乘用車中的電子部分持續(xù)快速增長，驅(qū)動這一現(xiàn)象的主要因素是乘用車中集成了各種先進(jìn)安全功能。整個行業(yè)向全自動駕駛汽車的轉(zhuǎn)變有望進(jìn)一步增加此類安全功能的數(shù)量，進(jìn)而增加電子部分的比重。最近有報(bào)告表明，高端汽車中目前集成了成百上千的半導(dǎo)體器件。另外，這些元器件的復(fù)雜性也是與日俱增。先進(jìn)半導(dǎo)體的前沿領(lǐng)域是在執(zhí)行人工智能算法所需的芯片中，這些算法可以管理新興的自動駕駛功能。這些安全相關(guān)的器件必須符合極高的質(zhì)量和可靠性標(biāo)準(zhǔn)。這些要求已在 ISO 26262 標(biāo)準(zhǔn)中正式提出，世界各地的汽車制造商和供應(yīng)商也已紛紛采用這一標(biāo)準(zhǔn)。這是一項(xiàng)綜合標(biāo)準(zhǔn)，涵蓋軟件和硬件的完整生命周期，從設(shè)計(jì)一直到測試和在現(xiàn)場運(yùn)行。為幫助企業(yè)滿足 ISO 26262 標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)制要求的質(zhì)量和可靠性指標(biāo)，Tessent 產(chǎn)品系列提供了一套全面的測試解決方案。

通過在線自測試確保系統(tǒng)可靠性

要確保汽車電子的可靠性，其中一種方法便是在 功 能 運(yùn) 轉(zhuǎn) 期 間 執(zhí) 行 定 期 測 試 。借 助 Tessent MissionMode 架構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)對所有片上測試資源的低延遲系統(tǒng)級訪問，以便進(jìn)行在線測試和診斷。

圖 1. 基于 IJTAG 的 Tessent MissionMode 架構(gòu)。

圖 1 顯示的即為該架構(gòu)。使用基于 IEEE 1687(IJTAG) 1,2 的網(wǎng)絡(luò)可以訪問在整個設(shè)計(jì)流程中分發(fā)的所有測試 IP。測試 IP 可以包括任意具有 DFT 功能的Tessent BIST，或任何符合 IJTAG 標(biāo)準(zhǔn)的第三方 IP。利用 SIB（掃描插入位）交換機(jī)的層次化網(wǎng)絡(luò)，即可與測試 IP 進(jìn)行多面而又高效的通信。IEEE 1149.1 TAP（測試訪問端口）可提供對 IJTAG 網(wǎng)絡(luò)的外部訪問，主要在制造測試環(huán)境中使用。居于此架構(gòu)中心的是 Tessent MissionMode 控制器，它能接管 TAP信號，并將任何測試或診斷命令驅(qū)動至 IJTAG 網(wǎng)絡(luò)中的任意和所有測試 IP。

Tessent MissionMode 控制器可配置為在兩種不同模式下工作。在 CPU 訪問模式下，該控制器支持與 CPU 總線之間的雙向并行讀寫操作。該控制器可根據(jù)需要執(zhí)行并行到串行和串行到并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，以便在 CPU 總線與 IJTAG 網(wǎng)絡(luò)之間傳輸信息。此模式支持模塊級或系統(tǒng)級通信架構(gòu)，如圖 2 所示。

圖 2. 電路板/系統(tǒng)級的測試通信架構(gòu)。

服務(wù)處理器可通過任意汽車總線，例如 CAN（控制器局域網(wǎng)）或 I2C（內(nèi)置集成芯片），訪問各個MissionMode 控制器，進(jìn)而訪問任意片上測試 IP。在直接存儲器訪問 (DMA) 模式下，MissionMode 控制器可讀取在非易失性存儲器中預(yù)載的命令數(shù)據(jù)。在系統(tǒng)操作期間，根據(jù)需要，可以存儲多種測試序列，而且可以以任何順序不限次數(shù)的重新獲得這些測試序列。

審核編輯：湯梓紅