色哟哟视频在线观看-色哟哟视频在线-色哟哟欧美15最新在线-色哟哟免费在线观看-国产l精品国产亚洲区在线观看-国产l精品国产亚洲区久久

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

車規(guī)MOSFET技術(shù)確保功率開(kāi)關(guān)管的可靠性和強(qiáng)電流處理能力

jf_pJlTbmA9 ? 來(lái)源:jf_pJlTbmA9 ? 作者:jf_pJlTbmA9 ? 2023-07-08 10:28 ? 次閱讀

如今,出行生態(tài)系統(tǒng)不斷地給汽車設(shè)計(jì)帶來(lái)新的挑戰(zhàn),特別是在電子解決方案的尺寸、安全性和可靠性方面提出新的要求。此外,隨著汽車電控制單元 (ECU) 增加互聯(lián)和云計(jì)算功能,必須開(kāi)發(fā)新的解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)這些技術(shù)挑戰(zhàn)。

高端車輛使用多達(dá)數(shù)百個(gè)ECU,這要求電源管理必須更高效,汽車電池和負(fù)載點(diǎn)之間的電源路徑更安全,以減少電子器件失效情況發(fā)生。用電子保險(xiǎn)(eFuse)代替?zhèn)鹘y(tǒng)保險(xiǎn)絲,可以提高電氣安全性。傳統(tǒng)保險(xiǎn)絲在導(dǎo)體過(guò)載時(shí)就會(huì)過(guò)熱熔化,而電子保險(xiǎn)則是控制輸出電壓,限制輸出電流,為負(fù)載提供正確的電壓和電流;在失效持續(xù)出現(xiàn)時(shí),最終斷開(kāi)負(fù)載連接。大電流用電環(huán)境在處理高能放電方面提出了嚴(yán)格的要求,因此,需要魯棒性和可靠性俱佳的功率開(kāi)關(guān)管。

大電流功率開(kāi)關(guān)管

大電流功率開(kāi)關(guān)管是一個(gè)串聯(lián)到主電源軌并由邏輯電路控制的低電阻MOSFET晶體管,集成了各種保護(hù)、診斷和檢測(cè)功能。在大功率汽車電源系統(tǒng)中,通過(guò)背靠背連接的 MOSFET開(kāi)關(guān)管,可以保證保險(xiǎn)盒對(duì)電流雙向控制,為電源路徑提供強(qiáng)大的保護(hù)(圖 1)。

1.png

1. 雙向大電流功率開(kāi)關(guān)保護(hù)配置。

電阻器 (RLIM)實(shí)時(shí)檢測(cè)電源軌電流,eFuse電子保險(xiǎn)調(diào)整 MOSFET的柵源電壓(VGS),將電流限制在目標(biāo)值,保持電流恒定。如果發(fā)生強(qiáng)過(guò)流或短路,控制器就會(huì)斷開(kāi)負(fù)載,保護(hù)電源。

在負(fù)載開(kāi)通時(shí),eFuse按照預(yù)設(shè)值提高輸出電壓,確保涌流保持在安全范圍內(nèi),從而保護(hù)負(fù)載和電源。這種情況對(duì)功率 MOSFET提出了嚴(yán)格的要求,它們必須經(jīng)受住ECU 輸入端的大容量電容器陣列的軟充電階段線性模式的恒定電流。

當(dāng)負(fù)載斷開(kāi)時(shí),與連接主電池和終端應(yīng)用負(fù)載的線束相關(guān)的寄生雜散電感釋放能量,功率 MOSFET處于電壓應(yīng)力狀態(tài)。

總之,功率 MOSFET 必須滿足以下要求(表 1)

Power MOSFET功率MOSFET

Working Condition工作狀態(tài)

Requirement要求

On-state通態(tài)

Low conduction loss低導(dǎo)通損耗

Start-up開(kāi)通

Linear mode ruggedness線性模式魯棒性

Turn-off關(guān)斷

Energy handling能量處理能力

1.對(duì)功率MOSFET要求。

意法半導(dǎo)體新推出STPOWER STripFET F8 MOSFET技術(shù)完全符合 AEC Q101 標(biāo)準(zhǔn),體現(xiàn)了所有設(shè)計(jì)重大改進(jìn)之處,確保開(kāi)關(guān)管具有能效高魯棒性,從而實(shí)現(xiàn)安全可靠的開(kāi)關(guān)性能。

STL325N4LF8AG 是一款 40V MOSFET,采用 PowerFLAT 5x6 無(wú)引線封裝,靜態(tài)導(dǎo)通電阻(RDS(on))不足一毫歐,小于0.75m?因此,導(dǎo)通損耗非常

MOSFET選型關(guān)鍵參數(shù)

對(duì)于12V 鉛酸電池供電的傳統(tǒng)汽車負(fù)載,功率開(kāi)關(guān)必須承受 ECU要求的高達(dá) 160 A 200 A 的連續(xù)電流,以實(shí)現(xiàn) 1kW 范圍內(nèi)的功率輸出。

1.開(kāi)通狀態(tài)

除了大電流之外,功率 MOSFET 還必須耐受 ECU 輸入端的大容量電容器陣列的預(yù)充電階段軟點(diǎn)火所需的恒定電流,使ECU 輸入引腳上的電壓上升平滑,從而避免任何高壓振蕩和電流尖峰。

可以用圖 2 所示的基準(zhǔn)電路圖測(cè)試開(kāi)關(guān)管在軟充電階段的魯棒性。

2.png

2. 軟充電魯棒性驗(yàn)證基準(zhǔn)電路。

該電路可以用恒定電流對(duì)負(fù)載電容 (CLOAD)充電:通過(guò)調(diào)節(jié) V1 VDD 電壓值,可以使電流保持恒定,從而為 CLOAD 設(shè)置特定的充電時(shí)間。 測(cè)試電容是94mF堆棧電容 ,負(fù)載和電源電壓為 15V

對(duì)于 STL325N4LF8AG,考慮了兩種不同的測(cè)量設(shè)置情況:

案例1:一個(gè)開(kāi)關(guān)管,電流為1.7A,持續(xù)700ms

案例 2:兩個(gè)并聯(lián)的開(kāi)關(guān)管,每個(gè)開(kāi)關(guān)的電流為 29A,持續(xù) 6ms

3 是案例1的線性模式操作的測(cè)量波形,圖4是案例2的線性模式操作的測(cè)量波形。

3.png

3. 軟充電期間的基準(zhǔn)測(cè)試測(cè)量(案例 1

4.png

4. 軟充電期間的基準(zhǔn)測(cè)試測(cè)量(案例2)

在案例 1 中,使用接近直流操作的長(zhǎng)脈沖時(shí)間測(cè)試功率開(kāi)關(guān)的線性模式魯棒性。

在案例2 中,并聯(lián)的兩個(gè)功率開(kāi)關(guān)管的柵極閾壓(Vth)值如下:

● Vth1 = 1.49V @ 250μA

Vth2 = 1.53V @ 250μA.

Vth的閾值范圍被限定在一定范圍內(nèi)( 3%),使兩個(gè) MOSFET的電流差很小:

ID1 = 29A

ID2 = 28.5A

其中,Vth1的值較低,所以ID1 略高于 ID2

在這種情況下 (案例2),用大電流測(cè)試功率開(kāi)關(guān)的線性模式魯棒性,脈沖時(shí)間持續(xù)幾毫秒。

在這兩種情況下,功率 MOSFET 都能夠承受線性模式工作條件,均在理論安全工作區(qū) (SOA) 范圍內(nèi),防止器件出現(xiàn)任何熱失控。

1.關(guān)斷狀態(tài)

在關(guān)斷時(shí),功率 MOSFET必須承受巨大的能量放電應(yīng)力。事實(shí)上,在連接主電池和終端應(yīng)用控制板的線束上,寄生雜散電感會(huì)產(chǎn)生高阻抗,造成配電系統(tǒng)出現(xiàn)一次能量巨大的放電事件。

在ECU電控單元情況中,這種能量釋放可以視為 MOSFET 關(guān)斷時(shí)的單次雪崩事件來(lái)處理,或用有源鉗位電路強(qiáng)制MOSFET回到線性工作模式。TL325N4LF8AG可以在40A的雪崩擊穿測(cè)試中保持正常工作,如圖5所示:

5.jpg

圖 5. STL325N4LF8AG在關(guān)斷時(shí)單次雪崩事件的測(cè)量波形。

該器件在關(guān)斷狀態(tài)時(shí)具有強(qiáng)大的能量處理性能。

符合ISO 7637-2標(biāo)準(zhǔn)

對(duì)于 12V/24V 汽車電源系統(tǒng),eFuse電子保險(xiǎn)開(kāi)關(guān)管必須滿足ISO 7637-2 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的主要規(guī)定,能夠耐受電源軌上產(chǎn)生的劇烈的高低電能瞬變事件,在某些情況下伴隨很高的dv/dt電壓上升速率。

1.ISO 7637-2 Pulse 1標(biāo)準(zhǔn)

Pulse 1 標(biāo)準(zhǔn)描述了當(dāng)電源連接斷開(kāi)時(shí),在與感性負(fù)載并聯(lián)的電子器件上觀察到的負(fù)電壓瞬變,如圖 6 所示。

Parameter

Value

Unit

UA

13.5

V

US

-100

V

td

2

ms

tr

1 (+0/-0.5)

μs

t1

≥ 0.5

s

t2

200

ms

t3

< ? 100

μs

Ri

10

?

Duration

5000

pulses

6.png

6. ISO 7637-2 Pulse 1 測(cè)試的電壓瞬變波形和參數(shù)。

圖 7 所示的測(cè)試結(jié)果證明,STL325N4LF8AG 符合 ISO 7637-2 Pulse 1標(biāo)準(zhǔn)要求:

7.png

7. STL325N4LF8AG ISO 7637-2 Pulse 1測(cè)試的測(cè)量波形

(右圖是放大圖)。

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)證明,STL325N4LF8AG 通過(guò)了 ISO 7637-2 脈沖 1 測(cè)試,沒(méi)有發(fā)生任何失效或主要額定參數(shù)降低現(xiàn)象。

2.ISO 7637-2 Pulse 2°標(biāo)準(zhǔn)

Pulse 2a標(biāo)準(zhǔn)描述了當(dāng)與被測(cè)電子器件并聯(lián)的電路電流中斷時(shí)可能出現(xiàn)的正電壓尖峰,如圖 8 所示:

Parameter

Value

Unit

UP

13.5 ± 5%

V

US

+100 ± 5%

V

td

50 ± 10%

μs

tr

1 ± 10%

μs

t1

0.5 ± 10%

s

Ri

10 ± 10%

?

Duration

1 ± 10%

h

8.png

8. STL325N4LF8AG ISO 7637-2 Pulse 2a測(cè)試的電壓瞬變波形和參數(shù)。

圖 9 所示的測(cè)試結(jié)果證明,STL325N4LF8AG 符合 ISO 7637-2 Pulse 2a標(biāo)準(zhǔn)要求:

9.png

9. STL325N4LF8AG ISO 7637-2 Pulse 2a測(cè)試的測(cè)量波形

(右圖是放大圖)。

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)證明,STL325N4LF8AG 通過(guò)了 ISO 7637-2 脈沖2a測(cè)試,沒(méi)有發(fā)生任何失效或主要額定參數(shù)降低現(xiàn)象。

3.ISO 7637-2 Pulses 3a 3b標(biāo)準(zhǔn)

Pulses 3a 和 3b定義了受線束分布電容和電感的影響,在開(kāi)關(guān)過(guò)程可能出現(xiàn)的負(fù)電壓尖峰,如圖 11 和圖12 所示:

10.png

10. ISO 7637-2 pulse 3a 測(cè)試的電壓瞬變。

11.png

11. ISO 7637-2 pulse 3b測(cè)試的電壓瞬變。

表2列出了各項(xiàng)參數(shù)的測(cè)量值:

Parameter參數(shù)

Pulse 3a

Value數(shù)值

Pulse 3b

Value數(shù)值

Unit單位

UP

13.5

3.5 ± 0.5

V

US

-150

+100 ± 5 %

V

td

100

50 ± 45

ns

tr

5

5 ± 1.5

ns

t1

100

100 ± 20 %

μs

t4

10

10 ± 20 %

ms

t5

90

90 ± 20 %

ms

Ri

50

50 ± 20 %

?

Duration時(shí)長(zhǎng)

1

h

表 2. ISO 7637-2 pulses 3a和 3b測(cè)試的電壓瞬態(tài)參數(shù)。

圖 12 和 13是STL325N4LF8AG的ISO 7637-2 pulse 3a 和 pulse 3b測(cè)試相關(guān)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù):

12.png

圖 12. STL325N4LF8AG的 ISO 7637-2 pulse 3a測(cè)試測(cè)量波形

(右圖是放大

13.png

13. STL325N4LF8AG ISO 7637-2 pulse 3b測(cè)試的測(cè)量波形

(右圖是放大

STL325N4LF8AG的pulse 3a和3b測(cè)試結(jié)果令人滿意。

4. ISO 7637-2 脈沖 5a 5b(負(fù)載突降)

Pulses 5a 和5b是對(duì)負(fù)載突降瞬變電壓的模擬測(cè)試。負(fù)載突降是指在交流發(fā)電機(jī)產(chǎn)生充電電流的期間,放電電池?cái)嚅_(kāi)連接,同時(shí)其他負(fù)載仍連接交流發(fā)電機(jī)的情況,如圖 14 和15 所示:

spacer.gif

14.png

14. ISO 7637-2 pulse 5a測(cè)試的電壓瞬變

spacer.gif

15.png

15. ISO 7637-2 pulse 5b測(cè)試的電壓瞬變

表3列出了12V 系統(tǒng)的測(cè)試參數(shù)值:

Parameter

Pulse 5a

Value

Pulse 5b

Value

Unit

US

65 to 87

65 to 87

V

US*

35.2

V

td

40 to 400

40 to 400

ms

tr

5 to 10

5 to 10

ms

Ri

0.5 to 4

0.5 to 4

?

3. ISO 7637-2 pulses 5a 5b 測(cè)試的電壓瞬態(tài)參數(shù)。

圖 17和圖18所示是STL325N4LF8AG 的 ISO 7637-2 pulse 5a 和pulse 5b 測(cè)試的測(cè)量波形:

16.png

圖 16. STL325N4LF8AG的ISO 7637-2 pulse 5a測(cè)試的測(cè)量波形。

17.png

圖 17. STL325N4LF8AG的ISO 7637-2 pulse 5 b測(cè)試的測(cè)量波形

因此,STL325N4LF8AG 也可以為系統(tǒng)提供負(fù)載突降保護(hù)。

結(jié)論

STL325N4LF8AG采用意法半導(dǎo)體新開(kāi)發(fā)的STripFET F8制造技術(shù),為應(yīng)對(duì)eFuse電子保險(xiǎn)應(yīng)用的所有相關(guān)電壓應(yīng)力狀況而專門設(shè)計(jì),在電源關(guān)閉和開(kāi)通狀態(tài),能夠承受相關(guān)的電壓應(yīng)力。此外,該MOSFET還通過(guò)了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) ISO 7637-2規(guī)定的12V/24V汽車電池系統(tǒng)導(dǎo)通瞬變測(cè)試。同級(jí)一流的性能使 STL325N4LF8AG 成為在惡劣的汽車應(yīng)用中設(shè)計(jì)更安全的配電系統(tǒng)的理想選擇。


聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • MOSFET
    +關(guān)注

    關(guān)注

    147

    文章

    7156

    瀏覽量

    213147
  • 意法半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    31

    文章

    3126

    瀏覽量

    108593
  • 功率開(kāi)關(guān)管

    關(guān)注

    1

    文章

    32

    瀏覽量

    10719
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    規(guī)MOSFET技術(shù)確保功率開(kāi)關(guān)的解決方案

    電流功率開(kāi)關(guān)是一個(gè)串聯(lián)到主電源軌并由邏輯電路控制的低電阻MOSFET晶體,集成了各種保護(hù)、
    發(fā)表于 02-10 15:01 ?973次閱讀

    電源可靠性的設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)分享

    td即為死區(qū)時(shí)間。圖 2 6、電源的軟啟動(dòng)電源的軟啟動(dòng)對(duì)降低場(chǎng)效應(yīng)和輸出二極的尖峰電壓和尖峰電流有很大幫助,從而降低了其電壓應(yīng)力和電流應(yīng)力。但是對(duì)于LLC諧振電源來(lái)說(shuō),軟啟動(dòng)對(duì)電源
    發(fā)表于 06-08 15:51

    GaN可靠性的測(cè)試

    qualification recipe)即可。由于長(zhǎng)期的業(yè)界經(jīng)驗(yàn)和可靠性模型的驗(yàn)證,人們現(xiàn)在可以接受將基于標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試用于硅材料的做法,不過(guò)也有例外的情況。功率金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體
    發(fā)表于 09-10 14:48

    開(kāi)關(guān)電源設(shè)計(jì)的可靠性研究

    、密封技術(shù)技術(shù)。  2、開(kāi)關(guān)電源電氣可靠性工程設(shè)計(jì)技術(shù)  對(duì)于功率因數(shù)校正
    發(fā)表于 09-25 18:10

    提高開(kāi)關(guān)電源可靠性的技巧

    技術(shù)開(kāi)關(guān)電源電氣可靠性工程設(shè)計(jì)技術(shù) 對(duì)于功率因數(shù)校正技術(shù)具體是指由于
    發(fā)表于 10-09 14:11

    提高PCB設(shè)備可靠性技術(shù)措施

      提高PCB設(shè)備可靠性技術(shù)措施:方案選擇、電路設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、元器件選用、制作工藝等多方面著手,具體措施如下:  (1)簡(jiǎn)化方案設(shè)計(jì)。  方案設(shè)計(jì)時(shí),在確保設(shè)備滿足技術(shù)
    發(fā)表于 11-23 16:50

    SiC-MOSFET可靠性

    問(wèn)題。(※在SBD和MOSFET的第一象限工作中不會(huì)發(fā)生這類問(wèn)題)ROHM通過(guò)開(kāi)發(fā)不會(huì)擴(kuò)大堆垛層錯(cuò)的獨(dú)特工藝,成功地確保了體二極通電的可靠性。在1200V 80Ω的第二代SiC
    發(fā)表于 11-30 11:30

    高品質(zhì)開(kāi)關(guān)電源的可靠性設(shè)計(jì)技巧

    電子產(chǎn)品的質(zhì)量是技術(shù)性可靠性兩方面的綜合。電源作為一個(gè)電子系統(tǒng)中重要的部件,其可靠性決定了整個(gè)系統(tǒng)的可靠性開(kāi)關(guān)電源由于體積小,效率高而在
    發(fā)表于 11-30 17:20

    SiC MOSFET:經(jīng)濟(jì)高效且可靠的高功率解決方案

    家公司已經(jīng)建立了SiC技術(shù)作為其功率器件生產(chǎn)的基礎(chǔ)。此外,幾家領(lǐng)先的功率模塊和功率逆變器制造商已為其未來(lái)基于SiC的產(chǎn)品的路線圖奠定了基礎(chǔ)。碳化硅(SiC)
    發(fā)表于 07-30 15:15

    如何提高微波功率晶體可靠性

    什么是微波功率晶體?如何提高微波功率晶體可靠性
    發(fā)表于 04-06 09:46

    提高PCB設(shè)備可靠性技術(shù)措施

    提高PCB設(shè)備可靠性技術(shù)措施:方案選擇、電路設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、元器件選用、制作工藝等多方面著手,具體措施如下: (1)簡(jiǎn)化方案設(shè)計(jì)。 方案設(shè)計(jì)時(shí),在確保設(shè)備滿足技術(shù)、性
    發(fā)表于 11-22 06:29

    規(guī)MOSFET技術(shù)確保功率開(kāi)關(guān)可靠性強(qiáng)電流處理能力

    電流功率開(kāi)關(guān)是一個(gè)串聯(lián)到主電源軌并由邏輯電路控制的低電阻MOSFET晶體,集成了各種保護(hù)、
    的頭像 發(fā)表于 02-10 15:04 ?973次閱讀

    國(guó)產(chǎn)SIC MOSFET功率器件推出1200V大電流MOSFET獲得規(guī)認(rèn)證

    2022年11月,上海瞻芯電子開(kāi)發(fā)的1200V 17mΩ 的碳化硅(SiC) MOSFET通過(guò)了規(guī)級(jí)可靠性認(rèn)證(AEC-Q101),該產(chǎn)品為TO247-4封裝,最大
    的頭像 發(fā)表于 03-22 16:47 ?2656次閱讀
    國(guó)產(chǎn)SIC <b class='flag-5'>MOSFET</b><b class='flag-5'>功率</b>器件推出1200V大<b class='flag-5'>電流</b><b class='flag-5'>MOSFET</b>獲得<b class='flag-5'>車</b><b class='flag-5'>規(guī)</b>認(rèn)證

    規(guī)級(jí)功率器件可靠性測(cè)試難點(diǎn)及應(yīng)用場(chǎng)景

    規(guī)級(jí)功率器件未來(lái)發(fā)展趨勢(shì) 材料方面: SiC和GaN是必然趨勢(shì),GaAs在細(xì)分領(lǐng)域有可能 ●封裝方面:高功率密度、高可靠性和定制化
    發(fā)表于 07-04 10:48 ?782次閱讀
    <b class='flag-5'>車</b><b class='flag-5'>規(guī)</b>級(jí)<b class='flag-5'>功率</b>器件<b class='flag-5'>可靠性</b>測(cè)試難點(diǎn)及應(yīng)用場(chǎng)景

    規(guī)MOSFET技術(shù)確保功率開(kāi)關(guān)可靠性強(qiáng)電流處理能力

    當(dāng)今時(shí)代,出行生態(tài)系統(tǒng)對(duì)汽車設(shè)計(jì)提出了持續(xù)的新挑戰(zhàn),尤其對(duì)電子解決方案的規(guī)模,安全以及可靠性等都提出了全新的需求。另外,由于汽車電控單元(ECU)增加了互聯(lián)和云計(jì)算功能,因此必須開(kāi)發(fā)新的解決方案來(lái)
    的頭像 發(fā)表于 08-22 08:28 ?828次閱讀
    <b class='flag-5'>車</b><b class='flag-5'>規(guī)</b><b class='flag-5'>MOSFET</b><b class='flag-5'>技術(shù)</b><b class='flag-5'>確保</b><b class='flag-5'>功率</b><b class='flag-5'>開(kāi)關(guān)</b><b class='flag-5'>管</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>和<b class='flag-5'>強(qiáng)電流</b><b class='flag-5'>處理</b><b class='flag-5'>能力</b>
    主站蜘蛛池模板: 国产精品99久久久久久AV| 亚在线观看免费视频入口| voyeurhit农村夫妻偷拍| 小黄飞二人转| 人与人特黄一级| 久久精品天天中文字幕| 高清bblxx手机在线观看| 有人在线观看的视频吗免费| 日韩精品亚洲专区在线影院 | 中国人泡妞www免费| 日日噜噜夜夜狠狠视频| 蜜桃传媒视频| 九九热这里有精品| 国产日韩亚洲专区无码| 大香伊人中文字幕精品| 97午夜理论片影院在线播放| 夜夜澡人人爽人人喊_欧美| 天天插天天射天天干| 色www永久免费| 三叶草未满十八岁| 两性午夜色视频免费网站| 国产精品人妻系列21P| 2023极品少妇XXXO露脸| 天天拍拍国产在线视频| 欧美尤物射精集锦| 免费精品国偷自产在线在线| 花蝴蝶在线观看免费中文版高清| 粗好大用力好深快点漫画| 9277在线观看资源| 又爽又黄又粗又大免费视频 | a级销魂美女| 最新精品国产| 最近2018年手机中文字幕| 亚洲伊人久久综合影院2021| 学生小泬无遮挡女HD| 乳欲性高清在线| 色www永久免费| 鸭子玩富婆流白浆视频| 亚洲 欧美 国产 综合不卡| 无码免费视频AAAAAA片草莓| 同房交换4p好爽|