似于法拉第籠的屏蔽體,帶有用于連接電源電壓和輸出監視器的接入端口。測試設置是通過連接以下設備形成的:
信號發生器:9kHz至3.3GHz(羅德和施瓦茨SML-03)
射頻功率放大器:800MHz 至 1GHz,20W (OPHIR 5124)
功率計:25MHz至1GHz(羅德和施瓦茨)
并聯接線電池(消聲室)
電場傳感器
電腦(電腦)
dBV計
圖2.用于射頻抗噪性測試的設備設置。
信號發生器產生所需頻率和調制的RF信號,并將其饋送到功率放大器。功率放大器(PA)輸出通過定向耦合器和功率計進行測量和監控。計算機通過控制信號發生器輸出的頻率范圍、調制類型、調制百分比和PA的功率輸出來建立所需的RF場。使用天線(Planer型)在屏蔽消聲室內輻射電場,該天線產生均勻,精確校準且可重復的電場。
典型手機附近的射頻場距離手機輻射天線 60cm 處約為 4V/m;當一個人離開手機時,射頻場會減小到距離手機 25 厘米處的約 10V/m。因此,該腔室產生60V/m的均勻場強,模擬DUT所經歷的RF環境(60V/m也足夠低,可以使接收設備保持在削波電平以下并避免測量誤差)。RF正弦波在800MHz和1GHz的手機頻率之間變化,100%調制,音頻頻率為1000Hz。217Hz調制會產生類似的結果,但為了方便起見,選擇了更常見的音頻頻率1000Hz。腔室側面的接入端口為 DUT 供電,還可以連接 dBV 儀表,該儀表設置為 dBV 讀數(相對于 1V 的 dBs)。通過使用場傳感器調整腔室內的 DUT 位置,可以精確校準射頻場。
圖3.使用圖2設置的兩個雙通道運算放大器的RF噪聲抗擾度測試結果。
測試結果
兩個雙通道運算放大器(MAX4232和競爭產品X)的測試結果顯示,平均輸出單位為dBV(圖3)。針對800MHz至1Ghz的RF頻率變化,在60V/m的均勻電場下,MAX4232的平均輸出約為-66dBV (相對于500V為1μV rms),競爭產品X的平均輸出約為-18dBV (相對于125V為1mV RMS)。在沒有任何射頻信號的情況下,dBV表讀數為-86dBV。
因此,MAX4232輸出僅變化-20dB(-86dBV至-66dBV)。也就是說,RF環境導致其輸出從50μV RMS變為500μV RMS。可以說,MAX4232輸出僅隨RF環境變化10倍。因此,MAX4232具有-66dBV的出色RF抗擾度,不會產生任何明顯的輸出失真。
競爭對手X的平均讀數僅為-18dBV,這意味著當受到RF時,其輸出會改變125mV RMS(相對于1V RMS)。這一增幅是正常值(2500μV RMS)的50倍。因此,可以說競爭對手X的射頻抗擾度很差(-18dBV);當靠近手機或其他射頻源時,它更有可能引起問題。顯然,MAX4232是耳機放大器和麥克風放大器等音頻處理應用的更好選擇。
總結
總之,對于關注在射頻環境中保持高質量性能的電路板和IC制造商來說,RF抗擾度測試是必不可少的步驟。射頻腔室設置為準確的射頻抗擾度測試提供了一種經濟靈活的方法。
審核編輯:郭婷
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