芯片測試座又稱:IC Socket 、 IC 測試座、IC插座。
測試插座的主要起著一個連接導(dǎo)通的作用,用于集成電路應(yīng)用功能驗證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器,可以讓芯片的更換測試更方便,不用一直重復(fù)焊接和取下芯片,從而減少IC與PCB的損傷,以及達到快速高效的測試效果。
也許聽起來比較復(fù)雜,簡而言之它就是一個符合芯片測試要求的精密轉(zhuǎn)接頭。
今天凱智通小編就帶大家一起了解下,這個小小的轉(zhuǎn)接頭到底精密在哪里?
我們將測試插座拆解開來,會發(fā)現(xiàn)它大致五個部分組成。
第一部分:芯片和芯片測試座引腳接觸的部分;
第二部分:接觸介質(zhì)部分的結(jié)構(gòu);
第三部分:引腳引出部分;
第四部分:測試座的外部固定結(jié)構(gòu);
第五部分:材料部分,接觸介質(zhì)和外部結(jié)構(gòu)的材料符合此款芯片的測試要求。
測試探針,是半導(dǎo)體測試中,最常見且十分重要的冶具。
探針結(jié)構(gòu)也是采用鈹銅,根據(jù)實際的測試要求表面鍍層,一般應(yīng)用于BGA,QFN等,探針直上直下的結(jié)構(gòu),能在原有測試主板的結(jié)構(gòu)上進行機械結(jié)構(gòu)的組合,在測試芯片的同時,還原測試版的原有功能。
主要用于手機等電子產(chǎn)品中,起連接作用。探針有錫球測試:指測試帶有完整錫球的IC芯片,采用爪頭探針,直接與錫球接觸;無錫球測試:指測試沒有錫球的Ic芯片,采用尖頭探針,直接與 PAD 接觸;
凱智通測試探針
探針的內(nèi)部具有彈性結(jié)構(gòu),其針頭的仿形使其匹配不同的需求,能夠增加接觸面與接觸穩(wěn)定性,從而降低接觸阻抗,輔助測試更好地進行。
隨著我國半導(dǎo)體事業(yè)的發(fā)展,國產(chǎn)探針需求逐年遞增,探針行業(yè)處于高速發(fā)展階段!
(凱智通BGA387-1.0手動探針測試座)
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