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干涉儀
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白光干涉儀
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白光干涉的技術(shù)演變過程
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在20世紀五六十年代,國內(nèi)外相繼出現(xiàn)了一些應用型白光干涉儀。這些干涉儀主要采用人工操作、讀數(shù)、計算和測量評定某個參數(shù),效率相對較低。這一時期的白光
白光干涉儀中的相位產(chǎn)生機制
決于兩束光波經(jīng)過的光程差。
光程差的計算:
光程是指光在介質(zhì)中傳播的距離與介質(zhì)折射率的乘積。
在白光干涉儀中,一束白光經(jīng)過分束器被分成兩束光線(參考光線和待測光線),
馬赫澤德干涉儀
了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。
建模任務
由于組件傾斜引起的干涉條紋
由于偏移傾斜引起的干涉條紋
**文件信息
**
發(fā)表于 12-25 15:42
天文光干涉儀
中光線的光程差會隨著角度的增大而增大。探測器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。 圖2 左:角度范圍為1弧秒的恒星在探測器上的白光干涉圖樣,白光的中心波長為0.55um,半帶寬為0.
發(fā)表于 12-25 15:26
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測量儀表干涉儀
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發(fā)布于 :2024年07月29日 09:59:59
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