永磁體磁偏角指永磁體的最終磁化矢量方向的偏角。永磁體在磁取向成型的過程中,產品取向方向和取向磁場方向不平行而產生磁偏角,或者在產品交工過程中,裝夾產品時未找正而使產品幾何對稱軸與產品磁軸間產生磁偏角。磁偏角的存在，使磁體非磁化方向產生磁場,形成雜散磁場。隨著永磁體應用的不斷深入,磁偏角成為精密磁性器件性能的重要影響因素。因此,磁偏角已經成為衡量永磁性能的重要指標,磁偏角的測量越來越受到重視。

傳統的永磁體磁偏角測量方法是基于亥姆霍茲線圈進行測量，今天昊量光電推出全新的德國M-axis永磁體特性測量進行更精確的磁偏角測量方法提供了可能！

昊量光電蕞新推出M-axis永磁體特征測量系統，M-axis 的測量方法是基于永磁體材料的磁偶極子模型。從而測得除磁體的三維空間位置以外，永磁體的磁矩和磁化方向（磁偏角)。與亥姆霍茲線圈測量法比較，M-axis 直接地確定感應磁場，而非磁通量變化量的積分。因此測量中的磁體為靜止不動的。與有效且可靠的分析軟件一起，M-axis是您全檢質量控制的首要選擇。

這篇文章我們就基于兩種測量方法進行對比分析驗證。

M-axis是一種高精度的檢測永磁體性能質量測試系統。該系統能夠在指定個工作位置和磁化方向上測定磁偶極子性能并用圖形表示出來，達到近距離測量的效果。

儀器能夠達到的精度與產品規(guī)格、磁場強度和外部干擾有關。M-axis能夠在普通實驗室使用(在測試區(qū)域沒有強磁場擾動）在量程范圍內測量磁偏角誤差約0.1°（在旋轉模式下)。為了減小誤差，對多種減振機構和件有機的集成在一起。同時，通過程序控制，測量的結果的記錄和存儲自動的導入到計算機。M-axis能夠精確測量0.1-1Am2范圍內的磁矩。更高的磁矩就需要在遠一點的地方測量。這樣，不可避免的降低了軸向精度的測量。

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技術指標

M-axis 與傳統亥姆霍茲線圈測量磁偏角的比較

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一、測量原理比較

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二、派生參數

兩種方法都是間接測量剩磁Br 和剩磁工作點Jr,因為它們都是由磁矩計算出來的。

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三、精度

一個測量系統不應僅僅是測量到值，也應保證其精度。即使任何測量系統都無法避免 任何誤差，但是還是可以通過一些方法降低或估算其范圍。

通常情況下，有兩類主要的誤差:均值偏差和不確定度。下面我們將從這連個方面比較一下兩種不同的測量方式。

Matesy GmbH 保存著德國PTB(Physikalisch-Technische Bundesanstalt，德國國家計量標準院傳遞）用戶所生產設備的校準。三軸亥姆霍茲線圈直接測量三個磁矩分量(Mx、My、Mz）并計算其方向。因此磁偏角和磁矩間的關系是非線性并難以估算相應誤差。與之相對，由M-axis 測量的這兩個值的精度則是不相關的，因為六自由度問題的基本原理是將磁矩視為一個獨立的自由度并且各自由度之間不存在相關性,所以完全可以通過兩個不同的實驗校準并驗證磁矩和磁偏角的精度。MatesyGmbH為偏角實驗設計了特殊的楔形塊，并其送到第三方組織完成夾角α的高精度光學測試，從而使其能夠達到優(yōu)于M-axis分辨率至少10倍的精度。

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四、不確定度

兩種方法相應的信噪消減方法也不太相同。

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五、綜合

1、采用亥姆霍茲線圈測試優(yōu)勢在與測試大型樣品，體積超過250px3的樣品選擇亥姆霍茲線圈進行測試，測試信號強，磁偏角和磁矩測試重復性都比較好，磁偏角準確度能控制在0.5°范圍內，重復性: ±0.3°。M-axis適合測試小型樣品，采用旋轉測試方法進行磁偏角測量，磁偏角準確度能控制在0.2°范圍內，重復性:+0.10。這是亥姆霍茲線圈所不及的。產生區(qū)別的主要原因為:磁通計漂移和線圈正交精度誤差。

2、對于磁矩的測量:如采用標準樣品進行定標，磁矩偏差可以控制到基本上一個水平級。

3、操作難度:相對來說磁通計漂移操作麻煩點，采用磁通計測量，需要每次有一個磁通計清零的動作。如出現磁通計累計漂移，需要對磁通計進行調零，M-axis 更加快捷。

關于原廠

成立于2008 年，是研發(fā)機構“ INNOVENT Technology Development ”的衍生公司，專注于 磁場的可視化表征和生成。此外，M-axis永磁體將磁性用于各種應用，例如：磁性標記顆粒和物體的三維定位、人體胃腸道靶向藥物釋放、安全特性的智能檢查和材料開發(fā)

上海昊量光電作為中國大陸地區(qū)一級代理商，為您提供專業(yè)的選型以及技術服務。對于M-axis永磁體特性測量系統有興趣或者任何問題，都歡迎通過電話、電子郵件或者微信與我們聯系。