【1】光敏電阻的原理

光敏電阻是一種半導體元件，它的電阻值會隨著照射在其表面的光線強度的變化而發生改變。當光線越強，光敏電阻的電阻值就越??；當光線較弱或沒有光照射時，電阻值就會增大。

光敏電阻廣泛應用于光電控制、光度計、自動調節亮度燈等領域。

常見的光敏電阻有硫化鎘（CdS）光敏電阻和硒化銦（InSb）光敏電阻等。

與其他傳感器相比，光敏電阻具有以下優點：

• 靈敏度高：對光線強度的變化非常敏感。
• 響應速度快：一般情況下響應時間只需幾毫秒。
• 易于集成：小巧輕便，易于安裝和集成到各種設備中。
• 價格低廉：相對于其他光電傳感器，光敏電阻的價格較為低廉。

但是，光敏電阻也有其缺點。由于光敏電阻本身的特性，其輸出不太穩定，精度較低，并且受環境光線干擾較大。因此，在實際應用中，需要根據具體情況進行選擇并對其輸出信號進行適當的處理和濾波才能得到準確的測量結果。

【2】STM32采集光敏電阻值的代碼

以下是一個基于STM32F103C8T6和光敏電阻的示例代碼，它可以采集光敏電阻的數據并通過串口打印出來。請注意，此示例使用了HAL庫和CubeMX配置工具。

cCopy Code#include "main.h"
#include "stdio.h"
#include "string.h"
?
ADC_HandleTypeDef hadc1;
UART_HandleTypeDef huart1;
?
float LightIntensity;
?
int main(void)
{
 HAL_Init();
 SystemClock_Config();
 MX_GPIO_Init();
 MX_ADC1_Init();
 MX_USART1_UART_Init();
?
 while (1)
  {
  // 啟動ADC轉換
  HAL_ADC_Start(&hadc1);
  // 等待轉換完成
  HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1, 100);
  // 獲取ADC轉換結果
  uint16_t adc_value = HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
?
  // 將ADC轉換結果轉換為光線強度
  LightIntensity = (float)adc_value / 4095 * 100;
?
  // 將數據打印到串口
  char msg[50];
  sprintf(msg, "Light intensity: %.2f%%n", LightIntensity);
  HAL_UART_Transmit(&huart1, (uint8_t*)msg, strlen(msg), 1000);
?
  // 延遲一段時間再次采集
  HAL_Delay(5000);
  }
}
?
void SystemClock_Config(void)
{
 RCC_OscInitTypeDef RCC_OscInitStruct = {0};
 RCC_ClkInitTypeDef RCC_ClkInitStruct = {0};
?
 /** Configure the main internal regulator output voltage 
 */
 __HAL_RCC_PWR_CLK_ENABLE();
 __HAL_PWR_VOLTAGESCALING_CONFIG(PWR_REGULATOR_VOLTAGE_SCALE1);
 /** Initializes the RCC Oscillators according to the specified parameters
 * in the RCC_OscInitTypeDef structure.
 */
 RCC_OscInitStruct.OscillatorType = RCC_OSCILLATORTYPE_HSE;
 RCC_OscInitStruct.HSEState = RCC_HSE_ON;
 RCC_OscInitStruct.HSEPredivValue = RCC_HSE_PREDIV_DIV1;
 RCC_OscInitStruct.PLL.PLLState = RCC_PLL_ON;
 RCC_OscInitStruct.PLL.PLLSource = RCC_PLLSOURCE_HSE;
 RCC_OscInitStruct.PLL.PLLMUL = RCC_PLL_MUL9;
 if (HAL_RCC_OscConfig(&RCC_OscInitStruct) != HAL_OK)
  {
  Error_Handler();
  }
 /** Initializes the CPU, AHB and APB buses clocks
 */
 RCC_ClkInitStruct.ClockType = RCC_CLOCKTYPE_HCLK|RCC_CLOCKTYPE_SYSCLK
               |RCC_CLOCKTYPE_PCLK1|RCC_CLOCKTYPE_PCLK2;
 RCC_ClkInitStruct.SYSCLKSource = RCC_SYSCLKSOURCE_PLLCLK;
 RCC_ClkInitStruct.AHBCLKDivider = RCC_SYSCLK_DIV1;
 RCC_ClkInitStruct.APB1CLKDivider = RCC_HCLK_DIV2;
 RCC_ClkInitStruct.APB2CLKDivider = RCC_HCLK_DIV1;
?
 if (HAL_RCC_ClockConfig(&RCC_ClkInitStruct, FLASH_LATENCY_2) != HAL_OK)
  {
  Error_Handler();
  }
}
?
static void MX_ADC1_Init(void)
{
?
 ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};
?
 /** Common config 
 */
 hadc1.Instance = ADC1;
 hadc1.Init.ScanConvMode = DISABLE;
 hadc1.Init.ContinuousConvMode = ENABLE;
 hadc1.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;
 hadc1.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
 hadc1.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;
 hadc1.Init.NbrOfConversion = 1;
 if (HAL_ADC_Init(&hadc1) != HAL_OK)
  {
  Error_Handler();
  }
 /** Configure Regular Channel 
 */
 sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_1;
 sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;
 sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_13CYCLES_5;
 if (HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc1, &sConfig) != HAL_OK)
  {
  Error_Handler();
  }
?
}
?
static void MX_USART1_UART_Init(void)
{
?
 huart1.Instance = USART1;
 huart1.Init.BaudRate = 115200;
 huart1.Init.WordLength = UART_WORDLENGTH_8B;
 huart1.Init.StopBits = UART_STOPBITS_1;
 huart1.Init.Parity = UART_PARITY_NONE;
 huart1.Init.Mode = UART_MODE_TX_RX;
 huart1.Init.HwFlowCtl = UART_HWCONTROL_NONE; 
 huart1.Init.OverSampling = UART_OVERSAMPLING_16; if (HAL_UART_Init(&huart1) != HAL_OK) { Error_Handler(); }
?
}
?
static void MX_GPIO_Init(void) 
{
    GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStruct = {0};
    /* GPIO Ports Clock Enable */
    __HAL_RCC_GPIOA_CLK_ENABLE();
    /*Configure GPIO pin : PA1 */
    GPIO_InitStruct.Pin = GPIO_PIN_1;
    GPIO_InitStruct.Mode = GPIO_MODE_ANALOG;
    HAL_GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStruct);
}
void Error_Handler(void) 
{
    while(1);
}
#ifdef  USE_FULL_ASSERT
void assert_failed(uint8_t *file, uint32_t line) 
{
}
#endif

在此代碼中，PA1被配置成了模擬輸入通道，并在ADC采樣時使用。通過將采集到的ADC值轉換為光線強度并打印出來，可以實現對光敏電阻的測量。