在芯片驗(yàn)證中,我們隨機(jī)發(fā)送數(shù)據(jù)激勵(lì),同時(shí)使用scoreboard進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性檢查。
scoreboard使用的關(guān)鍵在于如何啟動(dòng)檢查以及檢查的內(nèi)容。 我們可以選擇一個(gè)用例結(jié)束后采用 后處理檢查 ,也可以 在線(xiàn)地檢查 ,即每次收到一個(gè)回?cái)?shù)就啟動(dòng)檢查。
因?yàn)椴粫?huì)存在太多的數(shù)據(jù),所以在線(xiàn)檢查會(huì)比后處理檢查 內(nèi)存效率更高 ,檢查完之后就可以將相應(yīng)的預(yù)期值刪除掉。
用例結(jié)束后可以檢查預(yù)期值隊(duì)列是否是空的 ,即所有的預(yù)期都得到了正確的響應(yīng)。
上圖中transfer function就是一個(gè) 參考模型(reference model) ,就是驗(yàn)證工程師或者模型工程師開(kāi)發(fā)的和RTL完成一樣工作的模型,用于和RTL比對(duì)。不同模型檢查的精細(xì)程度會(huì)不同,能夠比對(duì)的東西也不同,最精細(xì)的就是和RTL類(lèi)似的 時(shí)鐘精確模型 。
上圖中的data structure存儲(chǔ)預(yù)期值(一般是一個(gè)queue),可以很復(fù)雜,也可以很簡(jiǎn)單。scoreboard中的checker會(huì)將RTL輸出和參考模型輸出進(jìn)行比對(duì),比對(duì)的時(shí)刻就是在RTL回?cái)?shù)的時(shí)刻,比對(duì)通過(guò)后就可以將預(yù)期值從data structure中刪除。
上面提到的都是scoreboard的一些基本的概念,實(shí)際項(xiàng)目中scoreboard的使用有很多形式,可以是 級(jí)聯(lián)的scoreboard比對(duì)一個(gè)feature ,也可以是 一個(gè)scoreboard比對(duì)多個(gè)feature 。
通常參考模型是驗(yàn)證最困難的地方,因?yàn)樾枰蚏TL一樣處理很多邊界場(chǎng)景,而且要保證可以使用scoreboard比對(duì)上。
聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀(guān)點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
數(shù)據(jù)
-
RTL
-
芯片驗(yàn)證
相關(guān)推薦
器件的一套掩模成本可能超過(guò)130 萬(wàn)美元。因此器件缺陷造成的損失代價(jià)極為高昂。在這種條件下,通過(guò)驗(yàn)證測(cè)試,分析失效原因,減少器件缺陷就成為集成電路制造中不可少的環(huán)節(jié)。晶片驗(yàn)證測(cè)試及失
發(fā)表于 11-29 11:52
驗(yàn)證用于找出DUT中的bug,這個(gè)過(guò)程通常是把DUT放入一個(gè)驗(yàn)證平臺(tái)中來(lái)實(shí)現(xiàn)的。一個(gè)驗(yàn)證平臺(tái)要實(shí)現(xiàn)如下基本功能:驗(yàn)證平臺(tái)要模擬DUT的各種真
發(fā)表于 12-02 15:21
講述兩個(gè)內(nèi)容,芯片驗(yàn)證以及驗(yàn)證計(jì)劃。首先來(lái)看看芯片驗(yàn)證在芯片設(shè)計(jì)當(dāng)中的地位。
發(fā)表于 01-21 15:59
。 我們一個(gè)直觀(guān)的印象,就是uvm驗(yàn)證平臺(tái),它是分層的結(jié)構(gòu)。圖中的每一個(gè)巨型框都代表著平臺(tái)的一個(gè)構(gòu)成元素。這些元素呢,我們稱(chēng)為平臺(tái)組建,下面來(lái)簡(jiǎn)單的分析一下。 從最底層上來(lái)看,agent 中包含
發(fā)表于 01-22 15:32
的agent為agent的passive模式。 scoreboard積分板,它將會(huì)從兩個(gè)地方獲取數(shù)據(jù),一個(gè)是參考模型發(fā)來(lái)的期望值,另一個(gè)是從slave agent發(fā)來(lái)的dut的輸出值。在積分板中對(duì)這兩個(gè)
發(fā)表于 01-22 15:33
算法,但是在驗(yàn)證的時(shí)候只考慮了單一場(chǎng)景,從而忽視在實(shí)際應(yīng)用中可能存在的問(wèn)題。第八個(gè),關(guān)注了模塊功能,沒(méi)關(guān)注模塊性能,從而導(dǎo)致功能上沒(méi)有bug,但是性能上有bug。第九個(gè),芯片驗(yàn)證
發(fā)表于 10-21 14:25
Coherence協(xié)議中,就通過(guò)scoreboard統(tǒng)計(jì)Token的數(shù)目。 在驗(yàn)證者看來(lái),scoreboard是針對(duì)一種特定的報(bào)文(transaction)進(jìn)行自動(dòng)化的比對(duì)和結(jié)果統(tǒng)
發(fā)表于 04-04 17:20
以失效分析的數(shù)據(jù)作為基本數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu),提出了測(cè)試項(xiàng)目有效性和測(cè)試項(xiàng)目耗費(fèi)時(shí)間的折中作為啟發(fā)信息的優(yōu)化算法,提出了 芯片驗(yàn)證 分析及測(cè)試流程優(yōu)化技術(shù)
發(fā)表于 06-29 17:58
?97次下載
芯片驗(yàn)證的工作量約占整個(gè)芯片研發(fā)的70%,已然成為縮短芯片上市時(shí)間的瓶頸。應(yīng)用OVM方法學(xué)搭建SoC設(shè)計(jì)中的DMA IP
發(fā)表于 06-20 09:03
?2832次閱讀
典型的和驗(yàn)證組件相對(duì)比較獨(dú)立的checker,這些checker通常與時(shí)序相關(guān),例如檢查DUT中的狀態(tài)機(jī)是否永遠(yuǎn)不會(huì)進(jìn)入某個(gè)狀態(tài),檢查接口上的vld-rdy時(shí)序符合協(xié)議。
發(fā)表于 04-26 09:45
?2298次閱讀
在芯片驗(yàn)證中,我們隨機(jī)發(fā)送數(shù)據(jù)激勵(lì),同時(shí)使用scoreboard進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性檢查。
發(fā)表于 05-04 17:32
?1008次閱讀
摘要:分析結(jié)果表明:新能源和無(wú)人駕駛汽車(chē)快速發(fā)展使得車(chē)規(guī)芯片發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用,也是車(chē)規(guī)芯片產(chǎn)業(yè)應(yīng)用中的一個(gè)重要方向。對(duì)集成電路設(shè)計(jì)公司入駐車(chē)規(guī)
發(fā)表于 02-13 14:13
?1206次閱讀
許多ML算法已經(jīng)在功能驗(yàn)證的不同領(lǐng)域進(jìn)行了嘗試,并取得了不錯(cuò)的效果。ML在功能驗(yàn)證中的應(yīng)用主要分為:需求工程、靜態(tài)代碼分析、驗(yàn)證加速、覆蓋率
發(fā)表于 07-03 10:27
?572次閱讀
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,集成電路芯片的復(fù)雜度日益增加,芯片設(shè)計(jì)中的驗(yàn)證工作變得越來(lái)越重要。驗(yàn)證的目的是確保
發(fā)表于 09-09 09:32
?1368次閱讀
在芯片設(shè)計(jì)流程中,驗(yàn)證環(huán)節(jié)是至關(guān)重要的一環(huán)。它直接關(guān)系到芯片的性能、可靠性和成本。
發(fā)表于 09-11 09:58
?2805次閱讀
評(píng)論