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聚焦器件可靠性、柵極驅(qū)動器創(chuàng)新和總體系統(tǒng)解決方案

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:mouser ? 作者:Orlando Esparza ? 2023-05-17 11:03 ? 次閱讀

碳化硅 (SiC) 技術(shù)能在大幅提高當(dāng)前電力系統(tǒng)效率的同時(shí)降低其尺寸、重量和成本,因此市場需求不斷攀升。但是SiC 解決方案并不是硅基解決方案的直接替代品,它們并非完全相同。為了實(shí)現(xiàn)SiC 技術(shù)的愿景,開發(fā)人員必須從產(chǎn)品質(zhì)量、供貨情況和服務(wù)支持等各個(gè)方面仔細(xì)評估多家產(chǎn)品和供應(yīng)商,并了解如何優(yōu)化不同SiC 功率組件到其最終系統(tǒng)的集成。

不斷擴(kuò)展的應(yīng)用范圍

SiC 技術(shù)的使用量正在急劇上升。隨著供應(yīng)商的不斷增加,產(chǎn)品的選擇范圍也日益豐富。碳化硅市場在過去三年中翻了一番,預(yù)計(jì)在未來10 年內(nèi)將增長20 倍,市值超過100 億美元。碳化硅的應(yīng)用范圍正在從混合動力汽車和電動汽車 (H/EV) 的車載應(yīng)用擴(kuò)展到火車、重型車輛、工業(yè)設(shè)備和電動汽車充電基礎(chǔ)設(shè)施中的非汽車動力和電機(jī)控制系統(tǒng)。航空航天和國防領(lǐng)域的供應(yīng)商也在不斷提升SiC 的質(zhì)量和可靠性,以滿足這些行業(yè)對產(chǎn)品穩(wěn)固性的嚴(yán)格要求。

碳化硅開發(fā)計(jì)劃的一個(gè)關(guān)鍵部分是驗(yàn)證SiC 器件的可靠性和穩(wěn)固性,因?yàn)椴煌?yīng)商的產(chǎn)品差異很大。隨著大家越來越看重整體系統(tǒng),設(shè)計(jì)師還需要評估供應(yīng)商的產(chǎn)品供應(yīng)范圍。重要的是,設(shè)計(jì)師合作的供應(yīng)商要提供裸片、分立式組件和模塊選項(xiàng)等靈活解決方案,并提供全球分銷、支持以及綜合性設(shè)計(jì)模擬與開發(fā)工具。希望其設(shè)計(jì)能滿足未來需求的開發(fā)人員還需要探索新功能,如數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器。這些驅(qū)動器可以解決早期的實(shí)現(xiàn)問題,同時(shí)支持系統(tǒng)性能一鍵“調(diào)優(yōu)”。

第一步:三項(xiàng)關(guān)鍵測試

這三項(xiàng)測試提供數(shù)據(jù)來評估SiC 器件的可靠性(抗雪崩能力、短路承受能力)以及SiC MOSFET二極管的可靠性。

足夠的抗雪崩能力至關(guān)重要,因?yàn)榧幢闶菬o源器件的輕微故障也可能導(dǎo)致瞬態(tài)電壓峰值超過額定擊穿電壓,從而最終導(dǎo)致設(shè)備或整個(gè)系統(tǒng)發(fā)生故障。具有足夠抗雪崩能力的SiC MOSFET 減少了對緩沖電路的需求,可延長應(yīng)用壽命。頂級產(chǎn)品可以提供高達(dá)25 焦耳/平方厘米 (J/cm2) 的UIS 性能。即使經(jīng)過100,000 次重復(fù)的UIS (RUIS) 測試,這些器件的參數(shù)退化也很小。

第二項(xiàng)關(guān)鍵測試是短路耐受時(shí)間 (SCWT),或者說軌到軌短路條件下設(shè)備發(fā)生故障前的最長耐受時(shí)間。測試結(jié)果應(yīng)接近功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中使用的IGBT,其中大多數(shù)擁有5 到10 微秒 (us) SCWT。足夠長的SCWT 能使系統(tǒng)有機(jī)會在不損壞系統(tǒng)的情況下解決故障問題。

第三個(gè)關(guān)鍵指標(biāo)是SiC MOSFET 本征體二極管的正向電壓穩(wěn)定性。不同供應(yīng)商之間該指標(biāo)差異很大。如果沒有適當(dāng)?shù)钠骷O(shè)計(jì)、加工和材料,該二極管的導(dǎo)電性在運(yùn)行期間可能會降低,從而使導(dǎo)通狀態(tài)漏源電阻 (RDSon) 增加。圖1顯示了這種差異。在俄亥俄州立大學(xué)進(jìn)行的一項(xiàng)研究中,對三家供應(yīng)商的MOSFET 進(jìn)行了評估。一方面,供應(yīng)商B 的所有器件在正向電流方面都出現(xiàn)了衰退,而另一方面,供應(yīng)商C 的MOSFET 中未觀察到衰退現(xiàn)象。

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圖1:SiC MOSFET 的正向特性,顯示了不同供應(yīng)商的體二極管在衰退方面的差異。 (圖源:俄亥俄州立大學(xué)的Anant Agarwal 博士和Min Seok Kang 博士。)

在器件可靠性得到驗(yàn)證后,下一步就是評估這些器件的生態(tài)系統(tǒng),包括產(chǎn)品選擇的豐富度、可靠的供應(yīng)鏈和設(shè)計(jì)支持。

供應(yīng)、支持和系統(tǒng)級設(shè)計(jì)

在越來越多的SiC 供應(yīng)商中,今天的SiC 公司除了經(jīng)驗(yàn)和基礎(chǔ)設(shè)施不同外,還可以提供不同的器件選擇,以支持和供應(yīng)眾多要求嚴(yán)格的SiC 市場,如汽車、航空航天和國防。

隨著時(shí)間的推移,電力系統(tǒng)的設(shè)計(jì)會在不同世代經(jīng)歷持續(xù)的改進(jìn)。SiC 應(yīng)用也不例外。早期的設(shè)計(jì)可能對市面上各種常見的標(biāo)準(zhǔn)分立式電源產(chǎn)品都使用非常標(biāo)準(zhǔn)的通孔或表面貼裝封裝選項(xiàng)。隨著應(yīng)用數(shù)量的增加,設(shè)計(jì)師們開始關(guān)注如何縮小尺寸,降低重量和成本,因此通常會將目光轉(zhuǎn)移到集成電源模塊上,或者選擇第三方合作伙伴。這些第三方合作伙伴包括最終產(chǎn)品設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)、模塊制造商和SiC 芯片供應(yīng)商,他們在實(shí)現(xiàn)總體設(shè)計(jì)目標(biāo)中都起著非常關(guān)鍵的作用。

在快速增長的SiC 市場上,供應(yīng)鏈問題是一個(gè)不容忽視的關(guān)鍵問題。SiC 基底材料是SiC 芯片制造流程中最昂貴的材料。此外,SiC 制造需要高溫制造設(shè)備,而制造硅基功率產(chǎn)品和IC 則不需要。設(shè)計(jì)師必須確保SiC 供應(yīng)商擁有穩(wěn)定的供應(yīng)鏈模式,包括有多個(gè)分布在不同地點(diǎn)的制造工廠,以確保在發(fā)生自然災(zāi)害或重大生產(chǎn)問題時(shí)供應(yīng)始終能夠滿足需求。有許多組件供應(yīng)商還會停產(chǎn) (EOL) 前代器件,迫使設(shè)計(jì)師花費(fèi)時(shí)間和資源重新設(shè)計(jì)現(xiàn)有應(yīng)用,而不是開發(fā)有助于降低最終產(chǎn)品成本和增加收入的創(chuàng)新設(shè)計(jì)。

設(shè)計(jì)支持也很重要,包括有助于縮短開發(fā)周期的模擬工具和參考設(shè)計(jì)。借助用來解決SiC 器件的控制和驅(qū)動問題的解決方案,開發(fā)人員可以探索諸如增強(qiáng)型開關(guān) (Augmented Switching) 等新功能,以實(shí)現(xiàn)整體系統(tǒng)方法的全部價(jià)值。圖2顯示了基于SiC 的系統(tǒng)設(shè)計(jì),它集成了數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器,可進(jìn)一步加快生產(chǎn)速度,同時(shí)創(chuàng)造了優(yōu)化設(shè)計(jì)的新方法。

優(yōu)化設(shè)計(jì)的新選項(xiàng)

數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器可通過增強(qiáng)型開關(guān)最大限度地發(fā)揮SiC 的優(yōu)勢。通過它們可以輕松配置SiC MOSFET 的開啟/關(guān)閉時(shí)間和電壓水平,因此設(shè)計(jì)師可以提升開關(guān)速度和系統(tǒng)效率,同時(shí)縮短柵極驅(qū)動器開發(fā)所需的時(shí)間并降低復(fù)雜性。開發(fā)人員不必手動更改PCB,而是可以使用配置軟件一鍵優(yōu)化基于SiC的設(shè)計(jì),在加快產(chǎn)品上市速度的同時(shí)提高效率和故障保護(hù)。

Design Challenge Reason for Challenge How Augmented Switching Helped
False Alarms: short circuit, under voltage Noise Robust detection and protection circuitry
Short circuit response too slow Short Circuit Response Fast, accurate digital solution
Unmanageable voltage overshoot Overvoltage Previse software configurable “tuning”
Insufficient module performance data Limited existing driver fault feedback Provided 7 specific fault codes, including temperature and voltage monitoring

表1:使用數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器實(shí)現(xiàn)全新的增強(qiáng)型開關(guān)技術(shù)有助于解決SiC 噪聲問題,加快短路響應(yīng)速度,幫助管理電壓過沖問題,并盡量減少過熱情況。

隨著SiC 應(yīng)用范圍的擴(kuò)大,早期SiC 采用者已經(jīng)在汽車、工業(yè)、航空航天和國防領(lǐng)域占據(jù)了優(yōu)勢。未來的成功將繼續(xù)依賴于驗(yàn)證SiC 器件可靠性和穩(wěn)固性的能力。隨著開發(fā)人員開始采用總體解決方案策略,他們將需要獲得綜合型資源組合,由完整可靠的全球供應(yīng)鏈和所有必要的設(shè)計(jì)模擬與開發(fā)工具提供支持。借助數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器所支持的軟件可配置設(shè)計(jì)優(yōu)化新功能,他們還將有新的機(jī)會進(jìn)行經(jīng)得起未來考驗(yàn)的投資。

審核編輯:郭婷

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