隨著高速光通信發展,光器件種類多、迭代快,對測量儀要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域,其對儀表測量精確性、穩定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰。昊衡科技專注于高端光學測量與傳感測試系統研發和解決方案開發,擁有OFDR核心技術,并成功推出國產多功能光學矢量分析系統--OCI-V。
圖1. 光矢量分析系統(OCI-V)
OCI-V光學矢量分析系統,原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描,并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣,進而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項光學參數。系統測量長度200m,可工作在C+L或O波段,具有測量范圍大、波長范圍寬、覆蓋器件廣、測量參數多等優勢。
HCN氣體吸收室測量
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圖2.OCI-V測量HCN氣體吸收室
HCN氣室會對固定波長的光進行吸收造成損耗,OCI-V測量不同波段的光通過HCN氣室后的損耗情況。
保偏光纖快慢軸時延差測量
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圖3.OCI-V測量保偏光纖快慢軸
保偏光纖快軸折射率小、光傳輸速度快,慢軸折射率大、光傳輸速度慢。OCI-V精確測量PMD對于評估光纖制備、光器件制造及光通信鏈路非常有意義。
FBG受壓時偏振相關損耗測量03
圖4.OCI-V測量FBG受壓時偏振相關損耗
FBG在沒有壓力時中心波長附件光波段的PDL趨近于0,施加壓力后中心波長附近兩端出現兩個峰值,隨著壓力逐漸增大,波峰峰值越來越大,在壓力達到60KN時波峰出現最大值。
OCI-V光學矢量分析系統能夠同時測量光學網絡損耗、偏振、色散等信息,分析光器件在寬譜、精細波長下的損耗和時延。其功能強大、操作方便,在光器件的研發、生產全過程中發揮重要作用,為改善設計、優化結構和評估工藝等提供可靠依據。
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