問題
產線生產某款電子產品過程中,發現有很大比例的D類功放芯片損壞。
分析
1、從拿到的壞機芯片樣品來看,芯片有燒壞的痕跡,明顯是電應力損壞的。
2、用萬用表量芯片的各個引腳,輸出腳直接對地短路了。很可能過壓導致芯片內的mos管損壞。
3、用示波器量正常板子的輸出引腳波形,發現電壓峰值達到6.8V,而規格書上要求的電壓只有5.5V,可以判斷是過壓導致的損壞(喇叭線圈上產生的反向電動勢導致電壓過高)。
解決
由于D類功放芯片的電源是5V,加上喇叭線圈上的反向電動勢,很容易使得電壓超過5.5V,導致芯片損壞。因此,整改方案直接降低5V電源為4V(滿足產品喇叭功率的要求)。
如果板子上D類功放輸出有LC位置,可以直接上磁珠和電容,吸收尖峰,測試的電壓峰值也會低很多。
小結
1、采用新芯片方案時,需要把規格書的關鍵參數弄清楚,設計上考慮余量;
2、D類功放設計要考慮喇叭線圈導致的反向電動勢;
3、D類功放設計輸出最好預留RC或LC位置,遇到問題可以調整參數解決,比如輻射。
D類功放原理:
D類功放芯片的典型電路圖:
D類功放芯片規格:VDD最高電壓是6V,其他管腳(包括輸出)最高電壓是5.5V
D類功放芯片輸出的磁珠和電容:
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