半導體集成電路測試技術伴隨著集成電路的飛速發(fā)展而發(fā)展，對促進集成電路的進步和廣泛應用作出了巨大的貢獻。在集成電路研制、生產、應用等各個階段都要進行反復多次的檢驗、測試來確保產品質量和研制開發(fā)出符合系統要求的電路，尤其對于應用在軍工型號上的集成電路，控制質量，保障裝備的可靠性，集成電路的檢測、篩選過程至關重要。集成電路測試技術是所有這些工作的技術基礎。集成電路測試基本意義和作用是檢驗產品是否存在問題。下面 【科準測控】 小編就來介紹一下半導體集成電路引線牢固性中的引線疲勞測試方法！

引線疲勞試驗目的

本試驗是為了檢查引線及其密封處抗彎曲疲勞的能力。

集成電路的分類

（1）按測試目的分類∶驗證測試、生度測試、驗收測試、使用測試

（2）按測試內容分類∶參數測試、功能測試、結構測試

（3）按測試器件的類型分類∶數字電路測試、模擬電路測試、混合信號電路測試、存儲器測試、SOC測試

集成電路測試的意義和作用

集成電路測試的意義主要指對各種應用的數字集成電路、模擬集成電路和數模混合信號集成電路的測試。檢測集成電路芯片中由生產制造過程而引入的缺陷。測試的意義不僅僅在于判斷被測試器件是否合格，它還可以提供關于制造過程的有用信息，從而有且于提高成品率，還可以提供有關設計方案薄弱環(huán)節(jié)的信息，有且于檢測出設計方面的問題。

試驗設備：

科準測控多功能推拉力測試機廣泛用于與LED封裝測試、IC半導體封裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、大尺寸PCB測試、MINI面板測試、大尺寸樣品測試、汽車領域、航天航空領域、軍工產品測試、研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。

技術參數

測試精度 ：±0.1%

X軸有效行程：220MM（標準機型）可按需定制

Y軸有效行程：155MM（標準機型）可按需定制

Z軸有效行程：66MM（標準機型）可按需定制

平臺夾具：平臺可共用各種夾具，按客戶產品訂制

操作特點：雙搖桿控制機器四軸運動，操作簡單快捷

外形尺寸：L660W355H590(MM)

凈重：70KG

電源：220V50/60HZ.≤2KW

氣壓：0.4-0.6MPA

多種測試夾具 ( 可按客戶需求定制夾具，滿足各種封裝測試要求 )

試驗步驟

1、雙列引線外殼的試驗程序

器件應按試驗條件B∶承受三次循環(huán)，試驗時被施加的彎曲應力應使引線發(fā)生試驗條件Br中3.4所規(guī)定的彎曲。

2、 扁平外殼和金屬圓形外殼的試驗程序

除另有規(guī)定外，應把2.22N±0.14N的力加到被試的每條引線上，使外殼本體作三次90°±5°的旋轉。對于已預鍍覆和涂覆，且其截面模量等于或小于截面積為0.15mm×0.51mm的矩形引線或直徑為0.51mm的圓形引線的截面模量的引線，所加的力應是0.83N±0.09N。對于矩形引線，截面模量定義為bc76。c為與彎曲軸垂直的帶厚，b 為帶狀引線的另一邊尺寸。對于圓形引線，截面模量定義為0.098（φb1）3。Φb1為引出端直徑。弧形定義為在無扭力的情況下，外殼相對于垂直于拉力軸的位置運動且恢復到正常位置的過程所形成的曲線。對一根引線的各次彎曲應在同一個方向、同一個平面上，而又不妨礙引線的彎曲。一個彎曲過程應在2s～5s 內完成。對矩形或帶狀引線的器件而言，弧形平面應垂直于引線所在的平面。本試驗不適用于試驗時在引線密封處主要產生扭轉力的外殼邊上的引線。

3、窄節(jié)距細引線的選擇程序

除另有規(guī)定外，按以下公式確定的力應施加于每一根被試引線上，使外殼本體作90°±5°的旋轉。本條其他條件均適用于以下公式∶

可伐材料的極限抗拉強度典型值為53kgf/mm2，42號合金的極限抗拉強度典型值為50kgf/mm2。其他材料的極限抗拉強度可向供貨商索取或通過其他途徑得到。計算結果應四舍五入取整。

注∶小于或等于0.635mm的引線節(jié)距為窄節(jié)距。

4、失效判據

引線斷開應視為失效。當去掉應力后，放大10倍～20倍檢查時任何在引出端（引線）和器件本體之間出現的斷線、松動和相對移動的器件，都被視為失效。

以上就是 【科準測控】 小編給大家介紹的半導體集成電路引線牢固性中的引線疲勞測試了，包含測試意義、原理、視頻以及試驗方法。希望能給大家?guī)韼椭】茰蕦Ｗ⒂谕评y試機研發(fā)、生產、銷售。廣泛用于與LED封裝測試、IC半導體封裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、大尺寸PCB測試、MINI面板測試、大尺寸樣品測試、汽車領域、航天航空領域、軍工產品測試、研究機構的測試及各類院校的測試研究等應用。如果您有遇到任何有關推拉力機、半導體集成電路等問題，歡迎給我們私信或留言，科準的技術團隊也會為您免費解答！

審核編輯 黃宇