準確，可重復的IV / CV測量 - 當精確模型和數據變得關鍵時

最佳決策取決于最佳數據。

對于幾乎所有的器件類型和半導體技術， DC參數測量貫穿于半導體產品開發和生產的每個階段。它在高級材料研究，工藝特性，器件特性和建模，設計調試，工藝監控和生產晶圓測試發揮著關鍵作用。

精確且可重復的直流參數測量（IV，CV，脈沖和高功率）可降低不確定性。可靠的結果可加速產品認證并生成更精確的模型和設計工具包，從而使設計師能夠更快地向市場提供更具競爭力的產品。

我們以此為目標重新定義了分析測試系統 - 為在片測試提供全新的電氣環境。通過消除可能破壞測試結果的環境因素，探針臺對于測量儀器確實變得“隱形”。自從1991年第一臺MicroChamber探針臺問世以來，FormFactor的Cascade探針臺系統產品始終具有相同的使命 – 獲得最佳數據以做出最佳決策，使客戶獲得成功

最佳決策取決于最佳數據。對于幾乎所有的器件類型和半導體技術， DC參數測量貫穿于半導體產品開發和生產的每個階段。它在高級材料研究，工藝特性，器件特性和建模，設計調試，工藝監控和生產晶圓測試發揮著關鍵作用。

精確且可重復的直流參數測量（IV，CV，脈沖和高功率）可降低不確定性。可靠的結果可加速產品認證并生成更精確的模型和設計工具包，從而使設計師能夠更快地向市場提供更具競爭力的產品。

我們以此為目標重新定義了分析測試系統 - 為在片測試提供全新的電氣環境。通過消除可能破壞測試結果的環境因素，探針臺對于測量儀器確實變得“隱形”。自從1991年第一臺MicroChamber探針臺問世以來，FormFactor的Cascade探針臺系統產品始終具有相同的使命 – 獲得最佳數據以做出最佳決策，使客戶獲得成功

測試完整性面臨各方面的威脅

大量因素可能會破壞直流電性測試。由于外部環境的影響，電噪聲可能出現在數據中 - 例如，來自蜂窩網絡，無線電/電視塔和附近電子設備的電磁干擾和射頻干擾，以及溫度和振動等物理因素。

測試系統內部的因素也會影響結果 - 例如，設計不良的信號路徑產生的漏電流，電阻或熱電壓偏移，材料能量存儲以及來自于基本的探針臺系統組件的電噪聲，如電源，平臺電機，溫控系統和電腦。

如果管理不當，這些因素會導致數據偏移和整個樣本集的統計分布增加，從而嚴重降低電性能。糟糕的數據是昂貴的 - 重新測試的時間，額外的建模周期，延遲的產品發布以及性能不佳的產品。

測試完整性面臨各方面的威脅

高質量數據不會因意外事故而發生

FormFactor經驗豐富的設計團隊一再提高電性測試的性能標準。不斷的創新，與我們尊貴的客戶一起精心的研究，開發了大量的高效率的技術套件：EMI / RFI和光屏蔽，電噪聲濾波，信號保護，單點接地，噪聲去耦，接觸電阻降低，電容和電感管理等等。所有這些技術在寬泛的溫度范圍和全自動操作中都被證明是成功的，其中的挑戰呈指數級增長。

對電性測試完整性的細致關注是FormFactor分析探針臺系統的獨特之處，使客戶的成功與數據完整性相結合。

FormFactor引領行業數據完整性

經過成千上萬的客戶數十年的嚴格應用實踐，這些工具得到了驗證，使得FormFactor成為分析探針臺系統的全球市場份額領導者。其他廠商可能只是聲稱測量性能，但是FormFactor可以證實它。請先了解這些技術FormFactor的全球演示中心。

FormFactor提供完整的生態系統，用于收集高質量的在片電性測試數據 - 帶有探針臺，載物臺，探針和電纜的完整解決方案。

DCP-HTR低噪聲高溫探針

低噪音FemtoGuard三軸高低溫載物臺

Takumi DC參數小間距探針卡

全新面世 - 全套解決方案

經驗豐富的銷售，應用和設計工程師隨時準備與您一起應對最新的測試挑戰。無論是在手動，常溫探針臺上測試單個樣品，還是使用全自動多溫度工具管理大批量工程測試，FormFactor都可以快速提供當今快節奏和苛刻的商業環境所需的完整性數據。