自動化測試設備

應用

由計算機控制的測試系統通過提高效率和質量來幫助提高制造生產力。自動測試設備（ATE）起著至關重要的作用，因為它能夠以更快的速度和更可控的方式進行更有力的測試。ATE可以實現以非常高的速率連續進行的單個測量，也可以實現由許多不同的儀器進行的多次測量。在被測設備（DUT）或被測單元（UUT）上進行的測量通常由某種形式的計算機以自動方式計算，存儲和分析。該過程有助于消除人為錯誤，并允許以可重復的方式執行故障診斷，即使涉及復雜的測量。

虹科

方案

虹科Spectrum提供極其廣泛的數字化儀和任意波形發生器，適用于需要捕獲，生成和分析電子信號的ATE應用。這些產品適用于各種流行的標準，包括PCI、PCIe、PXI、LXI和cPCI。數字化儀提供 50 kHz 至 1.5 GHz 的帶寬、100 KS/s 至 5 GS/s 的采樣率以及 8 位至 16 位的分辨率。由于能夠捕獲和分析從DC到1.5 GHz的信號，數字化儀可用于測試各種DUT和UUT。例如，當需要大動態范圍和最大靈敏度時，高分辨率14位和16位數字化儀可用于捕獲和分析頻率高達250 MHz的信號。這些高分辨率產品具有出色的信噪比（高達72 dB）和無雜散動態范圍（高達90 dB），因此可以檢測和分析微小的信號變化。它們是測試精密組件、傳感器和系統的完美工具，這些組件、傳感器和系統產生的信號需要嚴格控制。對于更高頻率的測量，例如PCB板和半導體器件上的測量，虹科Spectrum的具有5 GS/s的板卡可以表征低至納秒和亞納秒范圍的信號和脈沖。

為了便于集成到ATE系統中，虹科Spectrum提供了與32位和64位版本的Windows和Linux配合使用的軟件和儀器驅動程序。這些板卡的編程可以使用各種語言進行，如 LabVIEW、 LabWindows/CVI、 C++、 MatLab、 Borland Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 C#、 J# 和 IVI。

每個數字化儀卡可以有一到十六個通道，多個卡可以與虹科Spectrum的StarHub系統連接在一起，以創建具有多達數百個完全同步通道的儀器。這使得它們非常適合需要監控多個信號或測試點的應用。一些卡還提供額外的模擬和數字I /O功能以及高級觸發和時鐘選項，以便它們可以與許多不同的測試儀器一起工作。

虹科推薦

板卡系列

59XX系列

65XX系列

75XX系列

虹科

產品特點

l PCIe、PXIe 和 LXI 外形規格

l分辨率從 8 位到 16 位

l 具有模擬和數字通道采集和生成的混合模式系統

l 采樣率從 100 kS/s 到 10 GS/s

l 用于具有完全同步功能的高通道數系統的 Star-Hub功能

l LabVIEW、 LabWindows、 MATLAB、 C++、 Delphi、 Visual Basic、 VB.NET、 c#、 J#、 Python 和 IVI 驅動程序