在存儲(chǔ)器密度低、性能緩慢且需要昂貴的硅空間的時(shí)代。然后我快進(jìn)到未來(lái)，當(dāng)內(nèi)存技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到支持巨大的密度，超快的速度，同時(shí)保持低功耗，所有這些都在非常小的幾何結(jié)構(gòu)中。

我概述了各種內(nèi)存技術(shù)及其支持的細(xì)分市場(chǎng)。為了跟上這種內(nèi)存技術(shù)發(fā)展的步伐，設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工具以及創(chuàng)建和產(chǎn)品化這些技術(shù)的方法也得到了發(fā)展。

這種存儲(chǔ)器的演變給驗(yàn)證工程師帶來(lái)了一系列全新的挑戰(zhàn)。為了取得成功，驗(yàn)證必須在設(shè)計(jì)周期的早期發(fā)展為徹底、高效和有效。此外，它必須依賴(lài)于對(duì)SystemVerilog的本機(jī)支持，利用最先進(jìn)的驗(yàn)證技術(shù)進(jìn)行測(cè)試平臺(tái)創(chuàng)建和定制，以及調(diào)試和覆蓋率收斂。

需要更快、經(jīng)過(guò)驗(yàn)證且最先進(jìn)的前端內(nèi)存驗(yàn)證基礎(chǔ)設(shè)施來(lái)解決最新內(nèi)存創(chuàng)新帶來(lái)的復(fù)雜性。利用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的通用驗(yàn)證方法 （UVM），支持高級(jí)協(xié)議級(jí)調(diào)試，以及具有內(nèi)置覆蓋范圍和計(jì)劃的加速驗(yàn)證收斂，驗(yàn)證工程師可以在短時(shí)間內(nèi)自信地驗(yàn)證內(nèi)存技術(shù)。

審核編輯：郭婷